AOI（automaticallyopticalinspection）是光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)，顧名思義是通過光學(xué)系統(tǒng)成像實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)的一種手段，是眾多自動(dòng)圖像傳感檢測(cè)技術(shù)中的一種檢測(cè)技術(shù)，中心技術(shù)點(diǎn)如何獲得準(zhǔn)確且高質(zhì)量的光學(xué)圖像并加工處理。AOI檢測(cè)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生的背景是電子元件集成度與精細(xì)化程度高，檢測(cè)速度與效率更高，檢測(cè)零缺陷的發(fā)展需求。AOI檢測(cè)的比較大優(yōu)點(diǎn)是節(jié)省人力，降低成本，提高生產(chǎn)效率，統(tǒng)一檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和排除人為因素干擾，保證了檢測(cè)結(jié)果的穩(wěn)定性，可重復(fù)性和準(zhǔn)確性，及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良，確保出貨質(zhì)量。在人工智能技術(shù)與大數(shù)據(jù)發(fā)展進(jìn)步的，AOI檢測(cè)不僅只是一部檢測(cè)設(shè)備，對(duì)大量不良結(jié)果進(jìn)行分類和統(tǒng)計(jì)，可以發(fā)現(xiàn)不良發(fā)生的原因，在工藝改善和生產(chǎn)良率提升中也正逐步發(fā)揮著更重要的作用，因此，可以預(yù)期未來AOI檢測(cè)技術(shù)將在半導(dǎo)體與電子電路檢測(cè)中將會(huì)發(fā)揮越來越重要的作用。采用高分辨率工業(yè)相機(jī)和智能圖像分析，檢測(cè)電子電路板上插件元器件多、錯(cuò)、漏、反等缺陷。上海插件AOI

爐后皮帶線模式:支持，且可以多機(jī)種共線生產(chǎn)；支持NGbuffer對(duì)接；支持多工位語音播報(bào)、自定義語音播報(bào)內(nèi)容；通訊方式：支持標(biāo)準(zhǔn)接口、定制接口；追溯:可實(shí)時(shí)輸出。支持按條碼、二維碼、機(jī)型、時(shí)間等維度追溯；條碼識(shí)別:支持識(shí)別一維碼（128碼）,二維碼（QR/DM碼）；畫面顯示:1、主圖畫面動(dòng)態(tài)與靜態(tài)結(jié)合，便于員工觀察；2、根據(jù)底板顏色可以自由選擇器件框顏色，適應(yīng)各種顏色底板；學(xué)習(xí):1、支持系統(tǒng)學(xué)習(xí)訓(xùn)練，學(xué)習(xí)越多效果越好；2、支持本地學(xué)習(xí)；福建遠(yuǎn)程操控AOI生產(chǎn)AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)就是可以取代以前SMT爐前，而且可以比人眼更精確的判斷出SMT的打件組裝缺點(diǎn)。

光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD（chargeCouplingdiode）和CMOS（complementarymetaloxidesemiconductor）兩種。因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同，工作原理如下圖所示，CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)街虚g模數(shù)轉(zhuǎn)換器。這樣的結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)很難集成很多的感光單元，制造成本高且功耗大；而CMOS采用無機(jī)半導(dǎo)體加工工藝，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路，每個(gè)像素都可以被定位，而無需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì)，對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多，價(jià)格和功耗比CCD光電轉(zhuǎn)化器也低，但其缺點(diǎn)是半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會(huì)有一些問題，同時(shí)，為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū)域。芯片表面上的光敏區(qū)域部分（定義為填充因子）小于CCD芯片。從理論上講，這個(gè)原因?qū)е驴梢允占膱D像信息光子數(shù)會(huì)有所減少，所以，CMOS光電轉(zhuǎn)化元件一般需要搭配高亮度光源，噪音也比較大。

