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來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-10-09

有足夠的金元素向焊料中擴(kuò)散而產(chǎn)生脆性。5)搪錫錫鍋焊料中的金含量當(dāng)錫鍋搪錫時(shí),對(duì)鍋內(nèi)焊料應(yīng)定期更換,當(dāng)溶于焊料中的金含量達(dá)到3%時(shí),也會(huì)引起金脆。4.“金脆化”產(chǎn)生機(jī)理以圖10所示的Au-Pb-Sn合金相圖(176℃等溫截面)為例,在含Sn量較多時(shí),焊料中的Sn和Au容易形成針狀A(yù)uSn4、AuSn2、AuSn等金屬間化合物,在含金量較少的情況下,生成的AuSn4為多數(shù);針狀的AuSn4為脆性化合物,在測(cè)試、應(yīng)用及試驗(yàn)的環(huán)境條件下極易脆斷,導(dǎo)致焊接斷裂失效。焊接時(shí),Au與Sn-Pb焊料的相容性非常好,金在熔融狀態(tài)的Sn-Pb合金中屬于一種可熔金屬,而且溶解速率很快。浸析的速度,通??梢杂霉腆w金屬在焊料中的溶解率來(lái)表征。溶解率通常是用一根規(guī)定直徑的導(dǎo)線完全溶解在焊料中所需的時(shí)間來(lái)表示。各種金屬在Sn-Pb焊料中的溶解速度見圖11。從圖11可以看出,在焊接過(guò)程中,**先溶解到焊料中的是金,形成如圖10所示的Au-Sn化合物。金在焊料中的熔解率隨溫度變化,在高溫度下,6ms~7ms內(nèi),金的熔解和Au-Sn化合物的形成過(guò)程就可以結(jié)束。在直接焊接金鍍層時(shí),生成的Au-Sn合金層非常薄,當(dāng)金的含量達(dá)到3%時(shí),表面上焊點(diǎn)形成很好,但明顯地表現(xiàn)出脆性,埋下**。必然帶來(lái)結(jié)合部的性能變脆。去除電子元件表面的灰塵、油脂等雜質(zhì),以避免對(duì)除金效果的影響。浸漬處理:將電子元件浸入選定的除金溶液;江蘇常規(guī)搪錫機(jī)廠家

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兩次搪錫分別在兩個(gè)錫鍋中進(jìn)行,第二次搪錫要待電子元器件冷卻后再進(jìn)行。***次搪錫的錫鍋不可用于非鍍金引線的搪錫,錫鍋中的焊錫應(yīng)經(jīng)常更換。(3)鍍金引線的搪錫一般*局限于焊接部位的線段,如圖18所示。2)搪錫工藝流程電連接器焊杯搪錫工藝流程見圖19。(1)搪錫前外觀檢查按電子元器件配套表清點(diǎn)電連接器數(shù)量,凡不符合下述要求的電連接器應(yīng)予以更換,并報(bào)告有關(guān)人員進(jìn)行分析,具體檢查要求如下:①電連接器型號(hào)、規(guī)格、標(biāo)志應(yīng)清晰,外觀應(yīng)無(wú)損傷、無(wú)刻痕、安裝零部件應(yīng)無(wú)缺損;②電連接器焊杯、焊針應(yīng)無(wú)扭曲、無(wú)刻痕、無(wú)銹蝕、無(wú)內(nèi)縮、無(wú)偏心等現(xiàn)象;③電連接器焊杯、焊針的可焊性應(yīng)良好。(2)搪錫前電連接器焊杯清洗搪錫前,應(yīng)用浸有無(wú)水乙醇或異丙醇的無(wú)塵紙或醫(yī)用脫脂棉紗擦洗電連接器的焊杯,應(yīng)無(wú)沾污物等。(3)電連接器焊杯搪錫①用于焊接導(dǎo)線的電連接器焊杯搪錫a)用于焊接導(dǎo)線的電連接器焊杯一般采用電烙鐵搪錫,搪錫時(shí)要求焊杯應(yīng)呈水平狀態(tài)或略向下傾斜,焊料應(yīng)潤(rùn)濕焊杯的整個(gè)內(nèi)側(cè),至少填滿焊杯的75%空間,不允許焊料溢出焊杯和流入外層,如圖20、圖21所示。b)用于焊接導(dǎo)線的電連接器焊杯電烙鐵搪錫溫度及時(shí)間見表4。重慶半自動(dòng)搪錫機(jī)工廠直銷常用的絡(luò)合劑包括檸檬酸鈉、草酸等。王水:王水是一種由硝酸和高濃度的鹽酸混合而成的強(qiáng)酸性溶液。

