探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)。從功能上來(lái)區(qū)分有：高溫探針臺(tái)，低溫探針臺(tái)，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)?？v觀國(guó)內(nèi)外的自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡／探卡支架、打點(diǎn)器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測(cè)試儀（TESTER）相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺(tái)結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類(lèi)，即：平面電機(jī)型x-y工作臺(tái)（又叫磁性氣浮工作臺(tái)）自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和以采用精密滾珠絲杠副和直線導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)型自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)。由于x-y工作臺(tái)的結(jié)構(gòu)差別很大，所以其使用維護(hù)保養(yǎng)不可一概而論，應(yīng)區(qū)別對(duì)待。探針臺(tái)是半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝等行業(yè)的測(cè)試設(shè)備。江西手動(dòng)探針臺(tái)

為什么要射頻探測(cè)？由于器件小形化及高頻譜的應(yīng)用，電路尺寸不斷縮小，類(lèi)似微帶線及PCB版本Pad的測(cè)試沒(méi)有物理接口，使得儀表本身無(wú)法與待測(cè)物進(jìn)行直接連接，如果人為的焊接射頻接口難免會(huì)引入不確定的誤差，所以射頻探針的使用完美的解決了這個(gè)問(wèn)題。射頻探頭和校準(zhǔn)基板允許工程師進(jìn)行精確、重復(fù)的測(cè)量與校準(zhǔn)。且任何受過(guò)一定訓(xùn)練的工程師都可以進(jìn)行探針臺(tái)的架設(shè)與儀表的校準(zhǔn)，以分鐘為單位進(jìn)行測(cè)量。同樣一個(gè)Pad測(cè)試點(diǎn)，如果通過(guò)探針測(cè)量與通過(guò)焊接SMA接口引出測(cè)量線的方法進(jìn)行測(cè)試對(duì)比會(huì)發(fā)現(xiàn)，探針的精度是高于焊接Cable的精度。黑龍江芯片測(cè)試探針臺(tái)哪家好如果是合格的芯片，打點(diǎn)器不動(dòng)作。

探針臺(tái)將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來(lái)，在進(jìn)入后序工序前予以剔除，極大降低器件的制造成本。探針臺(tái)主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè)、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類(lèi)：驗(yàn)證測(cè)試、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè)。晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)需要使用測(cè)試儀和探針臺(tái)，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接，通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。

磁場(chǎng)探針臺(tái)主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測(cè)試，能夠提供磁場(chǎng)或變溫環(huán)境，并進(jìn)行高精度的直流/射頻測(cè)量。我們生產(chǎn)各類(lèi)磁場(chǎng)探針臺(tái)，穩(wěn)定性強(qiáng)、功能多樣、可升級(jí)擴(kuò)展，適用于各大高校、研究所及半導(dǎo)體行業(yè)的實(shí)驗(yàn)研究和生產(chǎn)。詳細(xì)參數(shù)：二維磁場(chǎng)探針臺(tái)，包含兩組磁鐵，可同時(shí)提供垂直與面內(nèi)磁場(chǎng)；面內(nèi)磁鐵極頭間距可根據(jù)樣品尺寸調(diào)整以獲得大的磁場(chǎng)，兼容性強(qiáng)；大兼容7組探針（4組RF，3組DC同時(shí)測(cè)試使用）；Y軸提供大行程位移裝置，在不移動(dòng)探針情況下快速抽拉更換樣品；配備樣品臺(tái)傾斜微調(diào)旋鈕，確保樣品平面平行于面內(nèi)磁場(chǎng)方向；至多支持7組探針同時(shí)放置：直流探針（3組）+微波探針（4組）；XY軸位移行程±12.5mm，T軸旋轉(zhuǎn)±5°；面內(nèi)磁場(chǎng)單獨(dú)施加時(shí)，磁場(chǎng)垂直分量?jī)?yōu)于0.025%。定子是基礎(chǔ)平臺(tái)，動(dòng)子和定子間有一層氣墊，動(dòng)子浮于氣墊上。

手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域：Failureanalysis集成電路失效分析；Waferlevelreliability晶元可靠性認(rèn)證；Devicecharacterization元器件特性量測(cè)；Processmodeling塑性過(guò)程測(cè)試(材料特性分析)；ICProcessmonitoring制成監(jiān)控；PackagepartprobingIC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試；Flatpanelprobing液晶面板的特性測(cè)試；PCboardprobingPC主板的電性測(cè)試；ESD&TDRtestingESD和TDR測(cè)試；Microwaveprobing微波量測(cè)(高頻)；Solar太陽(yáng)能領(lǐng)域檢測(cè)分析；LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析。上海勤確科技有限公司追求客戶的數(shù)量遠(yuǎn)不是我們的目的。黑龍江芯片測(cè)試探針臺(tái)哪家好

探針臺(tái)測(cè)試時(shí)參數(shù)測(cè)不穩(wěn)，為了不使它氧化，我們平時(shí)必須保護(hù)好探針卡，把它放在卡盒里。江西手動(dòng)探針臺(tái)

在設(shè)備方面，生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試探針的相關(guān)設(shè)備價(jià)格較高，國(guó)內(nèi)廠商沒(méi)有足夠的資金實(shí)力，采購(gòu)日本廠商的設(shè)備。另一方面，對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)備而言，產(chǎn)業(yè)鏈各個(gè)環(huán)節(jié)均會(huì)采購(gòu)定制化的設(shè)備，客戶提出自身需求和配置，上游設(shè)備廠商通過(guò)與大型客戶合作開(kāi)發(fā)，生產(chǎn)出經(jīng)過(guò)優(yōu)化的適合該客戶的設(shè)備。因此，即使國(guó)產(chǎn)探針廠商想采購(gòu)日本設(shè)備廠商的專(zhuān)業(yè)設(shè)備，也只能得到標(biāo)準(zhǔn)化的產(chǎn)品。在原材料方面，國(guó)產(chǎn)材質(zhì)、加工的刀具等也不能達(dá)到生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試探針的要求，同時(shí)日本廠商在半導(dǎo)體上游原材料方面占據(jù)的優(yōu)勢(shì)，其提供給客戶的原材料也是分等級(jí)的，包括A級(jí)、B級(jí)、S級(jí)，需要依客戶的規(guī)模和情況而定。江西手動(dòng)探針臺(tái)