對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術,它基于Bragg衍射以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結(jié)構信息。其中,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結(jié)構的信息(即長程有序),通過漫散射,表征其局部結(jié)構(即短程有序)。就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶、弱晶型、納米晶或納米結(jié)構材料的分析結(jié)果而言,D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構測定和精修納米粒度和形狀。UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力。江蘇全新XRD衍射儀檢測
藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經(jīng)過溶解、研磨、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,進而可能影響到藥物的療效。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,特別是API含量非常少的制劑樣品,檢測更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,配合高性能的先進檢測器,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具。北京第三方檢測機構XRD衍射儀在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同不,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果。
介孔分子篩SBA-15結(jié)構分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構,具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容,而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,有利于它在溫度較高、體系中有水的反應中應用,因此在催化、分離、生物及納米材料等領域有應用前景。SBA-15結(jié)構特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關聯(lián),而XRD是表征其結(jié)構的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞較大,其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,這導致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號。目前,隨著衍射儀的發(fā)展,動態(tài)光路對的設計很好的解決了這類問題。實例SBA-15小角度XRD圖譜,五個衍射峰分別對應(100)、(110)、(200)、(300)、(220)。根據(jù)圖2示意圖,計算得到平均孔距
殘余應力分析::在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr輻射進行測量,對鋼構件的殘余應力進行分析。使用了2D檢測器的μXRD:使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構特性。通過積分2D圖像,進行1D掃描,來進行定性相分析和微觀結(jié)構分析。定性相分析:候選材料鑒別(PMI)為常見,這是因為其對原子結(jié)構十分靈敏,而這無法通過元素分析技術實現(xiàn)。高通量篩選(HTS):在DIFFRAC.EVA中,進行半定量分析,以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度。非環(huán)境XRD:在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果。小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行粒度分析。D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析:掠入射衍射、X射線反射率測量。
超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術的發(fā)展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節(jié)點的a20范圍內(nèi)。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE??偵⑸浞治觯築ragg衍射、對分布函數(shù)(PDF)、小角X射線散射(SAXS)。合肥熟料礦相檢測分析
D8 DISCOVER系列是市面上準確、功能強大和靈活的X射線衍射解決方案。江蘇全新XRD衍射儀檢測
粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細灰,粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物。粉煤灰是我國當前排量較大的工業(yè)廢渣之一。大量的粉煤灰不加處理,就會產(chǎn)生揚塵,污染大氣;若排入水系會造成河流淤塞,而其中的有毒化學物質(zhì)還會對人體和生物造成危害。所以,粉煤灰的再利用一直都是關注的熱點。比如,已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等。要合理高效的利用粉煤灰,則需要對其元素和礦相組成有詳細的了解。粉煤灰的礦相主要莫來石、石英以及大量的非晶態(tài)。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標準物質(zhì)以精確的計算非晶相物質(zhì)的含量。在實驗室中這個方法是可行的,但在實際生產(chǎn)和快速檢測過程中,這個方法就現(xiàn)實。目前一種全新的PONKS(PartialOrNoKnowCrystalStructure)方法*,解決了這一難題,實現(xiàn)了粉煤灰樣品的無標樣定量分析。江蘇全新XRD衍射儀檢測