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AOI是AutomatedOpticalInspection的縮寫,中文翻譯是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。AOI本身是一種技術(shù),但目前大多指的是AOI設(shè)備,即自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備。在國(guó)外AOI設(shè)備已經(jīng)有一定的歷史,AOl技術(shù)的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括PCB、FPD、半導(dǎo)體、光伏等多個(gè)行業(yè),AOI設(shè)備多是在半導(dǎo)體和面板檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用,導(dǎo)致目前AOI已經(jīng)被默認(rèn)為半導(dǎo)體和面板自動(dòng)化檢測(cè)的代名詞,而且更多強(qiáng)調(diào)的是貼裝、焊錫等表面缺陷的檢測(cè)。隨著技術(shù)的發(fā)展,已經(jīng)出現(xiàn)了3D-AOI產(chǎn)品。當(dāng)然,針對(duì)其他行業(yè)中的應(yīng)用,如紡織品、金屬等產(chǎn)品的表面檢測(cè),我們也可以這些檢測(cè)設(shè)備為AOI設(shè)備,只不過目前其他行業(yè)的應(yīng)用暫時(shí)沒有這么廣泛應(yīng)用,這種共識(shí)還沒有達(dá)成。 要選擇一臺(tái)適合自己AOI產(chǎn)品,我們首先要先了解AOI的基本架構(gòu)和組成。深圳什么是AOI檢測(cè)設(shè)備
AOI技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種AOI檢測(cè)方法,其可降低現(xiàn)場(chǎng)操作人員誤判的幾率,提高產(chǎn)品質(zhì)量。為達(dá)上述目的,一種AOI檢測(cè)方法,其通過一AOI檢測(cè)設(shè)備執(zhí)行,用于檢測(cè)待測(cè)PCBA板卡,其包括以下步驟:a.啟動(dòng)一AOI檢測(cè)程序,對(duì)該待測(cè)PCBA板卡上的元件進(jìn)行檢測(cè)獲得一檢測(cè)數(shù)據(jù),;b.判斷該檢測(cè)數(shù)據(jù)是否超過一預(yù)先設(shè)置的閾值,如果是則執(zhí)行步驟c,如果否則執(zhí)行步驟f;c.判斷該待測(cè)PCBA板卡的檢測(cè)數(shù)據(jù)是否大于一預(yù)先設(shè)置的第二閾值,如果是則執(zhí)行步驟d,如果否則執(zhí)行步驟e;d.判定該待測(cè)PCBA板卡為不合格產(chǎn)品并存儲(chǔ)該待測(cè)PCBA板卡的檢測(cè)結(jié)果;e.根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)操作人員的輸入信息,儲(chǔ)存該待測(cè)PCBA板卡的檢測(cè)結(jié)果;以及f.判定該待測(cè)PCBA板卡為合格產(chǎn)品并存儲(chǔ)該待測(cè)PCBA板卡的檢測(cè)結(jié)果。 廣州3dAOI檢測(cè)AOI檢測(cè)主要應(yīng)用領(lǐng)域包括PCB、半導(dǎo)體和FPD面板。
當(dāng)前電子產(chǎn)品日漸向著小型化趨勢(shì)發(fā)展,對(duì)產(chǎn)品元器件的微型化要求也越來(lái)越高,微型器件的組裝和檢測(cè)難以只通過人工完成,由此產(chǎn)生越來(lái)越多的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備需求。與此同時(shí),自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備還能夠健身制造成本、提升產(chǎn)品質(zhì)量,AOI檢測(cè)設(shè)備代替人工的進(jìn)程發(fā)展較快。在此背景下,中國(guó)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)逐步發(fā)展起來(lái)。從AOI檢測(cè)設(shè)備來(lái)看,目前AOI檢測(cè)設(shè)備是SMT加工廠必備的設(shè)備,平均一條SMT生產(chǎn)線至少需要2-3臺(tái)AOI檢測(cè)設(shè)備,但我國(guó)AOI檢測(cè)設(shè)備的滲透率較低,只為50%左右。
