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重慶半導(dǎo)體晶圓10寸

來源: 發(fā)布時間:2022-07-25

    氣泡內(nèi)氣體或蒸汽的溫度不需要冷卻至室溫或清洗液的溫度。它可以是高于室溫或清洗液溫度的一定溫度。較佳地,該溫度是明顯低于內(nèi)爆溫度ti。根據(jù)公式(8)和(9),如果已知(δt-δt),可以計算出內(nèi)爆時間τi。但通常情況下,(δt-δt)不太容易被計算出或直接得到。然而可以憑經(jīng)驗直接得到τi的值。圖7e揭示了根據(jù)經(jīng)驗得出內(nèi)爆時間τi值的流程圖。在步驟7210中,基于表1,選擇五個不同的時間段τ1作為實驗設(shè)定(doe)的條件。在步驟7220中,選擇至少是τ1十倍的時間段τ2,在***次測試時**好是100倍的τ1。在步驟7230中,使用確定的功率水平p0運行以上五種條件來分別清洗具有圖案結(jié)構(gòu)的晶圓。此處,p0是在如圖6a所示的連續(xù)不間斷模式(非脈沖模式)下確定會對晶圓的圖案結(jié)構(gòu)造成損傷的功率水平。在步驟7240中,使用掃描電鏡(sem)或晶圓圖案損傷查看工具來檢查以上五種晶圓的損壞程度,如應(yīng)用材料的semvision或日立is3000,然后內(nèi)爆時間τi可以被確定在某一范圍。損傷特征的百分比可以通過由掃描電鏡檢查出的損傷特征總數(shù)除以圖案結(jié)構(gòu)特征的總數(shù)。也可以通過其它方法計算得出損傷特征百分比。例如,**終晶圓的成品率可以用來表征損傷特征的百分比。成都8寸半導(dǎo)體晶圓厚度多少?重慶半導(dǎo)體晶圓10寸

    用振幅隨著時間變化的電源的功率水平p來代替如圖7a及圖7d中步驟7040所示的恒定的功率水平p1。在一個實施例中,如圖8a所示,在時間段τ1內(nèi),電源的功率振幅p增大。在另一個實施例中,如圖8b所示,在時間段τ1內(nèi),電源的功率振幅p減小。在又一個實施例中,如圖8c所示,在時間段τ1內(nèi),電源的功率振幅p先減小后增大。在如圖8d所示的實施例中,在時間段τ1內(nèi),電源的功率振幅p先增大后減小。圖9a至圖9d揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。在該聲波晶圓清洗工藝中,電源的頻率隨著時間變化,而這個工藝中的其他方面與圖7a至圖7d中所示的保持一樣,在該實施例中,用隨著時間變化的電源的頻率來代替如圖7a及圖7d中步驟7040所示的恒定的頻率f1。如圖9a所示,在一個實施例中,在時間段τ1內(nèi),電源的頻率先設(shè)置為f1后設(shè)置為f3,f1高于f3。如圖9b所示,在一個實施例中,在時間段τ1內(nèi),電源的頻率先設(shè)置為f3后增大至f1。如圖9c所示,在一個實施例中,在時間段τ1內(nèi),電源的頻率從f3變化至f1再變回f3。如圖9d所示,在一個實施例中,在時間段τ1內(nèi),電源的頻率從f1變?yōu)閒3再變回f1。與圖9c所示的清洗工藝相似,在一個實施例中,在時間段τ1內(nèi),電源的頻率先設(shè)置為f1。河北半導(dǎo)體晶圓銷售廠西安怎么樣半導(dǎo)體晶圓?

    在步驟1550之后,可以獲得圖3、圖8a或圖8b所示的基板結(jié)構(gòu)300或800。在步驟1550之后,流程可以前往可選的步驟1570。在一實施例當中,還可以前往步驟1580。可選的步驟1570:涂布樹酯層。為了形成如圖4、5a、5b、9、10a與10b所示的基板結(jié)構(gòu)400、500、900與1000,可以在步驟1550之后執(zhí)行本步驟1570。圖16h~j所示的實施例,分別是在圖16e~g所示實施例的金屬層上涂布樹酯層之后的結(jié)果。步驟1580:后續(xù)的封裝。步驟1580可以包含多個子步驟,例如將晶圓貼上膠膜(通常是藍色pvc膠膜)進行保護。接著,打印芯片卷標,用于標示芯片的制造商、芯片型號、制造批號、制造廠、制造日期等。然后,進行芯片的切割,以及后續(xù)的上托盤(tray)或卷帶(tapeandreel)的包裝步驟等。如果前述的步驟1520~1570是施作在芯片上時,則步驟1580可以包含打印芯片卷標以及上托盤(tray)或卷帶(tapeandreel)的包裝步驟,省略了切割晶圓已得到芯片的步驟。本申請所提供的晶圓制作方法1500,可以對晶圓的所有芯片同時進行施工,以便讓晶圓的所有芯片都能夠具有前述的基板結(jié)構(gòu)之一。而無須針對每一片芯片個別進行施工,可以節(jié)省施作時間,減少成本。根據(jù)本申請的一實施例。

