一般而言,所謂的T2SLS探測(cè)器都是基于砷化銦(InAs)/銻化鎵(GaSb)材料制作的?InAs/GaSb T2SLS是一個(gè)由InAs和GaSb薄層交替構(gòu)筑的多量子阱交互作用體系,該結(jié)構(gòu)中InAs與GaAs的能帶以II類(lèi)方式對(duì)準(zhǔn)?這種能帶續(xù)接方式可引發(fā)強(qiáng)有力的載流子隧穿現(xiàn)象,使該結(jié)構(gòu)適用于MIR和LWIR探測(cè)?理論預(yù)言在LWIR波段的性能T2SLS探測(cè)器的性能有望超過(guò)QWIP和HgCdTe探測(cè)器,然而在實(shí)驗(yàn)中,T2SLS探測(cè)器的暗電流仍處于較高的水平,遠(yuǎn)遠(yuǎn)達(dá)不到預(yù)期目**24x1024規(guī)模的T2SLS FPA探測(cè)器已研制成功,彰顯了這種探測(cè)器的巨大潛力?與前面幾種探測(cè)器一樣,T2SLS FPA探測(cè)器也是第三代紅外熱像儀系統(tǒng)的成員之一爐內(nèi)**熱像儀可以提供回轉(zhuǎn)窯內(nèi)部溫度信息，對(duì)耐火磚脫落隱患的預(yù)防，生產(chǎn)工藝標(biāo)準(zhǔn)的核定都有極大作用。高溫紅外熱像儀性?xún)r(jià)比

在同一個(gè)溫度，測(cè)溫的紅外波長(zhǎng)越大，發(fā)射率就越小，反之，測(cè)量的波長(zhǎng)越小，發(fā)射率就越大。(注意，這個(gè)規(guī)律只是針對(duì)金屬或鋼鐵來(lái)說(shuō)的，不適合其它材料，其它材料有其它材料的發(fā)射率規(guī)律，比如玻璃則反之)。發(fā)射率表提供的往往是一個(gè)發(fā)射率范圍，你無(wú)法準(zhǔn)確確認(rèn)發(fā)射率的值，也就是發(fā)射率設(shè)置經(jīng)常會(huì)有誤差，而且有時(shí)誤差還特別大而且，**重要的一點(diǎn)就是：除了黑體以外，實(shí)際物體的發(fā)射率值往往在一個(gè)范圍里，而不是一個(gè)固定的值，比如上圖中的哈氏合金在1μm時(shí)，發(fā)射率值是；同樣，鐵、鋼材，也是如此，比如不銹鋼在1μm時(shí)發(fā)射率為，而在8-14μm時(shí)發(fā)射率是。換言之，在這個(gè)范圍里，提供的發(fā)射率表很多都是一個(gè)范圍，而不是一個(gè)確定的值，在這個(gè)范圍里，誰(shuí)也弄不清到底具體發(fā)射率值是多少，所以你如何確切地設(shè)定發(fā)射率呢？又如何確保發(fā)射率沒(méi)有誤差呢？所以，發(fā)射率誤差1%~10%是應(yīng)用紅外測(cè)溫儀、紅外熱像儀中非常常見(jiàn)的、經(jīng)常發(fā)生的。國(guó)產(chǎn)紅外熱像儀哪家便宜紅外熱像儀與普通相機(jī)有何不同？

鋼鐵企業(yè)生產(chǎn)線(xiàn)上設(shè)有各類(lèi)儀表和傳感器，測(cè)量軋鋼過(guò)程各種參數(shù)，并將結(jié)果送軋線(xiàn)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。高精度的軋線(xiàn)測(cè)量?jī)x表和傳感器是基礎(chǔ)自動(dòng)化、過(guò)程自動(dòng)化和管理自動(dòng)化的關(guān)鍵。軋制產(chǎn)品生產(chǎn)中的軋線(xiàn)儀表和傳感器，包括通用的常規(guī)儀表和特殊儀表，前者如加熱爐用儀表、軋線(xiàn)的紅外熱像儀、連續(xù)退火生產(chǎn)線(xiàn)上分析爐內(nèi)還原性氣體的氫氣和一氧化碳分析儀等，后者如測(cè)量冷熱軋帶鋼的厚度計(jì)、寬度計(jì)等。下面對(duì)常見(jiàn)的特殊儀表和特殊傳感器進(jìn)行總結(jié)：

