只在TOP和BOTTOM層進(jìn)行了布線,存儲(chǔ)器由兩片的SDRAM以菊花鏈的方式所構(gòu)成。而在DIMM的案例里,只有一個(gè)不帶緩存的DIMM被使用。對(duì)TOP/BOTTOM層布線的一個(gè)閃照?qǐng)D和信號(hào)完整性仿真圖。 ADDRESS和CLOCK網(wǎng)絡(luò),右邊的是DATA...
示波器通道在每個(gè)垂直量程設(shè)置上的噪聲屬性各有不同。波形粗細(xì)可以直觀反映示波器在該特定設(shè)置下的噪聲大概范圍,準(zhǔn)確測(cè)量應(yīng)通過Vrms交流測(cè)量來量化分析噪聲情況。您可以將測(cè)量結(jié)果繪制成噪聲圖,以便進(jìn)一步分析(圖7)。這些測(cè)量結(jié)果反映了每個(gè)示波器通道在不同垂直刻度...
由于FRL模式比較高支持12Gbps速率,要求示波器帶寬不低于23G。有兩種配置方式適用不同客戶需求;另外需要HDMI2.1的治具,EDID/SCDCcontroller也需要支持HDMI2.1以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的測(cè)試。配置一:使用SMAcable方法兩臺(tái)DPO...
眼圖,是由于示波器的余輝作用,將掃描所得的每一個(gè)碼元波形重疊在一起,從而形成眼圖。其是指利用實(shí)驗(yàn)的方法估計(jì)和改善(通過調(diào)整)傳輸系統(tǒng)性能時(shí)在示波器上觀察到的一種圖形。觀察眼圖的方法是:用一個(gè)示波器跨接在接收濾波器的輸出端,然后調(diào)整示波器掃描周期,使示波器水平掃...
高速的數(shù)字信號(hào)經(jīng)過傳輸線傳輸后,信號(hào)的高頻分量會(huì)丟失,信號(hào)的邊沿會(huì)變形。如果信號(hào)的變形比較嚴(yán)重,就會(huì)影響后續(xù)信號(hào)邊沿通過閾值點(diǎn)的時(shí)刻,這就是碼間干擾造成的抖動(dòng)。碼間干擾造成信號(hào)抖動(dòng)的一個(gè)例子。在碼間干擾比較嚴(yán)重的情況下,當(dāng)前比特跳沿過閾值點(diǎn)的時(shí)刻會(huì)和前幾個(gè)...
克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室什么叫眼圖眼圖是在示波器的橫軸上把一串串比特周期疊加,形成眼樣波形。圖中:眼高意味噪聲;眼寬意味抖動(dòng)。從眼圖上可以觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響,體現(xiàn)了數(shù)字信號(hào)整體的特征,從而估計(jì)系統(tǒng)優(yōu)劣程度,因而眼圖分析是高速互連系統(tǒng)信號(hào)完整性分析的...
(2)波形需要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行疊加:眼圖是對(duì)多個(gè)波形或比特的疊加,但這個(gè)疊加不是任意的,通常要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)。對(duì)于很多并行總線來說,由于大部分都有專門的時(shí)鐘傳輸通道,所以通常會(huì)以時(shí)鐘通道為觸發(fā),對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)的波形進(jìn)行疊加形成眼圖,一般的示波器都具備這個(gè)功能。而對(duì)于...
3.可靠性測(cè)試:可靠性測(cè)試是測(cè)試產(chǎn)品的可靠性,包括壽命、穩(wěn)定性、可靠度等。測(cè)試方法可以采用壽命測(cè)試、環(huán)境測(cè)試、抗干擾測(cè)試等。壽命測(cè)試是通過對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行測(cè)試,得到產(chǎn)品的壽命數(shù)據(jù)。環(huán)境測(cè)試是模擬不同環(huán)境條件下的測(cè)試,檢查產(chǎn)品在不同環(huán)境下的表現(xiàn)??垢蓴_測(cè)...
