GaN材料系列具有低的熱產(chǎn)生率和高的擊穿電場，是研制高溫大功率電子器件和高頻微波器件的重要材料。目前，隨著MBE技術(shù)在GaN材料應(yīng)用中的進(jìn)展和關(guān)鍵薄膜生長技術(shù)的突破，成功地生長出了GaN多種異質(zhì)結(jié)構(gòu)。用GaN材料制備出了金屬場效應(yīng)晶體管（MESFET）、異質(zhì)結(jié)場效應(yīng)晶體管(HFET)、調(diào)制摻雜場效應(yīng)晶體管（MODFET）等新型器件。調(diào)制摻雜的AlGaN/GaN結(jié)構(gòu)具有高的電子遷移率(2000cm2/v·s)、高的飽和速度(1×107cm/s)、較低的介電常數(shù)，是制作微波器件的優(yōu)先材料；GaN較寬的禁帶寬度(3.4eV)及藍(lán)寶石等材料作襯底，散熱性能好，有利于器件在大功率條件下工作。晶圓制造是指在硅晶圓上制作電路與電子元件如電晶體、電容體、邏輯閘等，整個(gè)流程工藝復(fù)雜。MEMS半導(dǎo)體器件加工設(shè)備

清洗是半導(dǎo)體制程的重要環(huán)節(jié)，也是影響半導(dǎo)體器件良率的較重要的因素之一。清洗是晶圓加工制造過程中的重要一環(huán)，為了較大限度降低雜質(zhì)對(duì)芯片良率的影響，在實(shí)際生產(chǎn)過程中不只需要確保高效的單次清洗，還需要在幾乎所有的制程前后都進(jìn)行頻繁的清洗，在單晶硅片制造、光刻、刻蝕、沉積等關(guān)鍵制程工藝中均為必要環(huán)節(jié)。1.硅片制造過程中，經(jīng)過拋光處理后的硅片，需要通過清洗過程來確保其表面的平整度和性能，進(jìn)而提升在后續(xù)工藝中的良率。2.晶圓制造過程中，晶圓經(jīng)過光刻、刻蝕、離子注入、去膠、成膜以及機(jī)械拋光等關(guān)鍵工序前后都需要進(jìn)行清洗，以去除晶圓沾染的化學(xué)雜質(zhì)，減少缺陷率，提高良率。3.芯片封裝過程中，芯片需要根據(jù)封裝工藝進(jìn)行TSV(硅穿孔)清洗、UBM/RDL(凸點(diǎn)底層金屬/薄膜再分布技術(shù))清洗以及健合清洗等。MEMS半導(dǎo)體器件加工設(shè)備MEMS器件以硅為主要材料。

刻蝕是半導(dǎo)體制造工藝以及微納制造工藝中的重要步驟?？涛g狹義理解就是光刻腐蝕，先通過光刻將光刻膠進(jìn)行光刻曝光處理，然后通過其它方式實(shí)現(xiàn)腐蝕處理掉所需除去的部分?？涛g是用化學(xué)或物理方法有選擇地從硅片表面去除不需要的材料的過程，其基本目標(biāo)是在涂膠的硅片上正確地復(fù)制掩模圖形。隨著微制造工藝的發(fā)展，廣義上來講，刻蝕成了通過溶液、反應(yīng)離子或其它機(jī)械方式來剝離、去除材料的一種統(tǒng)稱，成為微加工制造的一種普適叫法。

