phoenix v|tome|x m

——功能和優(yōu)點(diǎn)

主要功能

***緊湊型300kV微焦點(diǎn)CT系統(tǒng)，可進(jìn)行<1米的詳細(xì)探測

300kV時(shí)的行業(yè)***的吸收樣品放大倍率

高功率CT和高分辨率nanoCT®的獨(dú)特的***配置

***佳易用性源于帶自動(dòng)的點(diǎn)擊和測量|CT選項(xiàng)的***的phoenix

    datos|x CT軟件

優(yōu)化的CT采集條件、帶溫度穩(wěn)定的X射線管的的三維計(jì)量包、數(shù)字探測器陣列柜，以及高精度的直接測量系統(tǒng)

顧客利益

高精度3D測量和以***少的操作員培訓(xùn)執(zhí)行的非***壞性測試任務(wù)

具有高功率X射線管，***、快速探測技術(shù)和***自動(dòng)化，使產(chǎn)量增加

具有獨(dú)特的GE

    DXR探測器陣列（高達(dá)30幀）的極快速CT數(shù)據(jù)采集功能，圖像非常清晰。

所有主要硬件和系統(tǒng)的CT軟件組件GE技術(shù)專有，優(yōu)化后互相兼容

phoenix v|tome|x s

-----------------特色

主要功能：

獨(dú)特的開放式納米聚焦-微米聚焦***組合是可能的（180千伏/；

    15 W高功率納米聚焦X射線管和240千伏/ 320瓦的微米聚焦管）；

高達(dá)10倍的增加的燈絲壽命，通過長壽命的|燈絲（可選）確保了長期穩(wěn)定性和***佳系統(tǒng)效率；

通過菱形|窗口（可選）以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集；

通過高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測器獲取的30 FPS（幀每秒）（可選）的快速CT采集和清晰的活動(dòng)影像。

華東納米級(jí)工業(yè)CT測試CT技術(shù)之 - 三維表面提取。

Seifert x|blade：

是一種易于使用的無損 (NDT) X 射線檢測系統(tǒng)，適用于鑄件，具有獨(dú)特的超高成像質(zhì)量和大體積通過能力。它將對(duì)待測部件的機(jī)器人***、成像鏈（可對(duì)成像鏈進(jìn)行定制以滿足特定需求）與符合 DICONDE要求的影像審查、共享和存檔系統(tǒng)融于一體，從而提供快速、靈活的檢測及快速審查。Seifert x|blade 系統(tǒng)是 GE 旗下檢測科技業(yè)務(wù)部門的產(chǎn)品之一，用于幫助客戶從膠片式的***成像技術(shù)過渡到數(shù)字化的***成像技術(shù)。

主要特性和優(yōu)點(diǎn)：

可定制的成像鏈，使用基本空間分辨率和焦點(diǎn)尺寸組合進(jìn)行了優(yōu)化，以滿足影像質(zhì)量要求或***大程度地減少***次數(shù)

配有機(jī)器人***的自動(dòng)化檢測計(jì)劃，無需人機(jī)交互即可實(shí)現(xiàn)多次觀測

E持久閃爍器技術(shù)，可消除探測器的拖影和滯后

成套系統(tǒng)的占地空間小，且***大程度地利用了已發(fā)布的平臺(tái)的組件和概念

符合 DICONDE 要求的解決方案，配有用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和保留的數(shù)種選件，利用查詢功能可查詢所有帶 DICONDE 標(biāo)記的字段

phoenix microme|x

—— 高分辨率的微焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng)，主要設(shè)計(jì)用于焊點(diǎn)和電子元件的實(shí)時(shí)X射線檢測

     它將高分辨率的二維X射線技術(shù)和計(jì)算機(jī)斷層掃描結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中，同時(shí)具有創(chuàng)新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的圖像質(zhì)量，可以用于故障分析實(shí)驗(yàn)室以及生產(chǎn)車間。它配備了phoenix|X射線專有的圖像處理軟件，用于PCB裝配的自動(dòng)檢測，提供更高的缺陷覆蓋率，同時(shí)提高了生產(chǎn)效率。

 通過菱形|窗口以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集

v|tome|x L 450

—— 多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng)，用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無損X射線檢測

花崗巖底座，可以處理大樣本，并具有***高精度。該系統(tǒng)是用于無效和缺陷檢測和鑄件的三維測量（如首件檢測）的***佳解決方案?？蛇x的第二種X射線管可使 v|tome|x L 450 適應(yīng)任何種類的工業(yè)和科學(xué)CT應(yīng)用。

射線無損檢測用于檢測鑄件和焊縫缺陷。微焦點(diǎn)X射線技術(shù)和工業(yè)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(mico

ct)的結(jié)合，使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測成為可能，并提供低對(duì)比度缺陷的三維圖像。

鋁鑄件的三維微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)含有一些空隙率。 檢測原理：射線透照材料后發(fā)生衰減，進(jìn)行二維X-ray成像；通過對(duì)樣品進(jìn)行360°掃描，獲得巖樣三維模型。浙江微納米工業(yè)CT測量

植入物關(guān)節(jié)尺寸測量，植入物關(guān)節(jié)缺陷檢測。東莞微納米工業(yè)CT探傷

無使用壽命限制160kV/20W高功率X射線管, 易于穿透高吸收性工件

可選高對(duì)比度CMOS平板探測器, 有更好的實(shí)時(shí)檢測能力

功能***的CT軟件模塊, 操作簡單快速

設(shè)計(jì)人性化和操作簡便易用

可實(shí)時(shí)CAD數(shù)據(jù)匹配

自動(dòng)實(shí)時(shí)導(dǎo)航圖功能, 易于對(duì)樣品的上下表面和內(nèi)部進(jìn)

    行快速***

激光防碰撞設(shè)計(jì)以保護(hù)工件

占地面積小

應(yīng)用：

安裝好的印刷電路板

μBGA的二維X射線圖像

將功率半導(dǎo)體元器件的表面焊接到陶瓷基板上。在穿過3毫米厚的銅制散熱器后，基板上可見空洞，半導(dǎo)體的焊點(diǎn)無空洞。甚至連細(xì)鋁焊線也可看見。  

半導(dǎo)體與其他電子元件

在任何時(shí)間通過任何檢測角度通過實(shí)時(shí)CAD數(shù)據(jù)匹配得到實(shí)時(shí)影像

英華檢測（上海）有限公司是一家檢測設(shè)備、儀器儀表、機(jī)械設(shè)備、機(jī)電設(shè)備及其零部件、電子產(chǎn)品、五金交電、汽車配件的研發(fā)、制造、加工、銷售，工業(yè)設(shè)計(jì)，從事貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)，檢測服務(wù)，自有設(shè)備租賃，工業(yè)檢測設(shè)備的維修及安裝，會(huì)務(wù)服務(wù)，商務(wù)咨詢，從事計(jì)算機(jī)科技、檢測技術(shù)、汽車科技、勘探技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓。的公司，是一家集研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司。英華檢測深耕行業(yè)多年，始終以客戶的需求為向?qū)В瑸榭蛻籼峁?**的工業(yè)CT，工業(yè)CT檢測服務(wù)。英華檢測始終以本分踏實(shí)的精神和必勝的信念，影響并帶動(dòng)團(tuán)隊(duì)取得成功。英華檢測始終關(guān)注自身，在風(fēng)云變化的時(shí)代，對(duì)自身的建設(shè)毫不懈怠，高度的專注與執(zhí)著使英華檢測在行業(yè)的從容而自信。