這么多的組合是不可能完全通過人工設(shè)置和調(diào)整  的，必須有一定的機(jī)制能夠根據(jù)實(shí)際鏈路的損耗、串?dāng)_、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進(jìn)行  自動的參數(shù)設(shè)置和調(diào)整，這就是鏈路均衡的動態(tài)協(xié)商。動態(tài)的鏈路協(xié)商在PCIe3.0規(guī)范中  就有定義，但早期的芯片并沒有普遍采用；在PCIe4.0規(guī)范中，這個要求是強(qiáng)制的，而且很  多測試項(xiàng)目直接與鏈路協(xié)商功能相關(guān)，如果支持不好則無法通過一致性測試。圖4.7是  PCIe的鏈路狀態(tài)機(jī)，從設(shè)備上電開始，需要經(jīng)過一系列過程才能進(jìn)入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會進(jìn)行簡單的速率和位寬協(xié)商，而在Recovery階段則會進(jìn)行更  加復(fù)雜的發(fā)送端預(yù)加重和接收端均衡的調(diào)整和協(xié)商。網(wǎng)絡(luò)分析儀測試PCIe gen4和gen5，sdd21怎么去除夾具的值?USB測試PCI-E測試故障

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差，同時由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些USB測試PCI-E測試故障pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里？

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的  特點(diǎn)進(jìn)行了重新設(shè)計(jì)，上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似，典型  的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴(kuò)展出來的，根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部，成為CPU重要的外部擴(kuò)展總線。PCIe  總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。

要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù)，比如輸出信號的幅度、預(yù)加重、 差模噪聲、隨機(jī)抖動、周期抖動等，以滿足眼高、眼寬和抖動的要求。而且各個調(diào)整參數(shù)之間 也會相互制約，比如調(diào)整信號的幅度時除了會影響眼高也會影響到眼寬，因此各個參數(shù)的調(diào) 整需要反復(fù)進(jìn)行以得到 一個比較好化的組合。校準(zhǔn)中會調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進(jìn)行通道模型嵌入和均衡，并計(jì)算的眼高和眼寬。如果沒有達(dá)到要求，會在誤碼儀中進(jìn) 一步調(diào)整注入的隨機(jī)抖動和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達(dá)到參數(shù)要求。一種PCIE通道帶寬的測試方法;

PCIe4.0的測試項(xiàng)目PCIe相關(guān)設(shè)備的測試項(xiàng)目主要參考PCI-SIG發(fā)布的ComplianceTestGuide(一致性測試指南)。在PCIe3.0的測試指南中，規(guī)定需要進(jìn)行的測試項(xiàng)目及其目的如下(參考資料：PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測試):用于檢查主板以及插卡發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的電氣性能?！onfigurationTesting(配置測試):用于檢查PCIe設(shè)備的配置空間。·LinkProtocolTesting(鏈路協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備的鏈路層協(xié)議行為。在PCI-E的信號質(zhì)量測試中需要捕獲多少的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析？山東設(shè)備PCI-E測試

為什么PCI-E3.0開始重視接收端的容限測試？USB測試PCI-E測試故障

PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似，都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號質(zhì)量測試，并通過誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別，下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進(jìn)行描述。

PCIe5.0發(fā)送端信號質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號邊沿更陡。對于PCIe5.0芯片的信號測試，協(xié)會建議的測試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對于主板和插卡來說，由于測試點(diǎn)是在連接器的金手指處，信號經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會變緩一些，所以信號質(zhì)量測試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是，在接收端容限測試中，由于需要用示波器對誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會用到50GHz。 USB測試PCI-E測試故障