三、測(cè)試方法 電子產(chǎn)品測(cè)試采用多種測(cè)試方法,根據(jù)測(cè)試目的和測(cè)試對(duì)象的不同,可以選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試方法和技術(shù)。常用的測(cè)試方法包括: 功能測(cè)試:采用黑盒測(cè)試方法,即不考慮內(nèi)部結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)原理,只根據(jù)輸入和輸出之間的關(guān)系進(jìn)行測(cè)試。 性能測(cè)試:采用白盒...
電子產(chǎn)品測(cè)試是指對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)功能、性能、可靠性、安全和兼容性等進(jìn)行測(cè)試的一種方法。通過測(cè)試,可以檢查產(chǎn)品是否符合用戶的需求和期望,確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力和市場(chǎng)占有率。 電子產(chǎn)品測(cè)試的范圍非常,包括手機(jī)、電腦、平板、家電、汽車電子、醫(yī)...
電子產(chǎn)品測(cè)試方法及分析可以根據(jù)不同的測(cè)試目的和要求,采用不同的測(cè)試方法和技術(shù)。以下是常見的幾種電子產(chǎn)品測(cè)試方法及分析: 1.功能測(cè)試:功能測(cè)試是測(cè)試產(chǎn)品的各項(xiàng)功能是否正常工作。測(cè)試方法可以采用手動(dòng)測(cè)試或自動(dòng)化測(cè)試。手動(dòng)測(cè)試需要人工操作產(chǎn)品,檢查各項(xiàng)功...
2產(chǎn)品知識(shí):測(cè)試人員需要了解所測(cè)試產(chǎn)品的特點(diǎn)、功能、性能、安全和兼容性等方面的知識(shí),以便能夠設(shè)計(jì)和執(zhí)行相應(yīng)的測(cè)試用例。 3測(cè)試工具和設(shè)備:測(cè)試人員需要熟悉各種測(cè)試工具和設(shè)備的使用方法和操作技巧,以便能夠準(zhǔn)確地進(jìn)行測(cè)試工作 4測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范:測(cè)試...
解決電子產(chǎn)品測(cè)試中的問題和難點(diǎn)需要從以下幾個(gè)方面入手: 1.測(cè)試流程優(yōu)化:優(yōu)化測(cè)試流程可以提高測(cè)試效率和測(cè)試質(zhì)量。測(cè)試流程應(yīng)該合理、清晰,測(cè)試任務(wù)應(yīng)該明確、可執(zhí)行。 2.測(cè)試工具和設(shè)備升級(jí):升級(jí)測(cè)試工具和設(shè)備可以提高測(cè)試精度和測(cè)試覆蓋率。測(cè)試工...
電子產(chǎn)品測(cè)試需要使用各種測(cè)試工具和設(shè)備,如萬用表、示波器、信號(hào)源、模擬器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等設(shè)備,以及各種軟件測(cè)試工具和自動(dòng)化測(cè)試工具。這些測(cè)試工具和設(shè)備能夠快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)產(chǎn)品的各項(xiàng)功能、性能、可靠性、安全和兼容性等方面。 測(cè)試人員是電子產(chǎn)品...
3.黑盒測(cè)試技術(shù) 黑盒測(cè)試技術(shù)是指在不考慮產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和代碼的情況下,對(duì)電子產(chǎn)品的輸入和輸出進(jìn)行測(cè)試,通過模擬用戶的操作和場(chǎng)景來驗(yàn)證產(chǎn)品的功能和性能。黑盒測(cè)試技術(shù)適用于多種類型的產(chǎn)品測(cè)試,可以有效地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的功能缺陷和性能問題。 4.灰盒測(cè)試技...
