光伏電站的收益好壞，取決于光伏組件的發(fā)電效率，而影響光伏組件發(fā)電效率的因素可通過EL檢測分析出來并加以改善。EL英文全稱ElectroLuminescence，即電致發(fā)光，也可以叫電子發(fā)光檢測。是根據(jù)半導(dǎo)體輻射復(fù)合釋放光子的特點，對組件施加正向電壓注入非平衡載流子，并通過光子探測器接收非平衡載流子輻射復(fù)合釋放的光子，非平衡載流子濃度越高（正常區(qū)域）釋放的光子越多，EL顯示圖像越亮；非平衡載流子濃度越低（缺點區(qū)域）釋放的光子越少，EL圖像越暗，通過圖像明暗關(guān)系即可反應(yīng)組件內(nèi)部電池缺點情況。檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，用戶的信賴之選，歡迎您的來電哦！陜西人工智能檢測儀器價格
識別“隱裂”的方法EL(Electroluminescence，電致發(fā)光)是一種太陽能電池或組件的內(nèi)部缺點檢測設(shè)備，是簡單有效的檢測隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理，通過辨率的紅外相機拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺點。具有靈敏度高、檢測速度快、結(jié)果直觀形象等優(yōu)點。形成“隱裂”的原因外力：電池片在焊接、層壓、裝框或搬運、安裝、施工等過程中會受外力，當參數(shù)設(shè)置不當、設(shè)備故障或操作不當時會造成隱裂。高溫：電池片在低溫下沒有經(jīng)過預(yù)熱，然后在短時間內(nèi)突然受到高溫后出現(xiàn)膨脹會造成隱裂現(xiàn)象，如焊接溫度高、層壓溫度等參數(shù)設(shè)置不合理。原材料：原材料的缺點也是導(dǎo)致隱裂的主要因素之一。北京電池串檢測設(shè)備廠家上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司檢測值得用戶放心。
說到表面缺陷我們就能聯(lián)想到產(chǎn)品的質(zhì)量問題，任何產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中都會出現(xiàn)一些表面局部不勻稱的區(qū)域，例如金屬表面中的劃痕、斑點、等等，這些缺陷除了會影響產(chǎn)品的美觀度，還會影響產(chǎn)品的質(zhì)量問題，給用戶帶來很不好的體驗，因此很多制造廠商企業(yè)針對這些缺陷問題是十分的重視。人工檢測是產(chǎn)品表面缺陷的傳統(tǒng)檢測方法，該方法抽檢率低、準確性不高、實時性差、效率低、勞動強度大、受人工經(jīng)驗和主觀因素的影響大，而基于機器視覺的檢測方法可以很大程度上克服上述弊端。
在光伏系統(tǒng)中，組件質(zhì)量的優(yōu)劣直接決定了發(fā)電情況的好壞。那么，如何區(qū)分組件質(zhì)量好壞?對此，小編想說，雖然我們從肉眼分辨不出質(zhì)量好壞，但是可以通過EL測試儀來檢測。EL測試儀作為光伏組件缺點檢測的一大利器，主要應(yīng)用在光伏組件生產(chǎn)過程中的質(zhì)量分析、質(zhì)量控制及光伏電站日常運維工作中，其優(yōu)點是測試方法簡單快捷、缺點表征直觀、設(shè)備價格便宜。下面小編就從EL測試儀原理、反應(yīng)的缺點類型、主要應(yīng)用環(huán)節(jié)以及測試方法等幾個方面，對EL測試儀做詳細介紹。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司是一家專業(yè)提供檢測的公司，歡迎新老客戶來電！
EL照片中黑心片是反映在通電情況下電池片中心一圈呈現(xiàn)黑域，該部分沒有發(fā)出1150nm的紅外光，故紅外相片中反映出黑心，此類發(fā)光現(xiàn)象和硅襯底少數(shù)載流子濃度有關(guān)。這種電池片中心部位的電阻率偏高。EL檢測儀，又稱太陽能組件電致發(fā)光缺點檢測儀，是跟據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對組件進行缺點檢測及生產(chǎn)工藝監(jiān)控的測試設(shè)備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會發(fā)出1000-1100nm的紅外光，測試儀下方的攝像頭可以捕捉到這個波長的光并成像于電腦上。因為通電發(fā)的光與PN結(jié)中離子濃度有很大的關(guān)系，因此可以根據(jù)圖像來判斷硅片內(nèi)部的狀況。檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，讓您滿意，歡迎您的來電！北京電池串檢測設(shè)備廠家
檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，用戶的信賴之選，歡迎新老客戶來電！陜西人工智能檢測儀器價格
隱裂種類雖然眾多，但不是所有的隱裂都會對電池片有影響。在組件生產(chǎn)、運輸、安裝和維護過程中，考慮到晶硅組件的易裂特征，需要在安裝電站的各個過程注意并改進作業(yè)流程，盡量減少組件隱裂的產(chǎn)生。對于檢測隱裂，目前EL是的方法。而導(dǎo)致組件隱裂的原因眾多，要弄清楚原因后再追究責任，不能盲目聽信他人之言。給晶硅組件施加電壓后，所激發(fā)出的電子和空穴復(fù)合的數(shù)量越多，其發(fā)射出的光子也就越多，所測得的EL圖像也就越亮；如果有的區(qū)域EL圖像比較暗，說明該處產(chǎn)生的電子和空穴數(shù)量較少，該處存在缺點；如果有的區(qū)域完全是暗的，該處沒有發(fā)生電子和空穴的復(fù)合，也或者是所發(fā)光被其它障礙所遮擋，無法檢測到信號。陜西人工智能檢測儀器價格