底部填充膠(underfill)中空洞的去除方法： 在許多底部填充膠(underfill)的應用中，包括從柔性基板上的較小芯片到較大的BGA封裝，底部填充膠(underfill)中出現(xiàn)空洞和氣隙是很普遍的問題。這種在底部填充膠(underfill)部位出現(xiàn)空洞的后果與其封裝設計和使用模式相關，典型的空洞會導致可靠性的下降，本文將探討減少空洞問題的多種策略。 如果已經(jīng)確定了空洞產生的位置，你可能就已經(jīng)有了檢測空洞的方法，不同的方法對問題的解決都是有用的。其中較常用的三種檢測空洞的方法分別是：利用玻璃芯片或基板，超聲成像和制作芯片剖面或將芯片剝離的破壞性試驗。 采用玻璃芯片或基板會十分有效，這種方法能對測試結果提供即時反饋，并且能有助于理解何種流動類型能使下底部填充膠(underfill)的流動速率達到較優(yōu)化，而采用不同顏色的底部填充膠(underfill)材料也可幫助實現(xiàn)流動直觀化。這種方法的缺點在于玻璃器件上底部填充膠(underfill)的流動和空洞的形成行與實際的器件相比可能有些細微的偏差。底部填充膠是一種低黏度、低溫固化的毛細管流動底部下填料。湖北晶片封裝周邊黑膠批發(fā)

底部填充膠氣泡和空洞測試：這個其實是用來評估填充效果的，前面在寫填充效果時有提到相關影響因素的。就目前市場面常見粘度的底填膠，膠體內藏氣泡的可能性比較小，據(jù)我們之前的經(jīng)驗，像粘度為3500cps左右的膠水，從大支分裝到小支后，也只需要通過自然靜置的方式也是可以將氣泡排出的（當然用脫泡機處理一下當然是有備無患的），粘度更低當然就更容易自然排泡了。而在客戶端測試時產生的一些氣泡更多是填充的方式和施膠設備及基材的清潔度導致的。曾經(jīng)有個客戶居然用四邊點膠的方式，這樣必然會將空氣包在芯片底部，填充效果肯定是不行，加之固化時里面包裹的空氣膨脹，嚴重的時候甚至會直接在固化時的膠體上沖出氣孔來。聊城芯片封裝環(huán)氧樹脂膠廠家smt元器件底部填充膠用哪一種好？

一種低溫快速固化底部填充膠及其制備方法：低溫快速固化底部填充膠,其特點是由下述重量配比的原料組成:樹脂40-65份,色料0.5份,固化劑20-25份,促進劑1-6份,偶聯(lián)劑0.1-3份,環(huán)氧活性稀釋劑15-25份;先把樹脂和色膏混合均勻,時間20-40min,溫度20-30℃,然后加入固化劑,促進劑,分三次加入,三輥機混合均勻,溫度20-30℃,在冷卻干燥條件下混合,冷水控制在15℃,混合三遍,混合均勻后加入反應釜中滿真空15min,當樹脂和固化劑混合均勻后加入偶聯(lián)劑,環(huán)氧稀釋劑混合,滿真空30min,即得產品;其固化溫度低,固化速度快,儲存穩(wěn)定性好,制備工藝簡易環(huán)保,成本低,適用范圍廣。

另一個備受關注的創(chuàng)新是預成型底部填充技術，該項技術有望在后道封裝中完全消除底部填充工藝，而在CSP進行板級組裝之前涂覆底部填充材料，或者在晶圓級工藝中涂覆底部填充材料。預成型底部填充在概念上很好，但要實施到當前的產品中，在工藝流程上還有一些挑戰(zhàn)需要面對。 在晶圓級底部填充材料的涂覆中，可以在凸點工藝之前或之后涂覆預成型底部填充材料，但兩種方法都需要非常精確的控制。如果在凸點工藝之前涂覆，必須考慮工藝兼容問題。與之相反，如果在凸點工藝之后涂覆，則要求預成型底部填充材料不會覆蓋或者損壞已完成的凸點。此外還需考慮到晶圓分割過程中底部填充材料的完整性以及一段時間之后產品的穩(wěn)定性，這些在正式使用底部填充材料到產品之前都需要加以衡量。盡管某些材料供應商對預成型底部填充材料的研發(fā)非常超前，但將這一產品投入大規(guī)模應用還有更多的工作要完成。未完全固化的膠水是很難真正全部發(fā)揮應有作用的，尤其是后期測試要求很嚴格的時候。

底部填充膠除起加固作用外，還有防止?jié)駳?、離子遷移的作用，因此絕緣電阻也是底部填充膠需考慮的一個性能。將刻有不同刻度的載玻片疊在PCB板的上方，中間使用50um的墊紙，使載玻片與PCB間留有間隙，在載玻片一端點一定量膠水，測試膠水流動不同長度所需的時間。由于膠水流動性將隨溫度變化而變化，因此，此實驗可在加熱平臺上進行，通過設置不同溫度，測試不同溫度下膠水流動性。將CSP（BGA）包的底部和頂部位置先預熱1分鐘，加熱到200-300°C時，焊料開始融化，現(xiàn)在可以移除邊緣已經(jīng)軟化的底部填充膠，取出BGA。如果不能順利拿出，可以用鑷子輕輕的撬動BGA四周，使其松動，然后取出。底部填充膠理想的狀態(tài)是四邊的膠都均勻爬到芯片邊緣的一半處（芯片上不得有膠）。四川加固填充膠哪家好

PCB板芯片底部填充點膠加工完成后固化前后顏色不一樣，方便檢驗。湖北晶片封裝周邊黑膠批發(fā)

底部填充膠進行外觀檢查比較容易也很直觀，但對于外觀良好的器件，底部填充是否有空洞、裂紋和分層等缺陷，檢測起來就比較復雜困難;圖17B所示為CSP器件填充良好的外觀。不過，對于新型的填充膠水驗證、兼容性實驗或不良品分析，底部填充效果檢測必不可少。對此，有非破壞性檢測和破壞性檢查兩種方法，非破壞性底部填充異常檢測，可以通過自動聲波微成像分析技術。超聲波對于實心材質幾乎是透明的，只有遇到類似于裂縫或空洞異常時，聲波檢測傳感器通過聲學成像系統(tǒng)工具，才能反映出相應的異常狀況，并測量出與芯片底部與填充有關的機械缺陷。這種工具首先確定好區(qū)域單位，然后測量出每個單位區(qū)域內的空洞、分層或裂紋，在聲學性質所占的百分比。資料顯示，空洞與焊點接觸可能導致焊點失效，如果空洞很小又不靠近焊點可認為合格，比如圖17C所示的空洞A是可接受的，而空洞B&C則不可接受。湖北晶片封裝周邊黑膠批發(fā)