帽蓋上設有供頂針的針體穿過的通孔。進一步的,帽蓋的頂部為平面且該平面平行于球缺底面。進一步的,通孔垂直于帽蓋的底面。進一步的,通孔以帽蓋的球冠頂點為中心圓周分布,通孔的分布圈數(shù)大于等于2,帽蓋的球冠頂點設有通孔。進一步的,外圈的通孔的頂部高于帽體上頂面或與帽體的上頂面齊平。進一步的,頂針的數(shù)量大于等于1個。進一步的,帽體的頂面設有安裝槽,帽蓋的底面邊緣處設有配合安裝槽使用安裝塊。進一步的,安裝槽靠近帽體的外壁設有倒角,倒角的一邊與安裝塊接觸。進一步的,倒角為45度倒角。本實用新型的有益效果是:本實用新型提供了一種球面頂針帽,將帽蓋的結構從平板改為球缺,當頂針上頂芯片貼膜時,球缺形的帽蓋能給貼膜一個輕微的形變,使芯片貼膜能有一個向下的預張力,在配合頂針向上頂,能有效的使芯片與貼膜分離。附圖說明為了更清楚地說明本實用新型實施例的技術方案,下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹,應當理解,以下附圖*示出了本實用新型的某些實施例,因此不應被看作是對范圍的限定,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。圖1為實施例一提供的球面頂針帽的剖視圖。主要試驗機有荷重-位移曲線機、全自動插拔力試驗機、三軸按鍵開關荷重位移曲線儀,電腦全自動扭力試驗機。廣州頂針型號如何選擇
本實用新型涉及模具的技術領域,具體涉及模具的滑塊頂針機構。背景技術:針對一種裝配要求高的產品,該產品具有底部和與該底部相垂直的垂直部,生產中要求產品的豎直部與底部的垂直度要控制在,該產品通常使用模具進行成型。但是,目前,在產品成型過程中,由于產品的側壁存在倒扣位,此處只能由滑塊抽芯成型,由于滑塊抽芯時會給產品一個側向的拉力,將會導致產品垂直度變差,不能滿足生產要求?,F(xiàn)有技術中,針對這種問題的解決方案是對產品進行后期整形,但這樣使產品的生產效率低下。技術實現(xiàn)要素:鑒于背景技術的不足,本實用新型提供了模具的滑塊頂針機構,其所要解決的技術問題是如何在模具加工中保證產品局部的垂直度。為解決以上技術問題,本實用新型提供了如下技術方案:模具的滑塊頂針機構,包括固定連接的滑座和滑塊,所述滑座在靠近所述滑塊一側設有容納槽,所述容納槽內置有滑板,所述滑座上設有可推動所述滑板在所述容納槽中移動的彈簧,所述滑板上固定安裝有若干復位桿和頂針,所述復位桿和所述頂針穿設在所述滑塊中。所述容納槽的軸向長度大于所述滑板的軸向長度。所述滑座上設有彈簧槽,所述彈簧槽設置在所述容納槽一側并與其相連通。常州頂針哪里買蘇州昕昀秉持著“敬業(yè)、團體、創(chuàng)新”的企業(yè)精神,逐步形成了強大的技術支持。
頂針探針荷重行程阻抗試驗機簡介:頂針荷重行程阻抗試驗機適用于各種頂針、探針、按鍵、開關之荷重-行程-阻抗曲線測試。測試產品力值行程的同時可以測試接觸電阻。頂針探針一般行程零點幾毫米的時候力值才20克左右,力值小,行程精度高所以對試驗機要求較高。另外頂針探針的接觸電阻在幾毫歐以內,對測頭以及測試底板表面處理要求高。我司此款試驗機測試頂針探針荷重行程的同時可以測試其接觸電阻。頂針探針荷重行程阻抗試驗機我司有兩款,一款是單軸的,適合抽檢測試,工程分析測試。另外一款是三軸的適合整版頂針探針的荷重行程測試,同時顯示出接觸電阻。此機器還可以測試壽命測試??梢栽O定打擊多少次以后就進行壽命測試。PogoPin荷重行程阻抗試驗機目前我司試驗機技術先進:DSP數(shù)據采集系統(tǒng),工業(yè)以太網傳輸數(shù)據,采樣速率高達27kHZ,***抗干擾能力。探針荷重行程阻抗試驗機特點:量測曲線圖由電腦記憶,可隨時放大、縮小,一張A4紙可任意指定放置N個曲線圖。測定專桉可輸入上、下限規(guī)格值,測定結果可自動判定OK或NO。可輸入大測定行程及荷重,電腦自動控制。荷重單位顯示N、Ib、gf、kgf可自由切換電腦直接列印及儲存荷重-行程曲線圖、檢查報表。(不需要方格紙。
