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奧林巴斯徠卡顯微鏡產(chǎn)品介紹

來源: 發(fā)布時間:2022-01-08

    支持標(biāo)準(zhǔn):ISO、GOST、ASTM、DIN、JIS、GB/T評估石墨結(jié)核狀態(tài)軟件可用于評估石墨結(jié)核狀態(tài)及鑄鐵試樣含量(結(jié)核狀和蠕蟲狀)??蓪κ?jié)點的形態(tài)、分布和尺寸進行分類。支持標(biāo)準(zhǔn):ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T對高純度鋼中的非金屬雜質(zhì)進行評級使用在試樣上差區(qū)域捕獲的圖像或手動定位處的雜質(zhì)對非金屬雜質(zhì)進行分類。支持標(biāo)準(zhǔn):ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI對比試樣圖像及參考圖像輕松對比活動或靜止圖像與自動縮放參考圖像。該解決方案包括符合各種標(biāo)準(zhǔn)的參考圖像。該解決方案支持多種模式,包括活動重疊顯示及并排對比。還可以單獨購買其它參考圖像。支持標(biāo)準(zhǔn):ISO、EN、ASTM、DIN、SEP強調(diào)用戶舒適度的設(shè)計顯微鏡的人體工學(xué)設(shè)計使得用戶的工作體驗更佳舒適,以進行更有效的檢查。當(dāng)與OLYMPUSstream軟件配合使用時,操作員可以輕松獲取不同試樣的圖像,進行各種分析,并生成專業(yè)報告。維持舒適的姿勢觀察大、重試樣如試樣重達5kg,需要將磨光表面放置在鏡臺上,就可以輕松進行檢查。輕松切換觀察方法顯微鏡支持明視野、暗視野、鑒別干涉對比(DIC)以及簡單的偏振光觀察。使用操縱桿在明視野和暗視野之間快速切換。增加DIC需要增加一個滑塊。徠卡顯微鏡,請選擇上海予羅檢測科技有限公司,讓您滿意,歡迎新老客戶來電!奧林巴斯徠卡顯微鏡產(chǎn)品介紹

    更快速進行金屬部件質(zhì)量檢測的全新奧林巴斯GX53倒置金相顯微鏡升級版奧林巴斯Stream圖像分析軟件專為觀察和檢測金屬部件而設(shè)計的新型奧林巴斯GX53倒置金相顯微鏡采用具有超長使用壽命和低功耗的LED光源。為了提升觀察和報告功能,GX53顯微鏡還配有版本的奧林巴斯Stream圖像分析軟件()。倒置金相顯微鏡能夠從下方觀察樣品,可讓用戶不必調(diào)整樣品表面朝向即可檢測較厚或較重的樣品。該功能讓GX53顯微鏡成為觀察汽車及其他金屬部件微觀結(jié)構(gòu)的實用工具。GX53具有幫助檢測人員更快完成任務(wù)的先進功能:觀察細(xì)致入微:MIX觀察可實現(xiàn)微觀結(jié)構(gòu)及其他表面特征的清晰成像編碼硬件:保存觀察設(shè)置,實現(xiàn)更快的檢測和更高的生產(chǎn)率。逼真圖像:采用具有均一色溫的LED照明方式MIX觀察:讓難以觀察的部位無可遁形作為較早采用MIX觀察技術(shù)的GX系列產(chǎn)品,GX53顯微鏡能夠獲得非常清晰的表面結(jié)構(gòu)圖像。MIX技術(shù)將暗場與其他觀察方法(如明場、熒光或偏光)結(jié)合使用,可獲得獨有的觀察圖像。MIX觀察能夠讓用戶觀察使用傳統(tǒng)顯微鏡難以觀察的樣品。暗場觀察所用的環(huán)形LED照明設(shè)備的定向暗場功能可在特定時間內(nèi)照明一個或多個象限。這樣可以減少樣品光暈,對于顯示表面紋理非常有用。同時。奧林巴斯徠卡顯微鏡產(chǎn)品介紹徠卡顯微鏡,請選擇上海予羅檢測科技有限公司,讓您滿意,歡迎您的來電!

    先進的分析工具。GX53顯微鏡的各種觀察性能提供清晰的圖像,所以用戶可對試樣進行可靠的缺陷檢測。OLYMPUS圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集選項為用戶評估試樣和記錄檢驗結(jié)果提供了更多的選擇。不可見變?yōu)榭梢姡夯旌霞夹g(shù)通過將暗視野及其它觀察方法如明視野或偏光結(jié)合起來,混合技術(shù)可以生成獨特的觀察圖像?;旌霞夹g(shù)可使用戶觀察到使用傳統(tǒng)顯微鏡難以看到的試樣,甚至展示出試樣表面上的更小高度差。用于暗視野觀察的圓形LED照明器有一個定向暗視野功能,可以在給定時間內(nèi)照明一個或多個象限。這就減少了試樣的暈光,并有助于將其表面紋理可視化。印刷電路板的橫截面(明視場)基片層和通孔不可見。(暗視場)軌跡不可見。(明視野+暗視野)所有元件得到清晰展示。輕松創(chuàng)建全景影像:即時MIA采用多圖像對準(zhǔn)(MIA),用戶可以通過移動手動鏡臺上的XY把手來快速、簡單地將圖像拼接到一起—可選電動鏡臺。OLYMPUS圖像分析軟件使用模式識別來生成全景影像,適合于滲碳和金屬流動情況。t螺栓的金屬流動創(chuàng)建全景對焦圖像:EFIOLYMPUS流軟件的擴展聚焦成像(EFI)功能捕獲到圖像的試樣高度超出了聚焦深度。EFI將這些圖像疊到一起,創(chuàng)建出試樣的單一全焦圖像。

