觸點壓力的定義為探針頂端（測量單位為密耳或微米）施加到接觸區(qū)域的壓力（測量單位為克）。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層，因此產(chǎn)生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅(qū)動器件控制，額外的Z運動（垂直行程）會令其直線上升。此外，探針材質(zhì)、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。從本質(zhì)上來說，隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著探針接觸到焊點金屬的亞表層，這些效應將增加。盡管隨著探針壓力的增強，接觸電阻逐漸降低，終它會達到兩金屬的標稱接觸電阻值。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點。蘇州多功能探針批量定制

鎢探針是晶圓測試過程中的耗材。替換晶圓探測鎢針勢必會在增加生產(chǎn)成本。晶圓探針卡是一種用于晶圓測試的工具，通常由一測試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構成。測試時，將鎢探針的針頭直接接觸被測晶圓的襯墊，從而實現(xiàn)對晶圓的電性能測試。定制針尖：我們綜合運用電化學、機械加工、電鍍工藝，精深加工，確保探針一致性?？筛鶕?jù)要求定制尖部形狀，有鋒利極銳尖、平臺和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級到納米級，針尖曲率半徑Min可控為50納米，包裝**0%逐根檢測。定制涂層：可按客戶要求整體或局部鍍鎳錫金等、壓鑄銅套和不銹鋼套等定制服務。鎮(zhèn)江多功能探針市場價格探針具有的功能：用于測量半導體材料、功能材料。

通常，參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件（DUT），然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為：從測試儀通過電纜束至測試頭，再通過測試頭至探針卡，然后通過探針至芯片上的焊點，到達被測器件，并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結果不盡如人意，問題可能是由測量儀器或軟件所致，也可能是其它原因造成。在檢測虛焊和斷路的時候，探針卡用戶經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個標稱值。信號路徑電阻是從焊點到測試儀的總電阻，即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是，接觸電阻是信號路徑電阻的重要組成部分。

鎢錸探針：我們生產(chǎn)的錸鎢探針、鎢探針和Paliney7合金探針，主要應用于IC、LED、LCD等芯片檢測以及晶圓檢測等行業(yè)。適用于各類Pad表面。采用品質(zhì)穩(wěn)定的原材料，可按照不同客戶的多樣要求，提供國產(chǎn)或日本鎢材料，有純鎢（99.95-99.98%）、錸鎢等原料。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點。合金探針檢測時無傷原器件，已批量應用于LED芯片檢測領域。我們的探針在導電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求。在電子測試中，探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類型。

鎢針可分為純鎢針、稀土鎢針、摻雜鎢針。鎢針主要用于制作強度高氣體放電燈電弧管用電極。由于鎢的特性，使得它比較適合用于tiG焊接以及其它類似這種工作的電極材料。在金屬鎢中添加稀土氧化物來刺激它的電子逸出功，使得鎢電極的焊接性能得以改善：電極的起弧性能更好，弧柱的穩(wěn)定性更高，電極燒損率更小。可根據(jù)要求定制尖部形狀，有鋒利極銳尖、平臺和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級到納米級，針尖曲率半徑Min可控為50納米，包裝前逐根檢測。探針具有導電薄膜的電阻率、面電阻、型號及擊穿電壓等多種功能。鹽城正規(guī)探針推薦廠家

半導體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。蘇州多功能探針批量定制

現(xiàn)有的探針頭，通常采用條狀彈簧片來提供恒定壓力和在金屬探針頭上焊接上一根導電線，在結構上，每根條狀彈簧片是單獨壓在對應的探針上，每根條狀彈簧片需單獨定位，安裝困難，由于條狀彈簧片是用彈簧金屬片單獨切割而成，因而比較難保證每根條狀彈簧片都具有相同的彈力，采用條狀彈簧片因長度長而令探針頭的體積增大，探針頭的異形外殼加工困難。采用耙形彈簧片作為探針恒壓彈性元件，耙形彈簧片用定位環(huán)定位安裝，并選用多種形狀及不同材料探針的探針頭，從而克服現(xiàn)有技術存在的缺點。蘇州多功能探針批量定制

江蘇秉聚金屬制品有限公司主要經(jīng)營范圍是電子元器件，擁有一支專業(yè)技術團隊和良好的市場口碑。秉聚金屬致力于為客戶提供良好的放電鎢針，微創(chuàng)鎢針，探針，一切以用戶需求為中心，深受廣大客戶的歡迎。公司秉持誠信為本的經(jīng)營理念，在電子元器件深耕多年，以技術為先導，以自主產(chǎn)品為重點，發(fā)揮人才優(yōu)勢，打造電子元器件良好品牌。秉聚金屬立足于全國市場，依托強大的研發(fā)實力，融合前沿的技術理念，飛快響應客戶的變化需求。