led的發(fā)光方式與傳統(tǒng)光源截然不同。它是利用半導(dǎo)體PN節(jié)中的電子與空穴的復(fù)合來發(fā)光。發(fā)光方式的不同決定了LED與傳統(tǒng)光源有著本質(zhì)的區(qū)別，也決定了它有自己獨特之處。 1.恒定濕熱測試：燈具在經(jīng)過沖擊測試后，不能發(fā)生漏電、點燈不亮等電氣異?，F(xiàn)象。測試方法：按led燈具的額定輸入電壓接通電源點燈;通過繼電器控制燈具在常溫常壓下進行沖擊測試，測試設(shè)置為：點燈30s、熄燈30s,循環(huán)10000次。 燈具在經(jīng)過沖擊測試后，不能發(fā)生漏電、點燈不亮等電氣異常現(xiàn)象。 2.通過調(diào)壓器將led燈具的輸入電壓調(diào)為較大額定輸入電壓的1.1倍;將燈具按以上方法在上下、左右、前后三個方向上分別測試30分鐘。將led燈具放置在一個室溫為25℃的環(huán)境下;溫度循環(huán)測試：通過調(diào)壓器將led燈具的輸入電壓調(diào)為較小額定輸入電壓的0.9倍有人了解地震測試嗎？軌道交通地震實驗室

反復(fù)短路測試 在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路，模塊應(yīng)能實現(xiàn)保護或回縮，反復(fù)多次短路，故障排除后，模塊應(yīng)該能自動恢復(fù)正常運行。 A、空載到短路：在輸入電壓全范圍內(nèi)，將模塊從空載到短路，模塊應(yīng)能正常實現(xiàn)輸出限流或回縮，短路排除后，模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊反復(fù)從空載到短路不斷的工作，短路時間為1s，放開時間為1s，持續(xù)時間為2小時。這以后，短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。 B、滿載到短路：在輸入電壓全范圍內(nèi)，將模塊從滿載到短路，模塊應(yīng)能正常實現(xiàn)輸出限流或回縮，短路排除后，模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊從滿載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時。然后短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。 C、短路開機：將模塊的輸出先短路，再上市電，再模塊的輸入電壓范圍內(nèi)上電，模塊應(yīng)能實現(xiàn)正常的限流或回縮，短路故障排除后，模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作，重復(fù)上述試驗10次后，讓短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。單軸地震中心環(huán)境地震檢測都包含哪些內(nèi)容?

    地震是破壞力的自然災(zāi)害之一，會造成毀滅性損失。地震除了會損壞建筑物和結(jié)構(gòu)，被毀壞的設(shè)備也可以直接或間接地造成危害。為了保障公眾安全，產(chǎn)品的抗震安全措施需要在一定時間內(nèi)，一定水平的地震作用下通過抗震鑒定或抗震驗證。地震模擬振動臺是對進行抗震性能試驗的工具，地震臺將地震波按照理論進行縮放，同時產(chǎn)品也進行縮放后安裝于臺面之上，通過振動臺實現(xiàn)地震波再現(xiàn)，對產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)和性能進行地震模擬。地震模擬實驗中的問題：在地震模擬實驗中，會采用加速度計和應(yīng)變傳感器來測量模型結(jié)構(gòu)的動力響應(yīng)。以地震臺對建筑模型進行抗震實驗是現(xiàn)有條件下獲得*接近于真實數(shù)據(jù)的實驗手段。但是也有一些缺點需要建造盡可能還原真實建筑物理特性的模型進行實驗，試驗后，模型會出現(xiàn)破損甚至毀壞。單次振動實驗的成本高昂，花費很大的人力、物力與時間。因此，在振動實驗中獲取盡可能多的數(shù)據(jù)成果是建筑模型振動實驗的關(guān)鍵所在。實驗時，會在模型結(jié)構(gòu)上設(shè)計安裝很多個應(yīng)力計、加速度計等傳感器，這些附著設(shè)備在地震實驗中可能會對實驗產(chǎn)品產(chǎn)生直接作用，造成物理影響，干擾數(shù)據(jù)精確度。隨著地震波的強度增加，為保護成本高昂的傳感器，當(dāng)模型處于瀕臨毀壞的時刻，會主動中斷實驗。

地震一般會分為天然地震和人工地震兩大類。天然地震的震源深度大多在10km度范圍內(nèi) ,查明地殼上部斷裂與深部斷裂的關(guān)系 ,對地震危險性評價意義重大。根據(jù)發(fā)生原因的不同，天然地震主要有三種類型：構(gòu)造地、火山地震、陷落地震。構(gòu)造地震，由于地下深處巖層錯動、破裂所造成的地震。這類地震發(fā)生的次數(shù)很多，破壞力也非常大，約占全球地震數(shù)的90%以上?；鹕降卣穑捎诨鹕阶饔?，如巖漿活動、氣體等引起的振動。火山地震一般影響范圍較小，發(fā)生得也較少，約占全球地震數(shù)的7%。陷落地震，由于地層陷落引起的地震，例如，當(dāng)?shù)叵氯芏椿虻V山采空區(qū)支撐不住頂部的壓力時，就會塌陷，引起振動。這類地震更少，大約不到全球地震數(shù)的3%，引起的破壞也較小。地震試驗的目的以及分類都有那些?

地震試驗有多種分類方法. 1. 如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗; 2. 以試驗項目劃分,可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗; 3. 若按試驗?zāi)康膩韯澐?則可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗; 4. 若按試驗性質(zhì)來劃分,也可分為破壞性試驗和非破壞性試驗兩大類。 5. 但通常慣用的分類法,是把它歸納為五大類:A. 環(huán)境試驗B. 壽命試驗C. 篩選試驗D. 現(xiàn)場使用試驗E. 鑒定試驗 1. 環(huán)境試驗是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境（振動、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等）條件下的適應(yīng)能力,是評價產(chǎn)品地震的重要試驗方法之一。安全性測試與地震測試有什么區(qū)別？NB/T 20337-2015地震測試

什么叫地震測試和環(huán)境測試？軌道交通地震實驗室

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護等級（外殼防護試驗）： 外殼防護等級（IP代碼）：GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005 18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合 19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 軌道交通地震實驗室

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