對(duì)于該類(lèi)探測(cè)器,基底由Si變?yōu)镚e時(shí),其探測(cè)波段可從IR延伸到THz,在這里姑且將Si基與Ge基兩類(lèi)放在一起加以闡述?傳統(tǒng)的非本征探測(cè)器是基于被摻雜的Ge或Si作為吸收材料制作而成的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的PC探測(cè)器,主要有Ge:X[X=Hg?Ga?鈹(Be)?鋅(Zn)]?Si:Y[Y=Ga?砷(As)?銦(In)]等類(lèi)型?這類(lèi)探測(cè)器的響應(yīng)范圍取決于雜質(zhì)元素在基底里的離化能量,一般可覆蓋LWIR?VLWIR乃至THz波段,但需要在低溫(<10K)下工作?由于響應(yīng)波段很寬,非本征探測(cè)器被應(yīng)用到了航天領(lǐng)域,然而困境也隨之出現(xiàn):在太空中核輻射對(duì)探測(cè)器響應(yīng)的影響較大,需要減薄探測(cè)器吸收層來(lái)降低影響,但這樣也會(huì)使量子效率降低在線(xiàn)式紅外熱像儀常常用來(lái)與其他監(jiān)控設(shè)備（如我們常見(jiàn)的監(jiān)控?cái)z像頭）聯(lián)動(dòng)，組成大規(guī)模的監(jiān)控組網(wǎng)。

紅外熱像儀光子探測(cè)器的探測(cè)機(jī)理是光電效應(yīng)，依據(jù)工作模式的不同，它又可進(jìn)一步分為光電導(dǎo)(photoconductive,PC)探測(cè)器、光伏(photovoltaic,PV)探測(cè)器、光電子發(fā)射(photoemissive,PE)探測(cè)器、光電磁(photoelectromagnetic,PEM)探測(cè)器和丹倍(Dember)探測(cè)器等子類(lèi)型，其中前兩個(gè)子類(lèi)型探測(cè)器的發(fā)展**強(qiáng)勁、應(yīng)用*****。常見(jiàn)的IR光子探測(cè)器有InGaAs探測(cè)器、InSb探測(cè)器、HgCdTe探測(cè)器、QWIP、QDIP、T2SLS探測(cè)器、鉛鹽探測(cè)器以及非本征探測(cè)器(主要指BIB探測(cè)器)等，不同材料體系工作波長(zhǎng)及響應(yīng)率范圍如下圖所示：紅外熱像儀獲得紅外線(xiàn)熱像圖，這種熱像圖與物體表面的熱分布場(chǎng)相對(duì)應(yīng)。高溫紅外熱像儀性?xún)r(jià)比

紅外熱像儀可以檢測(cè)什么類(lèi)型的物體？高溫紅外熱像儀性?xún)r(jià)比

紅外熱像儀與普通相機(jī)有以下幾個(gè)主要區(qū)別：工作原理：普通相機(jī)通過(guò)捕捉可見(jiàn)光來(lái)形成圖像，而紅外熱像儀則是通過(guò)檢測(cè)物體發(fā)出的紅外輻射來(lái)形成圖像。紅外輻射是物體在熱量分布上的表現(xiàn)，與物體的溫度相關(guān)。感應(yīng)器：普通相機(jī)使用光敏感器（如CCD或CMOS）來(lái)捕捉可見(jiàn)光信號(hào)，而紅外熱像儀使用紅外感應(yīng)器（如微波探測(cè)器或熱電偶）來(lái)捕捉紅外輻射信號(hào)。圖像顯示：普通相機(jī)顯示的是可見(jiàn)光圖像，而紅外熱像儀顯示的是熱圖像，即物體的熱量分布圖。熱圖像通常以不同的顏色或灰度表示不同溫度區(qū)域。應(yīng)用領(lǐng)域：普通相機(jī)主要用于捕捉可見(jiàn)光圖像，適用于大多數(shù)日常攝影和視頻拍攝需求。而紅外熱像儀主要用于檢測(cè)物體的熱量分布，適用于建筑、工業(yè)、醫(yī)療、安防等領(lǐng)域的熱成像應(yīng)用。價(jià)格和復(fù)雜性：由于紅外熱像儀的技術(shù)和應(yīng)用特性，其價(jià)格通常比普通相機(jī)高。此外，紅外熱像儀的操作和解讀熱圖像的技術(shù)要求也相對(duì)較高，需要專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)和經(jīng)驗(yàn)。高溫紅外熱像儀性?xún)r(jià)比