三、測(cè)試方法 電子產(chǎn)品測(cè)試采用多種測(cè)試方法,根據(jù)測(cè)試目的和測(cè)試對(duì)象的不同,可以選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試方法和技術(shù)。常用的測(cè)試方法包括: 功能測(cè)試:采用黑盒測(cè)試方法,即不考慮內(nèi)部結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)原理,只根據(jù)輸入和輸出之間的關(guān)系進(jìn)行測(cè)試。 性能測(cè)試:采用白盒...
當(dāng)數(shù)字信號(hào)疊加形成眼圖以后,為了方便地區(qū)分信號(hào)在不同位置出現(xiàn)的概率大小,更多的時(shí)候會(huì)用彩色余暉的模式進(jìn)行信號(hào)的觀察。彩色余暉就是把信號(hào)在屏幕上不同位置出現(xiàn)的概率大小用相應(yīng)的顏色表示出來,這樣可以直觀地看出信號(hào)噪聲、抖動(dòng)等的分布情況。 對(duì)于眼圖的概念,...
電子產(chǎn)品測(cè)試是指對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行功能、性能、可靠性、安全和兼容性等方面的測(cè)試。電子產(chǎn)品測(cè)試的目的是保證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,滿足用戶的需求和期望。電子產(chǎn)品測(cè)試的基本流程包括測(cè)試計(jì)劃制定、測(cè)試用例設(shè)計(jì)、測(cè)試環(huán)境搭建、測(cè)試執(zhí)行、測(cè)試結(jié)果分析和測(cè)試報(bào)告編寫等環(huán)節(jié)。在測(cè)試...
一些提高電子產(chǎn)品測(cè)試效率的方法: 1.自動(dòng)化測(cè)試:自動(dòng)化測(cè)試可以通過編寫測(cè)試腳本和測(cè)試程序,自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試過程,提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。自動(dòng)化測(cè)試可以節(jié)省測(cè)試時(shí)間和人力成本,并提高測(cè)試的覆蓋率和可靠性。 2.并行測(cè)試:并行測(cè)試可以同時(shí)進(jìn)行多個(gè)測(cè)試任...
4測(cè)試環(huán)境:測(cè)試環(huán)境是指進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試時(shí)所處的環(huán)境條件,包括溫度、濕度、電磁場(chǎng)等因素。 5測(cè)試設(shè)備:測(cè)試設(shè)備是進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試所需的儀器和設(shè)備,包括信號(hào)發(fā)生器、示波器、頻譜儀、溫濕度計(jì)等。 6測(cè)試程序:測(cè)試程序是進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試所需的軟件程序...
測(cè)試結(jié)果分析和測(cè)試報(bào)告編寫 測(cè)試結(jié)果分析是測(cè)試過程中的重要環(huán)節(jié),通過對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和處理,找出問題和缺陷,并進(jìn)行跟蹤和確認(rèn)。測(cè)試報(bào)告編寫是測(cè)試過程中的終環(huán)節(jié),根據(jù)測(cè)試結(jié)果,編寫測(cè)試報(bào)告,匯總測(cè)試數(shù)據(jù)和問題,提出測(cè)試建議和改進(jìn)措施。 測(cè)試結(jié)果...
新的眼圖生成方法解決了觸發(fā)抖動(dòng)問題,處理UI多,因此速度也快。2.1.2.1.數(shù)據(jù)邊沿的提取數(shù)據(jù)邊沿的提取獲取捕獲數(shù)據(jù)的最大值為Max,最小值為Min,設(shè)置Threshold=0.5*(Max+Min),當(dāng)采樣點(diǎn)電壓值穿過Threshold時(shí),記錄下時(shí)間為...
數(shù)字信號(hào)抖動(dòng)的成因 抖動(dòng)反映的是數(shù)字信號(hào)偏離其理想位置的時(shí)間偏差。高頻數(shù)字信號(hào)的比特周期都非常短,很小的抖動(dòng)都會(huì)造成信號(hào)采樣位置電平的變化,所以高頻數(shù)字信號(hào)對(duì)于抖動(dòng)都有嚴(yán)格要求。高速的串行數(shù)字信號(hào)對(duì)抖動(dòng)的要求更加嚴(yán)格,同時(shí)由于其傳輸路徑比較復(fù)雜,中...
