測試是硅光芯片耦合測試系統(tǒng)的主要作用,硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要是用整機模擬一個實際使用的環(huán)境,測試設備在無線環(huán)境下的射頻性能,重點集中在天線附近一塊,即檢測天線與主板之間的匹配性。因為在天線硅光芯片耦合測試系統(tǒng)之前(SMT段)已經做過相應的測試,所以可認為主板在射頻頭之前的部分已經是好的了,剩下的就是RF天線、天線匹配電路部分,所以檢查的重點就是天線效率、性能等項目。通常來說耦合功率低甚至無功率的情況大多與同軸線、KB板和天線之間的裝配接觸是否良好有關。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片的好處:在一個指令周期內可完成一次乘法和一次加法。云南震動硅光芯片耦合測試系統(tǒng)哪里有
在光芯片領域,芯片耦合封裝問題是硅光芯片實用化過程中的關鍵問題,芯片性能的測試也是尤其重要的一個步驟,現有的硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是將光芯片的輸入輸出端光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調架轉軸進行調光,并依靠對輸出光的光功率進行監(jiān)控,再反饋到微調架端進行調試。芯片測試則是將測試設備按照一定的方式串聯(lián)連接在一起,形成一個測試站。具體的,所有的測試設備通過光纖,設備連接線等連接成一個測試站。例如將VOA光芯片的發(fā)射端通過光纖連接到光功率計,就可以測試光芯片的發(fā)端光功率。將光芯片的發(fā)射端通過光線連接到光譜儀,就可以測試光芯片的光譜等。云南震動硅光芯片耦合測試系統(tǒng)哪里有硅光芯片主要由光源、調制器、有源芯片等組成,通常將光器件集成在同一硅基襯底上。
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要工作可以分為四個部分:1、利用開發(fā)出的耦合封裝工藝,對硅光芯片調制器進行耦合封裝并進行性能測試。分析并聯(lián)MZI型硅光芯片調制器的調制特性,針對調制過程,建立數學模型,從數學的角度出發(fā),總結出調制器的直流偏置電壓的快速測試方法。并通過調制器眼圖分析調制器中存在的問題,為后續(xù)研發(fā)提供改進方向。2、針對倒錐型耦合結構,分析在耦合過程中,耦合結構的尺寸對插入損耗,耦合容差的影響,優(yōu)化耦合結構并開發(fā)出行之有效的耦合工藝。3、從波導理論出發(fā),分析了條形波導以及脊型波導的波導模式特性,分析了硅光芯片的良好束光特性。4、理論分析了硅光芯片調制器的載流子色散效應,分析了調制器的基本結構MZI干涉結構,并從光學結構和電學結構兩方面對光調制器進行理論分析與介紹。
此在確認硅光芯片耦合測試系統(tǒng)耦合不過的前提下,可依次排除B殼天線、KB板和同軸線等內部結構的故障進行維修。若以上一一排除,則是主板參數校準的問題,或者說是主板硬件存在故障。耦合天線的種類比較多,有塔式、平板式、套筒式,常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)。為防止外部環(huán)境的電磁干擾搭載屏蔽箱,來提高耦合直通率。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是比較關鍵的,我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性,硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要控制“信號弱”,“易掉話”,“找網慢或不找網”,“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環(huán)境對設備EMC干擾的方法與實際使用環(huán)境存在較大差異,所以“信號類”返修量一直占有較大的比例。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)優(yōu)點:測試精度高。
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)中應用到的硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路,主要由光源、調制器、探測器、無源波導器件等組成,將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點,因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底,所以能集成更多的光器件;在光模塊里面,光芯片的成本非常高,但隨著大規(guī)模生產的實現,硅光芯片的低成本成了巨大優(yōu)勢;硅光芯片的傳輸性能好,因為硅光材料折射率差更大,可以實現高密度的波導和同等面積下更高的傳輸帶寬。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)優(yōu)點:靈活性大。陜西射頻硅光芯片耦合測試系統(tǒng)供應商
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