    在其他區(qū)域利用較厚的樹酯層540替換部分的金屬層510的金屬,以便適應(yīng)不同的半導(dǎo)體元器件所需要的基板結(jié)構(gòu)電阻值。在制作方面,雖然樹酯層540的深度、形狀與位置有所變化,但由于制作樹酯層540的工序都是一樣,所以成本只和金屬用量的多少有關(guān)而已。請參考圖8a所示,其為根據(jù)本申請一實施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)800的一剖面示意圖。該結(jié)構(gòu)800依序包含半導(dǎo)體組件層130、晶圓層820與金屬層810。和圖3所示的結(jié)構(gòu)300相比,除了晶圓層820外緣的邊框之外,在晶圓層820的**,也有加強用的內(nèi)框結(jié)構(gòu)。在圖8a當中,可以看到兩個內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解到,內(nèi)框結(jié)構(gòu)可以增進晶圓層820的結(jié)構(gòu)強度。但需要注意的是,安排在內(nèi)框結(jié)構(gòu)上方的半導(dǎo)體元器件,其所適用基板結(jié)構(gòu)的電阻值就會比其他區(qū)域的電阻值來得高。因此,可以盡量不要安排需要較低基板結(jié)構(gòu)電阻值的半導(dǎo)體元器件在這些內(nèi)框結(jié)構(gòu)的上方。雖然在圖8a所示的實施例當中,只示出兩個內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822,且該內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822相對于邊框的距離是相同的。但本申請并不限定內(nèi)框結(jié)構(gòu)的數(shù)量、位置、形狀等配置的參數(shù)。請參考圖8b所示,其為根據(jù)本申請一實施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)800的一剖面示意圖。國內(nèi)哪家做半導(dǎo)體晶圓比較好?

    本發(fā)明涉及半導(dǎo)體晶圓清洗領(lǐng)域,更具體地,涉及采用可控聲能的濕法清洗方法和裝置。背景技術(shù):半導(dǎo)體器件是在半導(dǎo)體晶圓上采用一系列的處理步驟來制造晶體管和互連元件。近來,晶體管的建立由兩維到三維,例如鰭型場效應(yīng)晶體管。互連元件包括導(dǎo)電的(例如金屬)槽、通孔等形成在介質(zhì)材料中。為了形成這些晶體管和互連元件,半導(dǎo)體晶圓經(jīng)過多次掩膜、蝕刻和沉積工藝以形成半導(dǎo)體器件所需的結(jié)構(gòu)。例如,多層掩膜和等離子體刻蝕步驟可以在半導(dǎo)體晶圓上的電介質(zhì)層中形成作為鰭型場效應(yīng)晶體管的鰭的凹進區(qū)域和互連元件的槽和通孔。為了去除刻蝕或光刻膠灰化后在鰭結(jié)構(gòu)和/或槽和通孔內(nèi)的顆粒和污染物,必須進行濕法清洗。然而,濕法過程中使用的化學液可能會導(dǎo)致側(cè)壁損失。當器件制造節(jié)點不斷接近或小于14或16nm,鰭和/或槽和通孔的側(cè)壁損失是維護臨界尺寸的關(guān)鍵。為了減少或消除側(cè)壁損失,應(yīng)當使用溫和的或稀釋的化學液,有時甚至只使用去離子水。然而,溫和的或稀釋的化學液或去離子水通常不能有效去除鰭結(jié)構(gòu)和/或槽和通孔內(nèi)的微粒,因此,需要使用機械力來有效去除這些微粒,例如超聲波/兆聲波。超聲波/兆聲波會產(chǎn)生氣穴振蕩來為晶圓結(jié)構(gòu)的清洗提供機械力。然而。國內(nèi)半導(dǎo)體晶圓廠家哪家好?德陽半導(dǎo)體晶圓制造工序

國外半導(dǎo)體晶圓產(chǎn)品品質(zhì)怎么樣?重慶半導(dǎo)體晶圓10寸

    為了盡可能地利用晶圓的面積來制作不同芯片,其中該半導(dǎo)體晶圓當中預(yù)定切割出一第二芯片區(qū)域,包含如該***芯片區(qū)域相同的該基板結(jié)構(gòu),該***芯片區(qū)域與該第二芯片區(qū)域的形狀不同。在一實施例中,為了使用晶圓級芯片制造技術(shù)來加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作,其中該半導(dǎo)體晶圓當中預(yù)定切割出多個芯片區(qū)域,該多個芯片區(qū)域當中的每一個都包含如該***芯片區(qū)域相同的該基板結(jié)構(gòu),該多個芯片區(qū)域當中的每一個芯片區(qū)域和該***芯片區(qū)域的形狀都相同。根據(jù)本申請的一實施例,提供一種晶圓制造方法,其特征在于,包含:據(jù)所欲切割的多個芯片區(qū)域的大小與圖樣,在一晶圓層的一第二表面上涂布屏蔽層,在該多個芯片區(qū)域其中的一***芯片區(qū)域,包含該屏蔽層未覆蓋的一中心凹陷區(qū)域與該屏蔽層覆蓋的一邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域,該中心凹陷區(qū)域位于該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域當中,該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周圍;蝕刻該中心凹陷區(qū)域的該晶圓層;去除該屏蔽層;以及在該第二表面上制造金屬層。在一實施例中,為了彌補較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強度,其中該***芯片區(qū)域更包含該屏蔽層未覆蓋的一***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該屏蔽層覆蓋的一***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域,該***環(huán)狀凹陷區(qū)域包圍該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域。重慶半導(dǎo)體晶圓10寸

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