DDR4眼圖測(cè)試1-2是德科技ADS仿真軟件的DDR4總線仿真器,提供了統(tǒng)計(jì)眼圖分析的功能,能夠在短時(shí)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)計(jì)算在極低誤碼率(1e-16)下的DQ眼圖,根據(jù)規(guī)范判斷模板是否違規(guī)。另外基于總線的仿真,也很易于仿真基于串?dāng)_因素下的眼圖質(zhì)量?;谑静ㄆ鞯腄DR...
一種眼圖測(cè)試方法,裝置,電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),該方法包括:獲取目標(biāo)數(shù)據(jù),并將目標(biāo)數(shù)據(jù)寫入目標(biāo)文件;將目標(biāo)文件中的寄存器數(shù)據(jù)讀取至寄存器;將寄存器中的寄存器數(shù)據(jù)刷新至內(nèi)存中,并在刷新完成后進(jìn)行眼圖測(cè)試;該方法可以將目標(biāo)文件中的寄存器數(shù)據(jù)讀取到寄存器中.通...
由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號(hào)的比特位信息,所以成為了衡量信號(hào)質(zhì)量的重要工具,眼圖測(cè)量有時(shí)侯就叫“信號(hào)質(zhì)量測(cè)試”。此外,眼圖測(cè)量的結(jié)果是合格還是不合格,其判斷依據(jù)通常是相對(duì)于“模板(Mask)”而言的。模板規(guī)定了串行信號(hào)“1”電平的容限,“0”電平...
對(duì)于DDR源同步操作,必然要求DQS選通信號(hào)與DQ數(shù)據(jù)信號(hào)有一定建立時(shí)間tDS和保持時(shí)間tDH要求,否則會(huì)導(dǎo)致接收鎖存信號(hào)錯(cuò)誤,DDR4信號(hào)速率達(dá)到了,單一比特位寬為,時(shí)序裕度也變得越來越小,傳統(tǒng)的測(cè)量時(shí)序的方式在短時(shí)間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH...
(2)波形需要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行疊加:眼圖是對(duì)多個(gè)波形或比特的疊加,但這個(gè)疊加不是任意的,通常要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)。對(duì)于很多并行總線來說,由于大部分都有專門的時(shí)鐘傳輸通道,所以通常會(huì)以時(shí)鐘通道為觸發(fā),對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)的波形進(jìn)行疊加形成眼圖,一般的示波器都具備這個(gè)功能。而對(duì)于...
圖測(cè)量中需要疊加的波形或比特的數(shù)量:在眼圖測(cè)量中,疊加的波形或比特的數(shù)量不一樣,可能得到的眼圖結(jié)果會(huì)有細(xì)微的差異。由于隨機(jī)噪聲和隨機(jī)抖動(dòng)的存在,疊加的波形或比特?cái)?shù)量越多,則眼的張開程度會(huì)越小,就越能測(cè)到惡劣的情況,但相應(yīng)的測(cè)試時(shí)間也會(huì)變長(zhǎng)。為了在測(cè)...
眼圖與性能的關(guān)系眼圖的"眼睛"張開的大小反映著碼間串?dāng)_的強(qiáng)弱。"眼睛"張的越大且眼圖越端正表示碼間串?dāng)_越小;反之表示碼間串?dāng)_越大。當(dāng)存在噪聲時(shí)噪聲將疊加在信號(hào)上觀察到的眼圖的線跡會(huì)變得模糊不清。若同時(shí)存在碼間串?dāng)_"眼睛"將張開得更小。與間串?dāng)_時(shí)的眼圖相比原來清...