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引腳間距**?。┘啊癚FP”搪錫工藝6)通孔元件的搪錫工藝—“平波噴嘴”系統(tǒng)工作時(shí)需要定位工裝配套使用,在加工過(guò)程中利用工裝將元件固定。通過(guò)程序控制自動(dòng)運(yùn)行完成搪錫過(guò)程。首先,工裝帶著元件移動(dòng)至助焊劑工作站,浸沾助焊劑后對(duì)元件進(jìn)行必要的預(yù)熱;然后進(jìn)入***鍍層錫鍋,去除已有涂層。當(dāng)元件引腳浸***鍍層錫鍋中時(shí),工裝帶動(dòng)元件進(jìn)行由錫鍋的一側(cè)向另一側(cè)的反復(fù)移動(dòng)過(guò)程,產(chǎn)生的“涮洗”的動(dòng)作,有助于將需要去除的鍍層溶解到凈化錫鍋中。完成后,托盤回到助焊劑工作站,再次讓引腳浸沾助焊劑后,進(jìn)入搪錫錫鍋,開始進(jìn)行**終的搪錫作業(yè)。7)Chips、LCCs和MELFs的“Drag”搪錫工藝—“瀑布形波峰噴嘴”如果使用通孔元件的浸焊工藝對(duì)此類元件進(jìn)行搪錫作業(yè),由于表面張力的作用會(huì)使得引腳上殘留過(guò)多的焊料。而利用平波“Drag”工藝,能夠有效地完成此類元件的搪錫工作。當(dāng)元件貼著波峰在通過(guò)、離開時(shí),a焊料向下移動(dòng)的動(dòng)作會(huì)將吸附在引腳上的多余焊料帶走,使得拖焊后LCC上的焊盤共面性和芯片接頭尺寸滿足各種工藝的要求。在“Drag”工藝中,也會(huì)用到兩個(gè)錫鍋。8)精密引腳間距QFP的搪錫工藝—“側(cè)向波峰噴嘴”QFP元件通過(guò)滑塊QFP定位系統(tǒng)移動(dòng)到拾取位置。真空吸嘴。

焊縫的中部和簧片界面附近等的EDS元素分布如圖7、圖8所示。按照焊點(diǎn)可靠性要求,焊縫焊料中的金限制濃度應(yīng)小于3wt%。由此可以判定失效的原因是由于焊縫焊料中的金元素濃度過(guò)高而導(dǎo)致接點(diǎn)抗剪強(qiáng)度退化,**終引發(fā)“金脆斷裂”。3)航天產(chǎn)品金脆化案例上個(gè)世紀(jì)八十年代,航天五院某所在一個(gè)產(chǎn)品故障分析中,出現(xiàn)了“金脆”問(wèn)題,當(dāng)時(shí)誰(shuí)都沒有意識(shí)到是鍍金引線沒有除金,經(jīng)過(guò)****部門失效機(jī)理分析中心的科學(xué)檢測(cè),發(fā)現(xiàn)正是由于鍍金引線沒有除金,焊接后焊點(diǎn)產(chǎn)生金脆現(xiàn)象,產(chǎn)品出現(xiàn)嚴(yán)重的質(zhì)量問(wèn)題。該現(xiàn)象引起了人們的重視,隨后在航天系統(tǒng)內(nèi)部提出鍍金引線在焊接前要進(jìn)行搪錫處理問(wèn)題。近年來(lái),除金問(wèn)題在航天以及其他**產(chǎn)品等需要高可靠焊接的產(chǎn)品上被越來(lái)越多的提出來(lái)。航天二院706所的試驗(yàn)證明,如果鍍金焊端和引線不進(jìn)行去金搪錫處理就直接進(jìn)行焊接,必將產(chǎn)生AuSn4,導(dǎo)致焊點(diǎn)金脆化。長(zhǎng)春光機(jī)所工藝人員在項(xiàng)目管理中遇到了多起“金脆”焊點(diǎn)開裂失效問(wèn)題,如圖9所示。經(jīng)過(guò)歸零分析,認(rèn)為帶有加速度的振動(dòng)條件是金脆焊點(diǎn)失效的**大的外部條件,此外,冷熱溫差大的啟動(dòng)環(huán)境也會(huì)加大失效發(fā)生的可能性。因金脆化引起的焊接不可靠,我們對(duì)它都有個(gè)認(rèn)識(shí)過(guò)程;由于種種原因。粘合劑是使錫膏具有一定粘性和可塑性的成分。如果粘合劑不足,會(huì)導(dǎo)致錫膏過(guò)硬、過(guò)脆,甚至無(wú)法使用;

