金相分析方法已經(jīng)在固體材料包括金屬,陶瓷,塑料,電路板,礦石等多品類(lèi)試樣分析中應(yīng)用,要進(jìn)行金相分析,就必須制備能用于做微觀(guān)檢查的樣品----金相試樣。通常,金相試樣的制備要經(jīng)過(guò)取樣,鑲嵌,磨光和拋光幾個(gè)步驟。在質(zhì)量檢驗(yàn),失效分析和固體材料研究實(shí)驗(yàn)室也得到***應(yīng)...
在制作金相試樣的過(guò)程中,有這樣一種情況,偽色:就是對(duì)樣品表面的非正常著色,主要的原因是由于接觸了外來(lái)物質(zhì)。鑲樣時(shí)避免在樣品和樹(shù)脂間有留下縫隙各道制樣工序后立即清洗并干燥樣品。在氧化物拋光的后10秒里,用涼水沖洗拋光布,使樣品和拋光布同時(shí)得到清洗,拋光后避免使用...
在制樣過(guò)程中樣品較大區(qū)域發(fā)生的塑性變形稱(chēng)為褶皺,當(dāng)不恰當(dāng)?shù)厥褂醚心チ?、?rùn)滑劑或拋光布時(shí),或者它們的搭配不合適,都將使研磨料象鈍刀一樣作用在作品表面,推擠表面,致使出現(xiàn)皺褶。那么符合避免呢,一,潤(rùn)滑劑:檢查潤(rùn)滑劑的用量。潤(rùn)滑劑量太少時(shí)常發(fā)生推擠,必要時(shí)應(yīng)加大潤(rùn)滑...
鑲樣是指在試樣尺寸過(guò)小或者形狀不規(guī)則導(dǎo)致研磨拋光困難,才需要鑲嵌或者夾持,這樣可以使試樣拋磨方便,提高工作效率及實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性。分冷鑲嵌和熱鑲嵌二種,鑲嵌材料有膠木粉、電玉粉等。對(duì)溫度及壓力極敏感的材料(如淬火馬氏體與易發(fā)生塑性變形的軟金屬),以及微裂紋的試樣,...
帶有涂、鍍層的試樣需鑲嵌,鑲嵌時(shí)可根據(jù)表層的硬度來(lái)選擇鑲嵌材料,如選擇收縮率較小的冷鑲樹(shù)脂,以保證表層組織得到較好的保護(hù)。與母材結(jié)合性較好的鋅-鋁-鎂涂層試樣,也可采用熱鑲嵌法。磨拋時(shí)要保證不倒角。在相同磨削量的情況下,盡量多磨削,少拋光。二者原理不同,磨削是...
金相切割機(jī)雖然是用來(lái)切割樣品,但是它不像其他切割機(jī)會(huì)蹦出火花。金相切割機(jī)用的是砂輪切割片,而且還配有冷卻裝置,可以邊切割,邊對(duì)試樣進(jìn)行降溫。這也是它和其他切割機(jī)的主要區(qū)別。雖然金相切割機(jī)操作相對(duì)來(lái)說(shuō)比較安全,但是也一定要嚴(yán)格按照說(shuō)明書(shū)和操作規(guī)程來(lái)使用。金相切割...
鑲樣是指在試樣尺寸過(guò)小或者形狀不規(guī)則導(dǎo)致研磨拋光困難,才需要鑲嵌或者夾持,這樣可以使試樣拋磨方便,提高工作效率及實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性。分冷鑲嵌和熱鑲嵌二種,鑲嵌材料有膠木粉、電玉粉等。對(duì)溫度及壓力極敏感的材料(如淬火馬氏體與易發(fā)生塑性變形的軟金屬),以及微裂紋的試樣,...
金相試樣切割機(jī)又叫金相切割機(jī),金相試樣切割作為金相試驗(yàn)的開(kāi)始工序,后面還有研磨、拋光、鑲嵌、顯微鏡觀(guān)測(cè)、打硬度等多種工序。金相試樣切割非常重要。金相切割機(jī)價(jià)格從小幾千到小幾十萬(wàn)不等,下面就簡(jiǎn)單說(shuō)下金相切割機(jī)分類(lèi)。1、金相切割機(jī)樣式上分為:臺(tái)式、立式、臥式、大型...
金相制樣中,如果初次研磨不得當(dāng),那么很容易使樣品表面出現(xiàn)劃痕。那我們又如何防止制樣過(guò)程中出現(xiàn)劃痕呢,劃痕即是樣品表面上的線(xiàn)性凹槽,是由研磨粒子造成的。應(yīng)對(duì)措施:確定在粗磨后,試樣座上所有樣品的表面都均勻地布滿(mǎn)同樣的磨痕花樣;必要時(shí)重新進(jìn)行粗磨;每一道步聚后均應(yīng)...
PRESI MECATOMET210精密切割機(jī)適用于包括大面積和高硬度材料等各類(lèi)樣品的精密定位切割,并比較大限度的減小損傷層深度。同類(lèi)型設(shè)備中超大功率,且內(nèi)置變頻器可滿(mǎn)足不同載荷條件下的扭矩、轉(zhuǎn)速、進(jìn)刀速度補(bǔ)償,以確保工作效率及切割質(zhì)量。?3種切割模式,充分滿(mǎn)...
