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黑龍江芯片測試機(jī)平臺

來源: 發(fā)布時間:2023-06-30

頭一移動機(jī)構(gòu)72固定于機(jī)架10的上頂板上,頭一移動機(jī)構(gòu)72包括兩個頭一移動固定塊721、頭一移動固定底板722、兩個相對設(shè)置的頭一移動導(dǎo)軌723、頭一移動氣缸724。兩個頭一移動固定塊721相對設(shè)置于機(jī)架10的上頂板上,兩個頭一移動導(dǎo)軌723分別固定于兩個頭一移動固定塊721上,頭一移動固定底板722通過滑塊分別與兩個頭一移動導(dǎo)軌723相連。頭一移動氣缸724與頭一移動固定底板722相連,頭一移動氣缸724通過氣缸固定板與機(jī)架10的上頂板相連。芯片測試機(jī)能夠進(jìn)行噪聲測試,測試電路在噪聲環(huán)境中的穩(wěn)定性。黑龍江芯片測試機(jī)平臺

以下以一個具體的例子對中轉(zhuǎn)裝置60的功能進(jìn)行進(jìn)一步說明。例如一個tray盤中較多可以放置50個芯片,自動上料裝置40的每一個tray盤中都裝有50個芯片。移載裝置20吸取自動上料裝置40的tray盤中的芯片到測試裝置30進(jìn)行測試,測試合格的芯片移載至自動下料裝置50的空的tray盤中。當(dāng)出現(xiàn)一個不良品時,該不良品則被移動至不良品放置臺60,當(dāng)自動上料裝置40的一個tray盤中的芯片全部完成測試后,自動下料裝置50的tray盤中只裝了49個測試合格的芯片。此時,移載裝置20則把自動上料裝置40的空的tray盤移載至tray盤中轉(zhuǎn)臺63上,然后移載裝置20從下方的另一個tray盤中吸取芯片進(jìn)行測試,直至把自動下料裝置50的tray盤中裝滿50個芯片,然后把tray盤中轉(zhuǎn)臺63上的空的tray盤移載至自動下料裝置50。上海Prober芯片測試機(jī)價位利用芯片測試機(jī),可以減少制造過程中的失敗率。

x軸移動組件22包括x軸伺服電缸220、x軸拖鏈221,x軸伺服電機(jī)、x軸拖鏈221分別固定于y軸移動底板213上,頭一z軸移動組件23和第二z軸移動組件24均與x軸伺服電機(jī)和x軸拖鏈221相連。頭一z軸移動組件23包括滑臺氣缸230、雙桿氣缸231、吸嘴基板232、氣缸固定座233,吸嘴基板232與x軸移動相連,滑臺氣缸230固定于吸嘴基板232上,氣缸固定座233與滑臺氣缸230相連,雙桿氣缸231固定于氣缸固定座233上。真空吸盤25與雙桿氣缸231相連?;_氣缸230移動時,帶動氣缸固定板相連,氣缸固定座233帶動雙桿氣缸231移動,雙桿氣缸231可驅(qū)動真空吸盤25移動,從而帶動真空吸盤25向上或向下移動。

優(yōu)先選擇地,所述機(jī)架上還設(shè)置有加熱裝置,所述加熱裝置至少包括高溫加熱機(jī)構(gòu),所述高溫加熱機(jī)構(gòu)位于所述測試裝置的上方,所述高溫加熱機(jī)構(gòu)包括高溫加熱頭、頭一移動機(jī)構(gòu)及下壓機(jī)構(gòu),所述下壓機(jī)構(gòu)與所述頭一移動機(jī)構(gòu)相連,所述高溫加熱頭與所述下壓機(jī)構(gòu)相連。優(yōu)先選擇地,所述加熱裝置還包括預(yù)加熱緩存機(jī)構(gòu),所述預(yù)加熱緩存機(jī)構(gòu)位于所述自動上料裝置與所述測試裝置之間,所述預(yù)加熱緩存機(jī)構(gòu)包括預(yù)加熱工作臺,所述預(yù)加熱工作臺上設(shè)有多個預(yù)加熱工位。芯片測試機(jī)可以進(jìn)行測試數(shù)據(jù)的處理、分析和生成。

測試相關(guān)的各種名詞:ATE-----------Automatic Test Equipment,自動化測試設(shè)備,是一個高性能計算機(jī)控制的設(shè)備的集中,可以實現(xiàn)自動化的測試。Tester---------測試機(jī),是由電子系統(tǒng)組成,這些系統(tǒng)產(chǎn)生信號,建立適當(dāng)?shù)臏y試模式,正確地按順序設(shè)置,然后使用它們來驅(qū)動芯片本身,并抓取芯片的輸出反饋,或者進(jìn)行記錄,或者和測試機(jī)中預(yù)期的反饋進(jìn)行比較,從而判斷好品和壞品。Test Program---測試程序,測試機(jī)通過執(zhí)行一組稱為測試程序的指令來控制測試硬件。DUT-----------Device Under Test,等待測試的器件,我們統(tǒng)稱已經(jīng)放在測試系統(tǒng)中,等待測試的器件為DUT。芯片測試機(jī)還可進(jìn)行溫度測試以測試芯片運行的穩(wěn)定性。上海mini LED芯片測試機(jī)廠商

芯片測試機(jī)可以進(jìn)行DC和AC測試,以檢測芯片的電性能。黑龍江芯片測試機(jī)平臺

芯片測試設(shè)備結(jié)果及配件:1. 信號發(fā)生器。信號發(fā)生器是一種用來發(fā)出模擬信號的設(shè)備。信號發(fā)生器通常用于測試芯片的模擬電路。在設(shè)計階段,工程師可以使用信號發(fā)生器生成各種形式的模擬信號來檢測芯片的性能。2. 示波器,示波器能夠顯示電路中隨時間變化的電壓波形。示波器通過連接到芯片的引腳來接收電路中的信號,并將這些信號轉(zhuǎn)換為波形圖。示波器可用于測試芯片的模擬電路和數(shù)字電路。3. 紅外線相機(jī),紅外線相機(jī)可以用來檢測芯片中的溫度變化。紅外線相機(jī)可以幫助測試人員檢測芯片是否存在熱點問題。當(dāng)芯片溫度過高時,紅外線相機(jī)會捕捉到發(fā)光的區(qū)域,幫助測試人員判斷芯片是否工作正常。黑龍江芯片測試機(jī)平臺

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