    奧林巴斯Stream軟件——針對材料科學(xué)優(yōu)化材料檢查、測量與分析是滿足工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及內(nèi)部操作流程的必備要求。GX53顯微鏡和奧林巴斯Stream軟件可為滿足各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的金相分析方法提供支持。用戶通過分布操作指導(dǎo)能夠輕松快捷完成樣品分析。顆粒分析——技術(shù)和測量解決方案探測目標(biāo)以及測量尺寸分布是數(shù)碼成像重要的應(yīng)用之一。奧林巴斯Stream軟件的計數(shù)和測量解決方案利用高級閾值法實現(xiàn)目標(biāo)與背景的可靠分離??墒褂贸^50種不同的參數(shù)對樣品進行測量或評級,包括形狀、大小、位置和像素特性等。人性化關(guān)注用戶舒適度的設(shè)計GX53倒置金相顯微鏡的人體工程學(xué)設(shè)計有助于用戶在工作時保持舒適,從而提高檢測工作效率。在與奧林巴斯Stream軟件配合使用時,操作員可輕松捕捉各種樣品圖像,進行多種分析并生成專業(yè)報告。GX53倒置金相顯微鏡技術(shù)規(guī)格GX53光學(xué)系統(tǒng)UIS2光學(xué)系統(tǒng)(無限遠(yuǎn)校正系統(tǒng))顯微鏡機架反射光照明通過反射鏡單元進行手動明場/暗場選擇帶有居能的手動場光闌/光圈開關(guān)光源:白光LED(帶有光強度管理器)12伏,100瓦鹵素?zé)?100瓦汞燈/光纖觀測模式:明場、暗場、微分干涉(DIC)1、簡易偏光1、MIX觀察。上海予羅檢測科技有限公司是一家專業(yè)提供徠卡顯微鏡的公司,有想法的不要錯過哦!

    EFI將這些圖像疊加在一起以創(chuàng)建樣本的單個全焦點圖像。即使在分析具有不平坦表面的橫截面樣品時,EFI也會創(chuàng)建完全聚焦的圖像。EFI可與手動或機動Z軸配合使用,并創(chuàng)建高度圖以輕松顯示結(jié)構(gòu)。樹脂部件完全集中的圖像使用HDR捕捉明亮和黑暗的區(qū)域使用高級圖像處理,高動態(tài)范圍(HDR)可調(diào)整圖像內(nèi)亮度的差異,以減少眩光。它還有助于提高低對比度圖像的對比度??捎糜谟^察電子設(shè)備中的微小結(jié)構(gòu)并識別金屬晶界。金板鉻擴散涂層OLYMPUSStream軟件-針對材料科學(xué)進行了優(yōu)化材料檢查,測量和分析需要符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)以及內(nèi)部操作程序。奧林巴斯倒置顯微鏡GX53和OLYMPUSStream軟件一起支持符合不同工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的冶金分析方法。通過循序漸進的操作指導(dǎo),用戶可以快速方便地分析樣品。粒子分析-計數(shù)和測量解決方案檢測物體和測量尺寸分布是數(shù)字成像中重要的應(yīng)用之一。OLYMPUSStream軟件的計數(shù)和測量解決方案使用的閾值方法可靠地將物體(如顆粒和劃痕)從背景中分離出來。超過50種不同的物體測量和分類參數(shù)可用,包括形狀,大小,位置和像素屬性。微觀結(jié)構(gòu)中的晶粒尺寸用戶可以測量晶粒尺寸,并分析鋁,鐵素體和奧氏體等鋼晶體結(jié)構(gòu)以及其他金屬的顯微組織。支持的標(biāo)準(zhǔn):ISO,GOST,ASTM,DIN。上海予羅檢測科技有限公司致力于提供徠卡顯微鏡,歡迎新老客戶來電!奧林巴斯徠卡顯微鏡產(chǎn)品介紹

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    提供可靠的光學(xué)性能。差的波陣面好的波陣面(UIS2)一致的色溫:度白光LED照明奧林巴斯倒置金相顯微鏡GX53采用度白光LED光源進行反射和透射照明。無論強度如何,LED都能保持一致的色溫,以獲得可靠的圖像質(zhì)量和色彩再現(xiàn)。LED系統(tǒng)提供高效,長壽命的照明,非常適合材料科學(xué)應(yīng)用。完全清晰的圖像:圖像陰影校正OLYMPUSStream軟件具有陰影校正功能,可減輕圖像角落中的陰影。當(dāng)與強度閾值設(shè)置一起使用時,陰影校正提供更精確的分析。精確測量:自動校準(zhǔn)與數(shù)字顯微鏡類似,使用OLYMPUSStream軟件時可進行自動校準(zhǔn)。自動校準(zhǔn)有助于消除人為變化對校準(zhǔn)過程的影響,從而實現(xiàn)更可靠的測量。該軟件根據(jù)多個測量點的平均值自動計算正確的校準(zhǔn),大限度地減少差異并保持更高的一致性。應(yīng)用反射光顯微鏡橫跨一系列應(yīng)用和行業(yè)。以下只是使用不同觀察方法可以實現(xiàn)的幾個例子。明場是一種常見的觀察方法,通過直接照射來觀察樣品的反射光。暗場用于觀察樣品的散射光或衍射光,因此缺陷顯而易見。檢查員可以識別出即使是微小的劃痕或瑕疵。拋光AlSi樣品明場暗場微分干涉對比(DIC)是一種觀察技術(shù),其中通常在明場中不可檢測的樣本的高度可見為浮雕,類似于具有改善的對比度的3D圖像。奧林巴斯徠卡顯微鏡產(chǎn)品介紹