超聲波特性:傳播特性──超聲波的波長(zhǎng)很短,通常的障礙物的尺寸要比超聲波的波長(zhǎng)大好多倍,因此超聲波的衍射本領(lǐng)很差,它在均勻介質(zhì)中能夠定向直線(xiàn)傳播,超聲波的波長(zhǎng)越短,該特性就越凸顯。功率特性──當(dāng)聲音在空氣中傳播時(shí),推動(dòng)空氣中的微粒往復(fù)振動(dòng)而對(duì)微粒做功。聲波功率就...
檢測(cè)表面不連續(xù)性,如裂紋、氣孔及縫隙等。優(yōu)點(diǎn)對(duì)所有的材料都適用的。設(shè)備輕便,投資相對(duì)較少。探傷簡(jiǎn)便,結(jié)果易解釋。除光源需電源外,其它設(shè)備都不需電源,可直觀(guān)核對(duì)顯示。局限性由于涂料、污垢及涂覆金屬等表面層會(huì)掩蓋缺陷,孔隙表面的漏洞也能引起假顯示,探傷...
自動(dòng)金相拋光機(jī) 自動(dòng)金相研磨拋光機(jī)也是目前被很多金屬實(shí)驗(yàn)室使用的金相研磨拋光設(shè)備,因其同時(shí)兼具手動(dòng)模式,應(yīng)用更靈活。而且可以編程并存儲(chǔ)多個(gè)制備程序,可同時(shí)對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行研磨和拋光,效率高,重復(fù)制樣效果顯注,適合批量制樣,對(duì)于樣品制備量大,需要...
超聲波掃描顯微鏡,英文是:Scanning Acoustic Microscope,簡(jiǎn)稱(chēng)SAM,由于它的主要工作模式是C模式,因此也簡(jiǎn)稱(chēng):C-SAM?,F(xiàn)在做失效分析的實(shí)驗(yàn)室里,這個(gè)設(shè)備直接被通稱(chēng)為C-SAM,就像X射線(xiàn)透射機(jī)被通稱(chēng)為X-Ray一樣。聲波掃描...
單頻激光干涉儀:從激光器發(fā)出的光束,經(jīng)擴(kuò)束準(zhǔn)直后由分光鏡分為兩路,并分別從固定反射鏡和可動(dòng)反射鏡反射回來(lái)會(huì)合在分光鏡上而產(chǎn)生干涉條紋。當(dāng)可動(dòng)反射鏡移動(dòng)時(shí),干涉條紋的光強(qiáng)變化由接受器中的光電轉(zhuǎn)換元件和電子線(xiàn)路等轉(zhuǎn)換為電脈沖信號(hào),經(jīng)整形、放大后輸入可逆計(jì)數(shù)器計(jì)...
暗場(chǎng)(DF)是一種鮮為人知但功能強(qiáng)大的照明技術(shù)。暗場(chǎng)照明的光路穿過(guò)物鏡的外部空心環(huán),以高入射角落在樣本上,從表面反射,然后穿過(guò)物鏡的內(nèi)部,然后到達(dá)目鏡或照相機(jī)。這種類(lèi)型的照明會(huì)導(dǎo)致平坦的表面看起來(lái)很暗,因?yàn)樵诟呷肷浣翘幏瓷涞慕^大多數(shù)光都無(wú)法到達(dá)物鏡的內(nèi)部。...
顯微鏡調(diào)整方法a.必須在庫(kù)勒明系統(tǒng)已調(diào)好的基礎(chǔ)上才能調(diào)好DIC方法;b.先用10×物鏡,以明視野先確定好能把樣品看清晰的物鏡調(diào)焦位置;c.把起偏器(polarizer)擺入照明光路中,注意其取向應(yīng)為東—西方向;d.把聚光鏡轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)到與10×物鏡對(duì)應(yīng)使...
超聲波掃描顯微鏡,英文是:Scanning Acoustic Microscope,簡(jiǎn)稱(chēng)SAM,由于它的主要工作模式是C模式,因此也簡(jiǎn)稱(chēng):C-SAM?,F(xiàn)在做失效分析的實(shí)驗(yàn)室里,這個(gè)設(shè)備直接被通稱(chēng)為C-SAM,就像X射線(xiàn)透射機(jī)被通稱(chēng)為X-Ray一樣。聲...
2020年6月13日,深圳市質(zhì)量檢驗(yàn)協(xié)會(huì)在羅湖區(qū)博豐大廈召開(kāi)了深圳市檢驗(yàn)檢測(cè)儀器設(shè)備工作委元會(huì)籌備會(huì)議,民主選舉產(chǎn)生了首屆工委會(huì)班子成員。深圳市質(zhì)量創(chuàng)新聯(lián)合黨委副書(shū)記詹一峰,深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院設(shè)備部副部長(zhǎng)李偉恒、深圳市新則興有限公司總經(jīng)理劉紅祥等相關(guān)...
