探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的分類，縱觀國(guó)內(nèi)外的自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡/探卡支架、打點(diǎn)器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測(cè)試儀(TESTER)相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺(tái)結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類，即:以美國(guó)EG公司為表示的平面電機(jī)型x-y工作臺(tái)(又叫磁性氣浮工作臺(tái))自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和以日本及歐洲國(guó)家生產(chǎn)的采用精密滾珠絲杠副和直線導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)型自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)。由于x-y工作臺(tái)的結(jié)構(gòu)差別很大，所以其使用維護(hù)保養(yǎng)不可一概而論，應(yīng)區(qū)別對(duì)待。探針臺(tái)是人類理解宇宙和了解人類自身的一個(gè)重要工具。天津晶圓測(cè)試探針臺(tái)生產(chǎn)商

除探針臺(tái)外，晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)還需要使用測(cè)試儀/機(jī)，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接，通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用，可以對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。 在封裝之前對(duì)單個(gè)芯片進(jìn)行測(cè)試可以將有缺陷的器件從流通中移除，確保只封裝功能器件。探針臺(tái)在整個(gè)研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析中都有很大的用途，工程師需要靈活而精確的工具來(lái)對(duì)設(shè)備的不同區(qū)域進(jìn)行一系列測(cè)試。江西探針臺(tái)定制探針臺(tái)是人類智慧的結(jié)晶和太空探索的橋梁。

x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)，無(wú)論是全自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)還是自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)，x-y向工作臺(tái)都是其較主要的部分。有數(shù)據(jù)表明探針測(cè)試臺(tái)的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺(tái)的故障，而工作臺(tái)故障有許多是對(duì)其維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)或盲目調(diào)整造成的，所以對(duì)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要。本文只對(duì)自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)作一介紹。平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)，平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開，定子是基礎(chǔ)平臺(tái)， 動(dòng)子和定子間有一層氣墊，動(dòng)子浮于氣墊上，而可編程承片臺(tái)則安裝在動(dòng)子之上。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)，由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損，使用壽命長(zhǎng)。

探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。探針臺(tái)普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。據(jù) SEMI 預(yù)測(cè)，2020 年全球的探針臺(tái)市場(chǎng)規(guī)模約為 42.96 億元。由于半導(dǎo)體設(shè)備需求 與半導(dǎo)體芯片出貨量息息相關(guān)，在 5G、物聯(lián)網(wǎng)等因素的催化下，半導(dǎo)體芯片出貨量維持較 高規(guī)模，半導(dǎo)體設(shè)備市場(chǎng)規(guī)模將穩(wěn)步提升，探針臺(tái)市場(chǎng)規(guī)模在 2021、2022 年有望達(dá)到 51.56 億元、59.29 億元。探針臺(tái)的建設(shè)需要尊重自然和秉持可持續(xù)發(fā)展理念。

GBITEST+MPI 半自動(dòng)探針臺(tái)。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗(yàn)證測(cè)試、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè)。晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)需要使用測(cè)試儀和探針臺(tái)，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接，通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。探針臺(tái)的分類探針臺(tái)可以按照使用類型與功能來(lái)劃分，也可以按照操作方式來(lái)劃分成：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)。探針臺(tái)需要高度的保密性和安全措施。江蘇IC探針臺(tái)哪家好

探針臺(tái)是人類探索宇宙、了解自身的一所寶庫(kù)。天津晶圓測(cè)試探針臺(tái)生產(chǎn)商

半自動(dòng)型，chuck尺寸800mm/600mm，X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mm，chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm，可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡，針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆，顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"，可搭配Probe card測(cè)試，適用領(lǐng)域：8寸/6寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品。電動(dòng)型：chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不銹鋼或鍍金），X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程300mm x 300mm，chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm，微調(diào)精度土1u，可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡，針座擺放個(gè)數(shù)8～12顆，顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2“x2”x2“，材質(zhì)：花崗巖臺(tái)面+不銹鋼，可搭配Probe card測(cè)試，適用領(lǐng)域：12寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品。天津晶圓測(cè)試探針臺(tái)生產(chǎn)商

深圳市泰克光電科技有限公司依托可靠的品質(zhì)，旗下品牌TEC-PHO,SHIBUYA,Oh'TEC以高質(zhì)量的服務(wù)獲得廣大受眾的青睞。旗下TEC-PHO,SHIBUYA,Oh'TEC在能源行業(yè)擁有一定的地位，品牌價(jià)值持續(xù)增長(zhǎng)，有望成為行業(yè)中的佼佼者。我們?cè)诎l(fā)展業(yè)務(wù)的同時(shí)，進(jìn)一步推動(dòng)了品牌價(jià)值完善。隨著業(yè)務(wù)能力的增長(zhǎng)，以及品牌價(jià)值的提升，也逐漸形成能源綜合一體化能力。公司坐落于深圳市寶安區(qū)新橋街道象山社區(qū)新玉路84號(hào)B棟3層，業(yè)務(wù)覆蓋于全國(guó)多個(gè)省市和地區(qū)。持續(xù)多年業(yè)務(wù)創(chuàng)收，進(jìn)一步為當(dāng)?shù)亟?jīng)濟(jì)、社會(huì)協(xié)調(diào)發(fā)展做出了貢獻(xiàn)。