當(dāng)前電子產(chǎn)品日漸向著小型化趨勢(shì)發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品元器件的微型化要求也越來越高，微型器件的組裝和檢測(cè)難以只通過人工完成，由此產(chǎn)生越來越多的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備需求。與此同時(shí)，自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備還能夠健身制造成本、提升產(chǎn)品質(zhì)量，AOI檢測(cè)設(shè)備代替人工的進(jìn)程發(fā)展較快。在此背景下，中國自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)逐步發(fā)展起來。從AOI檢測(cè)設(shè)備來看，目前AOI檢測(cè)設(shè)備是SMT加工廠必備的設(shè)備，平均一條SMT生產(chǎn)線至少需要2-3臺(tái)AOI檢測(cè)設(shè)備，但我國AOI檢測(cè)設(shè)備的滲透率較低，只為50%左右。生產(chǎn)廠家只需要提調(diào)試好供的攝像設(shè)備通過網(wǎng)絡(luò)端對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)，通常檢測(cè)效果能夠代替實(shí)地檢測(cè)的效果。

AIVS-D系列爐前插件AOI特點(diǎn)簡(jiǎn)介●采用聲音提示，彈窗對(duì)比圖，主圖突出顯示不良紅框等多種提醒，符合人體工學(xué)●一聽，二看，三聚焦，便于員工聽到異常提醒后直接觀察，使用彈窗顯示不良器件對(duì)比圖●深度學(xué)習(xí)算法，海量實(shí)際場(chǎng)景數(shù)據(jù)訓(xùn)練；低誤報(bào)，支持6鐘混板檢查?！馪CB二維碼，支持MES對(duì)接●實(shí)現(xiàn)自動(dòng)編程，只需5分鐘●生產(chǎn)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)圖表顯示，可視化管理，檢測(cè)數(shù)據(jù)便捷導(dǎo)出。AIVS-D系列爐前AOI規(guī)格參數(shù)光源:八側(cè)面多角度高亮條形光源相機(jī)：標(biāo)配2000萬CCD全彩工業(yè)面陣相機(jī)（可選配1200萬/2500萬/2900萬）FOV：400*300mm可檢PCBA尺寸：寬度400mm，長(zhǎng)度不限；可選配寬度750mm，長(zhǎng)度不限CPU：inteli59600KF；GPU：NVIDIA獨(dú)立顯卡顯存：8G/6G內(nèi)存/硬盤存儲(chǔ)：16GDDR4/2T操作系統(tǒng)：：22寸/。相關(guān)值大于或等于臨界相關(guān)值的為正常圖像，為異常圖像本社導(dǎo)入的AOI設(shè)備采用歸一化的彩色相關(guān)算法。山東不需要設(shè)置參數(shù)的AOI供應(yīng)

一般都將離線AOI檢測(cè)設(shè)備設(shè)置在生產(chǎn)線的中段，在這個(gè)位置，設(shè)備可以產(chǎn)生的過程控制信息。上海插件AOI

模板匹配就是先設(shè)定已知模板，已知模板是AOI檢測(cè)中沒有缺陷的實(shí)物影像或較小重復(fù)單元影像，通常情況下PCBAOI檢測(cè)中以實(shí)物影像為已知模板，F(xiàn)PD AOI檢測(cè)中則是較小重復(fù)單元。將采集到的圖像與模板影像進(jìn)行重合比對(duì)，然后平移到下一個(gè)單元進(jìn)行同樣比對(duì)，出現(xiàn)灰階有差異的部分就被懷疑為缺陷，這里我們給灰階差異設(shè)定一個(gè)閾值，當(dāng)灰階差超過設(shè)定閾值后，就被判定為真正的缺陷。從細(xì)節(jié)上講，閾值的設(shè)定過于嚴(yán)格出現(xiàn)誤判的概率就會(huì)增加，而閾值設(shè)定過于寬松漏檢出的概率就會(huì)增加，因此，被檢測(cè)物體的特征提取可以提高比對(duì)的對(duì)位精度，進(jìn)而對(duì)檢測(cè)結(jié)果起到了決定性的作用。上海插件AOI

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