微機(jī)械是指利用半導(dǎo)體技術(shù)（特別是平板印制術(shù)，蝕刻技術(shù)）設(shè)計(jì)和制造微米領(lǐng)域的三維力學(xué)系統(tǒng)，以及微米尺度的力學(xué)元件的技術(shù)。它開辟了制造集成到硅片上的微米傳感器和微米電機(jī)的嶄新可能性。微機(jī)械加工技術(shù)的迅速發(fā)展導(dǎo)致了微執(zhí)行器的誕生。人們?cè)趯?shí)踐中認(rèn)識(shí)到，硅材料不只有優(yōu)異的電學(xué)和光學(xué)性質(zhì)。微機(jī)械加工技術(shù)的出現(xiàn)，使得制作硅微機(jī)械部件成為可能。MEMS器件芯片制造與封裝統(tǒng)一考慮。MEMS器件與集成電路芯片的主要不同在于：MEMS器件芯片一般都有活動(dòng)部件，比較脆弱，在封裝前不利于運(yùn)輸。所以，MEMS器件芯片制造與封裝應(yīng)統(tǒng)一考慮。封裝技術(shù)是MEMS的一個(gè)重要研究領(lǐng)域，幾乎每次MEMS國際會(huì)議都對(duì)封裝技術(shù)進(jìn)行專題討論。光刻的優(yōu)點(diǎn)是它可以精確地控制形成圖形的形狀、大小，此外它可以同時(shí)在整個(gè)芯片表面產(chǎn)生外形輪廓。

光刻過程：首先，通過金屬化過程，在硅襯底上布置一層只數(shù)納米厚的金屬層。然后在這層金屬上覆上一層光刻膠。這層光阻劑在曝光（一般是紫外線）后可以被特定溶液（顯影液）溶解。使特定的光波穿過光掩膜照射在光刻膠上，可以對(duì)光刻膠進(jìn)行選擇性照射（曝光）。然后使用前面提到的顯影液，溶解掉被照射的區(qū)域，這樣，光掩模上的圖形就呈現(xiàn)在光刻膠上。通常還將通過烘干措施，改善剩余部分光刻膠的一些性質(zhì)。上述步驟完成后，就可以對(duì)襯底進(jìn)行選擇性的刻蝕或離子注入過程，未被溶解的光刻膠將保護(hù)襯底在這些過程中不被改變?？涛g或離子注入完成后，將進(jìn)行光刻的較后一步，即將光刻膠去除，以方便進(jìn)行半導(dǎo)體器件制造的其他步驟。通常，半導(dǎo)體器件制造整個(gè)過程中，會(huì)進(jìn)行很多次光刻流程。生產(chǎn)復(fù)雜集成電路的工藝過程中可能需要進(jìn)行多達(dá)50步光刻，而生產(chǎn)薄膜所需的光刻次數(shù)會(huì)少一些。氧化是將硅片放置于氧氣或水汽等氧化劑的氛圍中進(jìn)行高溫?zé)崽幚恚诠杵砻姘l(fā)生化學(xué)反應(yīng)形成氧化膜的過程。MEMS半導(dǎo)體器件加工設(shè)備

表面硅MEMS加工技術(shù)利用硅平面上不同材料的順序淀積和選擇腐蝕來形成各種微結(jié)構(gòu)。MEMS半導(dǎo)體器件加工設(shè)備

半導(dǎo)體設(shè)備泛指用于生產(chǎn)各類半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的生產(chǎn)設(shè)備，屬于半導(dǎo)體行業(yè)產(chǎn)業(yè)鏈的關(guān)鍵支撐環(huán)節(jié)。半導(dǎo)體設(shè)備是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的技術(shù)先導(dǎo)者，芯片設(shè)計(jì)、晶圓制造和封裝測試等需在設(shè)備技術(shù)允許的范圍內(nèi)設(shè)計(jì)和制造，設(shè)備的技術(shù)進(jìn)步又反過來推動(dòng)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。以半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中技術(shù)難度較高、附加值較大、工藝較為復(fù)雜的集成電路為例，應(yīng)用于集成電路領(lǐng)域的設(shè)備通常可分為前道工藝設(shè)備（晶圓制造）和后道工藝設(shè)備（封裝測試）兩大類。其中的前道晶圓制造中的七大步驟分別為氧化／擴(kuò)散，光刻，刻蝕，清洗，離子注入，薄膜生長，拋光。每個(gè)步驟用到的半導(dǎo)體設(shè)備具體如下：MEMS半導(dǎo)體器件加工設(shè)備