倒裝芯片的組裝流程要求底部填充膠水需要低黏度能實現(xiàn)快速流動,中低溫下快速固化,并且具有可返修性。底部填充膠不能存在不固化、填充不滿、氣孔等缺陷。一般倒裝芯片的應(yīng)用注定了需要對芯片補(bǔ)強(qiáng),而底部填充膠為保護(hù)元器件起到了必要決定性作用。兼容性測試可以通過切片分析來觀察,也可以將膠水與錫膏混合后固化來快速判斷?;旌虾蟮牡撞刻畛淠z和錫膏按照規(guī)定時間溫度固化后沒有氣泡或不固化情況,就說明沒有兼容性問題。如果不能判定是否完全固化,可以使用差示掃描量熱儀測試是否有反應(yīng)峰來驗證。底部填充膠利用加熱的固化形式,將BGA 底部空隙大面積填滿,從而達(dá)到加固的目的。廣東固定bga的膠價格
快速流動可低溫固化的底部填充膠粘劑,包括中心層貝殼層結(jié)構(gòu)的環(huán)氧樹脂20~50份,固化劑10~30份,潛伏型固化促進(jìn)劑5~15份,填料10~30份,表面活性劑為0.01~1.5份,偶聯(lián)劑1~2份,所述中心層為高溫固化胺基化合物,所述貝殼層為低溫固化環(huán)氧化合物,所述高溫固化胺基化合物的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度高于所述低溫固化環(huán)氧化合物的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度.底部填充膠粘劑具有容易可返修的特點,加熱除膠時可以使用更低溫度,降低對主板和元器件的熱損傷,受熱時更容易從主板和元器件上脫落,從而具有優(yōu)良的可返修效果,返修報廢率低。耐高溫單組份環(huán)氧膠用途底部填充膠常規(guī)定義是一種用化學(xué)膠水對BGA封裝模式的芯片進(jìn)行底部填充。重慶迅速填充固化膠批發(fā)填充膠主要用于有效控制這種翹曲現(xiàn)象,即使芯片變得越來越薄,也是適用的。
底部填充膠起到密封保護(hù)加固作用的前提是膠水已經(jīng)固化,而焊點周圍有錫膏中的助焊劑殘留,如果底部填充膠與殘留的助焊劑不兼容,導(dǎo)致底部填充膠無法有效固化,那么底部填充膠也就起不到相應(yīng)的作用了,因此,底部填充膠與錫膏是否兼容,是底部填充膠選擇與評估時需要重點關(guān)注的項目。將錫膏與底部填充膠按1:3的比例混合,通過DSC(差示掃描量熱儀)測試混合錫膏后的膠水與未混合錫膏膠水熱轉(zhuǎn)變溫度變化的差異,如沒有明顯差異則說明底部填充膠與錫膏兼容。底部填充膠填充,通常實施方法有操作人員的手動填充和機(jī)器的自動填充。
在于基板中的水氣在底部填充膠(underfill)固化時會釋放,從而在固化過程產(chǎn)生底部填充膠(underfill)空洞。這些空洞通常隨機(jī)分布,并具有指形或蛇形的形狀,這種空洞在使用有機(jī)基板的封裝中經(jīng)常會碰到。水氣空洞檢測/消除方法:要測試空洞是否由水氣引起,可將部件在100以上前烘幾小時,然后立刻在部件上施膠。一旦確定水氣是空洞的產(chǎn)生的根本原因,就要進(jìn)行進(jìn)一步試驗來確認(rèn)前烘次數(shù)和溫度,并且確定相關(guān)的存放規(guī)定。一種較好的含水量測量方法是用精確分析天平來追蹤每個部件的重量變化。需要注意的是,與水氣引發(fā)的問題相類似,一些助焊劑沾污產(chǎn)生的問題也可通過前烘工藝來進(jìn)行補(bǔ)救,這兩類問題可以通過試驗很方便地加以區(qū)分。如果部件接觸到濕氣后,若是水氣引發(fā)的問題則會再次出現(xiàn),而是助焊劑沾污所引發(fā)的問題將不再出現(xiàn)。在底部填充膠用于量產(chǎn)之前,需要對填充環(huán)節(jié)的效果進(jìn)行切割研磨試驗,也就是所謂的破壞性試驗。
作為底填膠,一般涉及到耐溫性的需求其實是個別廠家的特殊要求。在SMT組裝段,一般底填膠固化是之后一個需要加熱的步驟了。然而在有些廠里面可能會讓已經(jīng)填好膠固化后的主板再過一次回流爐或波峰焊(可能也是因為需要補(bǔ)貼BGA之外的一些元器件),這個時候?qū)Φ滋钅z的耐溫性就提出了一些考驗,一般底填膠的Tg了點不超過100度的,而去承受260度以上的高溫(已經(jīng)快達(dá)到返修的溫度了),要求的確是很苛刻的。據(jù)國內(nèi)一家手機(jī)廠商用二次回流的方法(回流焊260℃,7~8min)來測試底填膠的耐溫性,測試結(jié)果基本上是全軍覆沒的。這里估計只能使用不可返修的底填才有可能實現(xiàn)了。對底部填充膠而言,重要的可靠性試驗是溫度循環(huán)實驗和跌落可靠性實驗。底部填充膠保護(hù)器件免受濕氣、離子污染物等周圍環(huán)境的影響。鄂州芯片防震膠水廠家
Tg是指底部填充膠從玻璃態(tài)到高彈態(tài)的轉(zhuǎn)變溫度,超過了Tg 的底部填充膠變軟后易于清理。廣東固定bga的膠價格
底部填充膠空洞檢測的方法,主要有以下三種:1.利用玻璃芯片或基板。直觀檢測,提供即時反饋,在于玻璃器件上底部填充膠(underfill)的流動和空洞的形成與實際的器件相比,可能有細(xì)微的偏差。2.超聲成像和制作芯片剖面。超聲聲學(xué)成像是一種強(qiáng)有力的工具,它的空洞尺寸的檢測限制取決于封裝的形式和所使用的儀器。3.將芯片剝離的破壞性試驗。采用截面鋸斷,或?qū)⑿酒蚍庋b從下underfill底部填充膠上剝離的方法,有助于更好地了解空洞的三維形狀和位置,在于它不適用于還未固化的器件。廣東固定bga的膠價格