AOI的圖像采集系統(tǒng)主要包括光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng),照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分。因?yàn)閿z影得到的圖像被用于與模板做對(duì)比,所以獲取的圖像信息準(zhǔn)確性對(duì)于檢測(cè)結(jié)果非常重要,可以想象一下,如果圖像采集器看不清楚或看不到被檢測(cè)物體的特征點(diǎn),那么也就無(wú)法談到準(zhǔn)確的檢出。下面我們對(duì)光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng),照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分逐一分析介紹。首先,光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線,光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,傳輸形成電壓模擬信號(hào)。二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同,依次輸出模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的。 AOI系統(tǒng)是集精密機(jī)械、自動(dòng)控制、光學(xué)圖像處理、軟件系統(tǒng)等多學(xué)科的自動(dòng)化設(shè)備。
AOI的工作方式與SMT加工當(dāng)中SPI和印刷機(jī)中使用的視覺系統(tǒng)相同,通常使用設(shè)計(jì)規(guī)則檢查(DRC)和模式識(shí)別。DRC方法根據(jù)一些給定的規(guī)則檢查電路圖形(所有的線應(yīng)該在焊點(diǎn)處結(jié)束,所有的引線應(yīng)該至少,所有的引線應(yīng)該至少,等等)。該方法能從算法上保證待測(cè)電路的正確性,且具有制作簡(jiǎn)單、算法邏輯簡(jiǎn)單、處理速度快、程序編輯量小、數(shù)據(jù)占用空間小等特點(diǎn),因此被很多人采用。但該方法確定邊界的能力較差。圖形識(shí)別方法是將存儲(chǔ)的數(shù)字圖像與實(shí)際圖像進(jìn)行比較。根據(jù)完整的印刷電路板或根據(jù)模型建立的檢驗(yàn)文件進(jìn)行檢驗(yàn),或根據(jù)計(jì)算機(jī)軸輔助設(shè)計(jì)中編制的檢驗(yàn)程序進(jìn)行檢驗(yàn)。其準(zhǔn)確性取決于所采用的發(fā)牌率和檢驗(yàn)程序,一般與電子測(cè)試系統(tǒng)相同,但采集的數(shù)據(jù)量大,對(duì)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)處理要求較高。模式識(shí)別方法利用實(shí)際設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)代替DRC中已建立的設(shè)計(jì)原則,具有明顯的優(yōu)勢(shì)。為了支持和實(shí)現(xiàn)AOI檢測(cè)的上述四個(gè)功能,AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)也就包括工作平臺(tái)。自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備AOI
AOI通常是把貼片機(jī)編程完成后自動(dòng)生成的TXT輔助文本文件轉(zhuǎn)換成所需格式的文件。深圳什么是AOI檢測(cè)設(shè)備
在ICT上,相對(duì)這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴(yán)重性成比例。輕微的少錫很少導(dǎo)致缺陷,而嚴(yán)重的情況,如根本無(wú)錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點(diǎn)開路的一個(gè)原因。盡管如此,決定哪里放置AOI需要認(rèn)識(shí)到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計(jì)劃內(nèi)。這個(gè)位置的檢查較直接地支持過程跟蹤和特征化。這個(gè)階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會(huì)產(chǎn)生?;亓骱盖?。檢查是在元件貼放在板上錫膏內(nèi)之后和PCB送入回流爐之前完成的。這是一個(gè)典型地放置檢查機(jī)器的位置,因?yàn)檫@里可發(fā)現(xiàn)來(lái)自錫膏印刷以及機(jī)器貼放的大多數(shù)缺陷。在這個(gè)位置產(chǎn)生的定量的過程控制信息,提供高速片機(jī)和密間距元件貼裝設(shè)備校準(zhǔn)的信息。這個(gè)信息可用來(lái)修改元件貼放或表明貼片機(jī)需要校準(zhǔn)。這個(gè)位置的檢查滿足過程跟蹤的目標(biāo)?;亓骱负蟆T赟MT工藝過程的之后步驟進(jìn)行檢查,這是AOI較普及的選擇,因?yàn)檫@個(gè)位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯(cuò)誤?;亓骱负髾z查提供高度的安全性,因?yàn)樗R(shí)別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯(cuò)誤。 深圳什么是AOI檢測(cè)設(shè)備
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