本發(fā)明涉及半導體制造領域,尤其涉及一種空氣頂針式芯片膜上分離裝置。背景技術:在半導體芯片的制作過程中,整個晶圓制作完成后,首先需要把晶圓貼到粘性膜上,進行劃片,把晶圓切割成一顆顆單獨芯片,之后需要把單獨的芯片從粘性膜上取下來,轉入托盤,料帶或者直接貼裝在基板上。從粘性膜上吸取芯片的過程中,因為膜有粘性,直接用吸嘴從膜上吸取,真空力無法克服膜的粘力,取不下來。需要把芯片從膜上頂起來,使芯片的大部分與膜脫離,只剩下很下的部分還和膜粘著,這樣吸嘴從上面吸取芯片,所需要克服的粘力就很小了,就可以很順利的把芯片吸走了?,F(xiàn)有的把芯片從膜上頂升,讓芯片和膜剝離的方法,主要是頂針的方法,芯片頂升時,頂升座用真空吸附住膜,從芯片的正下方,頂起一根或多根,頂針前端磨細,針尖做成圓弧,保證既可以減少接觸面積,又不會頂破膜。頂針頂升時,因為周邊的膜被真空吸附在下面的頂升座上,只有頂針冒出把芯片頂升,芯片周邊的膜會從芯片上剝離開,只剩下頂針處還有很小面積的膜還接觸著芯片,這樣膜的粘力就很弱了,上面的真空吸嘴就可以把芯片吸走了。頂針的方法,可以對應厚度超過100微米的芯片,厚的芯片,剛性比較好,頂針頂升時。對于細小頂針的測試我司也有豐富的經驗微克檢測設備限公司結合市場上客戶需要。
該升降裝置包括第三伺服電機340、凸輪341、半圓狀的定位盤342與傳感器350。第三伺服電機340固定于豎板312外側,其電機軸穿過豎板312上的開孔伸入基座310里側,凸輪341與定位盤342依次套設于電機軸上。凸輪341與頂桿410的凸起端頭411相抵。從而能夠通過第三伺服電機340的旋轉,依次驅動凸輪341、頂桿410、連接塊510,帶動頂塊500的升降。傳感器350安裝于豎板312上,傳感器350中間設有一道感應凹槽351,定位盤342能夠在旋轉時穿過該感應凹槽351,被傳感器350感應。通過傳感器350感應定位盤342,使該升降裝置能夠初始化頂升頭400的初始位置,并且能夠精確控制頂升頭400的頂升高度,例如圖10、圖11所示,傳感器350感應到定位盤342的直徑邊緣342a作為起始零點,通過感應定位盤342旋轉預定角度a控制頂升頭400的頂升高度。如圖3、圖5與圖6所示,該頂桿410的凸起端頭411上設有氣管接頭412、該頂桿410內具有連通氣管接頭412的第二氣道413,第二氣道413連通位于頂桿410頂部的第二氣孔414。如圖6所示,該連接塊510中具有豎直貫孔,該豎直貫孔分別連通第二氣孔414與圈形磁鐵560的中心孔。如圖6所示,該頂塊500內具有連通方形凹腔541與圈形磁鐵560中心孔的第三氣道550。如圖1和圖3所示,滑塊104上還設有支架360。A型頂針品牌哪家好
以上就是本發(fā)明的整體結構,工作時,首先,將真空吸頭330移動到放置有芯片的粘性膜下方。廣州頂針型號如何選擇
所述彈簧設置于所述彈簧槽中,所述彈簧的一端抵住所述滑座,另一端抵住所述滑板。所述復位桿和所述頂針可穿出所述滑塊。本實用新型與現(xiàn)有技術相比所具有的有益效果是:本實用新型能夠解決產品在模具中成型后因滑塊抽芯拉力導致的產品局部的垂直度差的問題,通過頂針保證產品的垂直度滿足指定要求,保證產品加工質量,提高產品的生產效率。附圖說明本實用新型有如下附圖:圖1為本實用新型的示意圖;圖2為圖1隱藏滑塊后的示意圖;圖3為圖1的主視圖;圖4為圖3的a-a剖視圖。具體實施方式如圖所示,本實施例的這種模具的滑塊頂針機構,包括固定連接的滑座1和滑塊2,滑座1在靠近滑塊2一側設有容納槽11,容納槽11內置有滑板3,滑座1上設有可推動滑板3在容納槽11中移動的彈簧4,滑板3上固定安裝有若干復位桿7和頂針5,復位桿7和頂針5穿設在所述滑塊2中,其中,頂針5的作用是在模具開模過程中、復位桿7和動模仁分離前一直頂住產品6的垂直部61,防止產品6的垂直部61發(fā)生偏移。在本實施例中,為了使滑板3能夠在容納槽11中軸向移動,容納槽11的軸向長度大于滑板3的軸向長度。在本實施例中,滑座1上設有彈簧槽12,彈簧槽12設置在所述容納槽11一側并與其相連通,彈簧4設置于彈簧槽12中。廣州頂針型號如何選擇
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