為了進(jìn)行更簡(jiǎn)單的讀寫分離，Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能，可以通過(guò)區(qū)域（Zone）定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開。

根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時(shí)間不同，Agilent獨(dú)有的InfiniiScan功能可以通過(guò)在屏幕上畫 出幾個(gè)信號(hào)必須通過(guò)的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù)，并進(jìn)一步進(jìn)行眼圖的測(cè)試。

信號(hào)的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號(hào)的眼圖分離出來(lái)。

除了形成眼圖外，我們還可以利用示波器的模板測(cè)量功能對(duì)眼圖進(jìn)行定量分析，

用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個(gè)模板對(duì)讀、寫信號(hào)進(jìn)行模板測(cè)試，如 果模板測(cè)試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 DDR 設(shè)計(jì)和測(cè)試解決方案；眼圖測(cè)試DDR一致性測(cè)試HDMI測(cè)試

我們看到，在用通用方法進(jìn)行的眼圖測(cè)試中，由于信號(hào)的讀寫和三態(tài)都混在一起，因此很難對(duì)信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估。要進(jìn)行信號(hào)的評(píng)估，第1步是要把讀寫信號(hào)分離出來(lái)。傳統(tǒng)上有幾種方法用來(lái)進(jìn)行讀寫信號(hào)的分離，但都存在一定的缺陷。可以利用讀寫Preamble的寬度不同用脈沖寬度觸發(fā)，但由于JEDEC只規(guī)定了WritePreamble寬度的下限，因此不同芯片間Preamble的寬度可能是不同的，而且如果Read/Write的Preamble的寬度一樣，則不能進(jìn)行分離。也可以利用讀寫信號(hào)的幅度不同進(jìn)行分離，如圖7-138中間 的圖片所示，但是如果讀寫信號(hào)幅度差別不大，則也不適用6還可以根據(jù)RAS、CAS、CS、 WE等控制信號(hào)來(lái)分離讀寫，但這種方法要求通道數(shù)多于4個(gè)，只 有帶數(shù)字通道的MSO示波器才能滿足要求，比如Agilent的MS09000A系列或者 MSOX90000A系列，對(duì)于用戶示波器的要求比較高。云南DDR一致性測(cè)試調(diào)試DDR4協(xié)議/功能調(diào)試和分析參考解決方案。

DDR地址、命令總線的一致性測(cè)試

DDR的地址、命令總線的信號(hào)完整性測(cè)試主要測(cè)試其波形和時(shí)序參數(shù)。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測(cè)試的信號(hào)品質(zhì)主要包括：Vmax （最大電壓值）；Vmin （小電壓值）；Overshoot （過(guò)沖）和Undershoot （下沖）的持續(xù)時(shí)間的大值；Slew Rate （斜率）；Ringback （回溝）等。還需要測(cè)試相對(duì)于時(shí)鐘邊沿的Setup Time （建立時(shí)間）和Hold Time （保持時(shí)間）。建立時(shí)間和保持時(shí)間的定義如圖7.134所示，其中加為建立時(shí)間，如為 保持時(shí)間，針對(duì)DDR400,加和如為0.7ns。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

DDR SDRAM即我們通常所說(shuō)的DDR內(nèi)存，DDR內(nèi)存的發(fā)展已經(jīng)經(jīng)歷了五代，目前 DDR4已經(jīng)成為市場(chǎng)的主流，DDR5也開始進(jìn)入市場(chǎng)。對(duì)于DDR總線來(lái)說(shuō)，我們通常說(shuō)的 速率是指其數(shù)據(jù)線上信號(hào)的快跳變速率。比如3200MT/s,對(duì)應(yīng)的工作時(shí)鐘速率是 1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數(shù)據(jù)線上比較高傳輸速率，由于在DDR總線 上會(huì)有讀寫間的狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí)間、高阻態(tài)時(shí)間、總線刷新時(shí)間等，因此其實(shí)際的總線傳輸速率 達(dá)不到這個(gè)理想值。 DDR讀寫眼圖分離的InfiniiScan方法？

測(cè)試軟件運(yùn)行后，示波器會(huì)自動(dòng)設(shè)置時(shí)基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量并匯總成一 個(gè)測(cè)試報(bào)告，測(cè)試報(bào)告中列出了測(cè)試的項(xiàng)目、是否通過(guò)、spec的要求、實(shí)測(cè)值、margin等。 自動(dòng)測(cè)試軟件進(jìn)行DDR4眼圖睜開度測(cè)量的一個(gè)例子。信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試還可以  輔 助 用 戶 進(jìn) 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 ， 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能，用戶可以通過(guò)軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻，并分析對(duì)信號(hào)質(zhì) 量的影響。

除了一致性測(cè)試以外，DDR測(cè)試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個(gè)關(guān)鍵參數(shù)測(cè)試 失敗后，可以針對(duì)這個(gè)參數(shù)進(jìn)行Debug。此時(shí)，測(cè)試軟件會(huì)捕獲、存儲(chǔ)一段時(shí)間的波形并進(jìn) 行參數(shù)統(tǒng)計(jì)，根據(jù)統(tǒng)計(jì)結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時(shí)對(duì)應(yīng)的波形位置， DDR2 3 4物理層一致性測(cè)試；云南DDR一致性測(cè)試調(diào)試

DDR1 電氣一致性測(cè)試應(yīng)用軟件。眼圖測(cè)試DDR一致性測(cè)試HDMI測(cè)試

由于讀/寫時(shí)序不一樣造成的另一個(gè)問(wèn)題是眼圖的測(cè)量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒(méi) 有要求進(jìn)行眼圖測(cè)試，但是很多時(shí)候眼圖測(cè)試是一種快速、直觀衡量信號(hào)質(zhì)量的方法，所以 許多用戶希望通過(guò)眼圖來(lái)評(píng)估信號(hào)質(zhì)量。而對(duì)于DDR4的信號(hào)來(lái)說(shuō)，由于時(shí)間和幅度的余量更小，必須考慮隨機(jī)抖動(dòng)和隨機(jī)噪聲帶來(lái)的誤碼率的影響，而不是做簡(jiǎn)單的建立/保  持時(shí)間的測(cè)量。因此在DDR4的測(cè)試要求中，就需要像很多高速串行總線一樣對(duì)信號(hào)疊加  生成眼圖，并根據(jù)誤碼率要求進(jìn)行隨機(jī)成分的外推，然后與要求的小信號(hào)張開窗口(類似  模板)進(jìn)行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測(cè)量方法(參考資料： JEDEC     STANDARD    DDR4     SDRAM,JESD79-4)。眼圖測(cè)試DDR一致性測(cè)試HDMI測(cè)試