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本發(fā)明涉及搪錫機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種定子用搪錫機(jī)。背景技術(shù):電機(jī)是指依據(jù)電磁感應(yīng)定律實(shí)現(xiàn)電能轉(zhuǎn)換或傳遞的一種電磁裝置,其通常是由定子和轉(zhuǎn)子構(gòu)成,其中,定子是電動(dòng)機(jī)靜止不動(dòng)的部分,主要由定子鐵芯、定子繞組和機(jī)座三部分組成,其主要作用是產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng),使轉(zhuǎn)子被磁力線切割,從而產(chǎn)生電流。在定子生產(chǎn)過(guò)程中,為了防止電機(jī)漆包線脫皮后銅線的氧化,需要對(duì)定子引出線進(jìn)行搪錫,而在現(xiàn)有的發(fā)電機(jī)定子生產(chǎn)過(guò)程中,需要人工將線頭沾助焊劑,再進(jìn)行搪錫,生產(chǎn)效率低,質(zhì)量不穩(wěn)定,并且由于錫爐高溫、搪錫有產(chǎn)生,容易對(duì)人造成傷害。例如,一種在**專利文獻(xiàn)上公開的“一種新型定子線圈引線整頭設(shè)計(jì)及制造工藝”,,其公開了一種新型定子線圈引線整頭設(shè)計(jì)及制造工藝其工藝流程為:梭形-包保護(hù)帶-搪錫及引線刮頭-漲型-整形-整頭,而進(jìn)行搪錫時(shí),需要人工將梭形線圈引線頭放入錫鍋內(nèi)搪錫,生產(chǎn)效率低,質(zhì)量不穩(wěn)定,且容易對(duì)人造成傷害。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:本發(fā)明是為了克服目前發(fā)電機(jī)定子生產(chǎn)過(guò)程中,需要人工將線頭沾助焊劑,再進(jìn)行搪錫,生產(chǎn)效率低,質(zhì)量不穩(wěn)定,并且由于錫爐高溫、搪錫有產(chǎn)生,容易對(duì)人造成傷害等問(wèn)題,提出了一種定子用搪錫機(jī)。為了實(shí)現(xiàn)上述目的。全自動(dòng)搪錫機(jī)的維護(hù)和保養(yǎng)相對(duì)簡(jiǎn)單,能夠降低維護(hù)成本和停機(jī)時(shí)間。安徽國(guó)產(chǎn)搪錫機(jī)性能

在進(jìn)行壓接操作之前,需要對(duì)導(dǎo)線進(jìn)行處理,包括去皮、修剪、清洗等。去皮時(shí)需要使用專業(yè)的剝線鉗或刀具。江蘇常規(guī)搪錫機(jī)廠家

在焊料中有AuSn4顆粒;圖43(b)表示經(jīng)過(guò)烘烤的試樣,Ni3Sn4層長(zhǎng)大,AuSn4從焊料內(nèi)部向焊料和PCB基板的界面遷移。由于金屬間化合物中Au和Sn的比為1:4,所以即使很少量的Au也會(huì)生成較厚的AuSn4。圖43(c)表示經(jīng)過(guò)烘烤再進(jìn)行再流焊的試樣焊點(diǎn),AuSn4化合物從界面溶解進(jìn)入焊點(diǎn)。2.試驗(yàn)證明:PBGA組件在150℃老化兩周后的金脆,表明主裂紋在Au-Sn化合物和Ni-Sn化合物間擴(kuò)展,裂紋穿過(guò)了Ni3Sn4和Ni(P)+層,如圖44(a)所示。圖44(a)(b)所示為PBGA一側(cè)的SEM圖。圖中亮的區(qū)域?yàn)锳uSn4化合物,暗的區(qū)域?yàn)镹i3Sn4化合物,亮的斑點(diǎn)為富Pb焊料。圖44(c)(d)所示為PCB一側(cè)的SEM圖。圖中亮的區(qū)域?yàn)镹i3Sn4化合物,暗的區(qū)域?yàn)镹i-P,亮的斑點(diǎn)為富Pb焊料。老化后PBGA組裝件的斷裂位置如圖44所示,其斷裂方式與上兩種不同,它是在界面處的分層斷裂而不是焊料的脆性斷裂。這些鍍金的PCB焊盤都存在金鍍層是否需要“除金”,應(yīng)該引起我們的高度重視。六.鍍金引線除金的爭(zhēng)議1.“鍍金引線的除金處理”事關(guān)大局目前業(yè)界個(gè)別人對(duì)鍍金引線的除金處理的必要性和可行性頗有微詞。江蘇常規(guī)搪錫機(jī)廠家