Leica DM12000 M智能材料金相顯微鏡,全新的光學(xué)設(shè)計(jì),可以提供宏觀(guān)模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV, 傾斜紫外觀(guān)察模式)不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫米)硅片的產(chǎn)能。新的 LED 照明技術(shù)一體化設(shè)計(jì)并整合在顯微鏡上。低...
常規(guī)射線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)主要是把三維物體投影到二維平面上,容易造成圖像信息的疊加,如果想要獲得圖像上的信息,沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的話(huà),對(duì)目標(biāo)進(jìn)行準(zhǔn)確定位和定量測(cè)量非常困難。工業(yè)CT在對(duì)工件進(jìn)行檢測(cè)的時(shí)候,能夠給出二維或者三維的圖像,需要測(cè)量的目標(biāo)不會(huì)受到周?chē)?xì)節(jié)特征的遮擋,所...
無(wú)損檢測(cè)就是Non Destructive Testing,縮寫(xiě)是NDT(或NDE,non-destructive examination),也叫無(wú)損探傷,是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下,采用射線(xiàn)、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)...
在現(xiàn)代的生產(chǎn)中針對(duì)不同對(duì)象選擇何種無(wú)損檢測(cè)方法已成為人們關(guān)注的問(wèn)題。為解決好這個(gè)問(wèn)題,就必須對(duì)無(wú)損檢測(cè)方法及其特征有了解。下面簡(jiǎn)要介紹這些常用方法的特征,供有關(guān)同志參考。所謂無(wú)損檢測(cè),是在不損傷材料和成品的條件下研究其內(nèi)部和表面有無(wú)缺陷的手段。也就是說(shuō),它利用...
超聲波掃描顯微鏡SAT又稱(chēng)為SAM。通過(guò)發(fā)射高頻超聲波傳遞到樣品內(nèi)部,在經(jīng)過(guò)兩種不同材質(zhì)之間界面時(shí),由于不同材質(zhì)的聲阻抗不同,對(duì)聲波的吸收和反射程度的不同,進(jìn)而采集的反射或者穿透的超聲波能量信息或者相位信息的變化來(lái)檢查樣品內(nèi)部出現(xiàn)的分層、裂縫或者空洞等缺陷。先...
金相試樣研磨之后需要進(jìn)行拋光,以將試樣上研磨過(guò)程產(chǎn)生的磨痕及變形層去掉,使其成為光滑鏡面。目前拋光試樣的方法有機(jī)械拋光、電解拋光、化學(xué)拋光以及復(fù)合拋光等。蕞常用的拋光方式為機(jī)械拋光 化學(xué)拋光:利用化學(xué)溶解作用得到光滑的拋光表面。將試樣浸在化學(xué)拋光液中...
一、研磨1.將水磨砂紙浸濕,平放在研磨盤(pán)中。 2.打開(kāi)左盤(pán)水開(kāi)關(guān),并調(diào)整好水流。 3.開(kāi)電源開(kāi)關(guān),金相磨拋機(jī)研磨逆時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)。 4.將切割好的試樣用力持住,并輕輕靠近砂紙,待試樣和砂紙接觸良好并無(wú)跳動(dòng)時(shí),可用力壓住試樣進(jìn)行研磨。 ...
由電子* 發(fā)射的電子束比較高可達(dá)30keV, 經(jīng)會(huì)聚透鏡、物鏡縮小和聚焦, 在樣品表面形成一個(gè)具有一定能量、強(qiáng)度、斑點(diǎn)直徑的電子束。在掃描線(xiàn)圈的磁場(chǎng)作用下, 入射電子束在樣品表面上按照一定的空間和時(shí)間順序做光柵式逐點(diǎn)掃描。由于入射電子與樣品之間的相互作用...
金相樣品的切割表面具備以下特點(diǎn)就被認(rèn)為金相切割機(jī)的質(zhì)量是合格的: 地一、樣品切割表面無(wú)過(guò)燒的現(xiàn)象。要求金相切割機(jī)在切割的過(guò)程中,溫度低于150攝氏度。當(dāng)然溫度是越低越好,這樣就能保證樣品表面不產(chǎn)生灼傷了。 第二、樣品的切割表面應(yīng)光滑平整,而且切...
自動(dòng)金相拋光機(jī) 自動(dòng)金相研磨拋光機(jī)也是目前被很多金屬實(shí)驗(yàn)室使用的金相研磨拋光設(shè)備,因其同時(shí)兼具手動(dòng)模式,應(yīng)用更靈活。而且可以編程并存儲(chǔ)多個(gè)制備程序,可同時(shí)對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行研磨和拋光,效率高,重復(fù)制樣效果顯注,適合批量制樣,對(duì)于樣品制備量大,需要...
拋光: 拋光的目的是除去金相試樣磨面上由細(xì)磨留下的磨痕,成為平整無(wú)疵的鏡面。拋光結(jié)果在很大程度上取決于前幾道工序的質(zhì)量,故拋光之前應(yīng)仔細(xì)檢查磨面磨痕是否為單一方向且均勻,否則應(yīng)重新磨光,以免白費(fèi)時(shí)間。 拋光通常在**的金相樣品拋光機(jī)上灑以適量的...