衡泌提供的探針采用品質(zhì)穩(wěn)定的原材料，含國產(chǎn)或日本鎢材料，有純鎢（99.95-99.98%）、錸鎢等原料。我們綜合運(yùn)用電化學(xué)、機(jī)械加工、電鍍工藝，精深加工，確保探針一致性。具有高硬度、高彈性模量等特點(diǎn)，檢測時無傷原器件，已批量應(yīng)用于LED芯片檢測領(lǐng)域。其導(dǎo)電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機(jī)械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求。通常的稀土添加劑有氧化鈰、氧化鑭、氧化鋯、氧化釔和氧化釷等。鎢是一種金屬，是天然存在在地球上。它也被稱為鎢及有W的它被確定為1781年的新元素的化學(xué)符號，并初次分離為在1783年的金屬。鎢探針主要用于半導(dǎo)體的較終測試階段。芯片測試

目前，納米探針多采用鎢絲制備而成，并且制備方法有多種，如：機(jī)械剪切法、機(jī)械研磨法、場蒸發(fā)方法、離子轟擊方法、電火花加工、電化學(xué)腐蝕法等。電化學(xué)腐蝕法是常用的制備鎢材質(zhì)探針的方法，該方法原理及設(shè)備簡單、容易實(shí)現(xiàn)，可控性較好，成本較低。錸鎢探針指的是采用含錸3%的錸鎢合金絲打造而成的探針。這種探針的針尖尖部經(jīng)過特殊工藝加工而成，針錐精度高，具有強(qiáng)度高和彈性模量，產(chǎn)品更耐磨、更耐腐蝕，表面光滑無傷，光潔度可達(dá)到Ra0.25以下，幾乎為鏡面。根據(jù)微操作系統(tǒng)的使用特點(diǎn)，鎢探針不僅要具有較大的長徑比，還要具有較高的力學(xué)強(qiáng)度，以避免探針在使用過程中彎曲、斷裂。黃石探針聯(lián)系人探針具有的優(yōu)點(diǎn)：具有強(qiáng)度高。

探針卡是一種用于晶圓測試的工具，通常由一測試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構(gòu)成。測試時，將鎢探針的針頭直接接觸被測晶圓的襯墊，從而實(shí)現(xiàn)對晶圓的電性能測試。這種探針的針尖尖部經(jīng)過特殊工藝加工而成，針錐精度高，具有強(qiáng)度高和彈性模量，產(chǎn)品更耐磨、更耐腐蝕，表面光滑無傷，光潔度可達(dá)到Ra0.25以下，幾乎為鏡面。錸鎢探針有不同的針尖類型，即不同的尖部形狀，例如，針尖帶平臺，針尖完全尖以及針尖為圓弧。

使用探針法測量材料電阻率的探針頭結(jié)構(gòu)改進(jìn)，可以用于對半導(dǎo)體材料、功能材料、導(dǎo)電薄膜的電阻率及薄層電阻的測量。電阻率是半導(dǎo)體材料的主要質(zhì)量參數(shù)之一，目前多采用探針法來測量，探針法是將金屬探針壓在材料晶體表面上，所加電流通過外金屬探針與晶體表面接觸點(diǎn)流到材料晶體內(nèi)，通過測量內(nèi)探針之間電位降，從而計(jì)算出電阻率或方塊電阻，為了保證測量的準(zhǔn)確性和重復(fù)性，除了對探針的定位及運(yùn)動機(jī)構(gòu)需要有極高的精度外，探針還要求具有穩(wěn)恒的外加壓力和良好的電接觸。隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動迅速開始。

錸鎢探針有不同的針尖類型，即不同的尖部形狀，例如，針尖帶平臺，針尖完全尖以及針尖為圓??；探針直徑為0.05-1.2mm，長度為15-300mm，尖部為0.08-100μm。錸鎢探針主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、LED、LCD等行業(yè)，應(yīng)用于探針卡、探針臺、芯片測試、晶圓測試和LED芯片測試等領(lǐng)域。半導(dǎo)體探針的設(shè)計(jì)結(jié)合了產(chǎn)品的導(dǎo)電性能和硬質(zhì)度，從而形成了一種可具。電子探針是一種分析儀器，可以用來分析薄片度中礦物微區(qū)的化學(xué)組成。該儀器將高度聚焦電子束聚焦在礦物上，激發(fā)組成礦物元素的特征X射線。用分光器或檢波器測定熒光X射線的波長，并將其強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)樣品對比，或根據(jù)不同強(qiáng)度校正直接計(jì)數(shù)出組分含量。我們的針尖范圍從微米級到納米級，針尖曲率半徑Min可控為50納米。納米錸鎢探針制作

PCB彈簧探針通用性強(qiáng)，普遍性廣，通過線路和線路間電阻或電容的比較來判斷線路板是否有關(guān)短路等。芯片測試

鎢探針：我們生產(chǎn)的純鎢探針、錸鎢探針、Paliney7合金探針，主要應(yīng)用于IC、LED、LCD等芯片檢測以及晶圓檢測等行業(yè)。適用于各類Pad表面。衡泌采用品質(zhì)穩(wěn)定的原材料，可按照不同客戶的多樣要求，提供國產(chǎn)或日本鎢材料，有純鎢（99.95-99.98%）、錸鎢等原料。通常情況下，測量儀器引進(jìn)一些噪聲或測量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件，其中之一可能是，它會受探針參數(shù)的影響，如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺的平整度。此外，探針尖磨損和污染也會對測試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。芯片測試

    上海衡泌金屬材料有限公司創(chuàng)立于2013年，是一家專業(yè)從事鎢、鉬、鉭等難熔金屬原料及零部件生產(chǎn)、銷售的現(xiàn)代化企業(yè)。專注鎢鉬及其合金的精深加工,為客戶提供鎢鉬鉭零部件解決方案。

     擁有一批難熔金屬零部件生產(chǎn)加工專業(yè)人員,引進(jìn)精密生產(chǎn)和檢測設(shè)備，在鎢鉬原料配方及生產(chǎn)制程、鎢鉬不規(guī)則零件結(jié)構(gòu)的制造方法上，可滿足客戶的定制需求，得到客戶普遍好評。產(chǎn)品已批量應(yīng)用于機(jī)械制造及焊接、電光源與電真空、半導(dǎo)體、醫(yī)療工程、汽車工業(yè)、****、電器制造、真空鍍膜、新能源、環(huán)保等領(lǐng)域。

強(qiáng)調(diào)完善的客戶服務(wù)理念，保持長期對市場的調(diào)研學(xué)習(xí)，開發(fā)新產(chǎn)品、新應(yīng)用領(lǐng)域，加工精度控制在0.001mm，可以按照圖紙或樣品設(shè)計(jì)加工鎢鉬零部件，為客戶提供多樣化的產(chǎn)品與定制服務(wù)。