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杭州搖擺曲線檢測分析

來源: 發(fā)布時間:2023-12-21

嬰兒爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妝品常見的有各種潤膚粉、美容粉、爽身粉等。因滑石粉具有阻隔紅外線的作用,能增強(qiáng)這類化妝品的防曬和抗紅外線的性能。所以,在日常生活中使用。由于石棉是滑石的伴生礦物,滑石粉中可能含有石棉。石棉纖維被人體吸入到肺會引起石棉肺惡性疾病,我國已明確把石棉列為化妝品禁用物質(zhì),用于化妝品生產(chǎn)的滑石粉必須經(jīng)過檢測不含石棉成分方可使用。判斷滑石中是否存在石棉通常采用偏光或電子顯微鏡和X射線衍射相結(jié)合的辦法。而石棉的定量分析一直是石棉分析中的一個難點(diǎn),主要采用X射線衍射法。石棉定量采用基底修正法,具體操作步驟請參考:?SN/T2549.2-2010:進(jìn)出口化妝品中石棉的測定:第2部分:X射線衍射-偏光顯微鏡法?ISO22262-3_2016:QuantitativedeterminationofasbestosbyX-raydiffractionmethod?GB/T23263-2009:制品中石棉含量測定法根據(jù)應(yīng)用需求,調(diào)節(jié)探測器的位置和方向,包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續(xù)變化、支持自動對光。杭州搖擺曲線檢測分析

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那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]:式中:0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,nm;0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,nm。為實(shí)際石墨試樣(002)晶面間距,nm。實(shí)例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位,需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn)。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,用硅作為內(nèi)標(biāo)物,加入待測石墨樣品中,在瑪瑙研缽中混合研磨均勻。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),應(yīng)用于冶金、化工、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。合肥失配檢測分析卡口安裝式Eulerian托架可支持多種應(yīng)用,如應(yīng)力、織構(gòu)和外延膜分析,包括在非環(huán)境條件下。

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D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點(diǎn)X射線源,其能耗極低,無需外設(shè)水冷,對實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)施亦無特殊要求。您只需準(zhǔn)備家用壁式插座即可。因此,您將能簡單快捷地完成安裝和定位。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下,將擁有成本和立式XRD儀器的生態(tài)足跡降至。插件分析:無需外設(shè)水冷:每年可節(jié)約高達(dá)1.700m3的自來水耗電減少50%左右需單相電源,由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準(zhǔn)直,同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗(yàn)證的支持。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。

藥物:從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),D8D為藥品的整個生命周期提供支持,其中包括結(jié)構(gòu)測定、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試。地質(zhì)學(xué):D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選。借助μXRD,哪怕是對小的包裹體進(jìn)行定性相分析和結(jié)構(gòu)測定也不在話下。金屬:在常見的金屬樣品檢測技術(shù)中。殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測不過是其中的一小部分,檢測目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求。薄膜計量:從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質(zhì)量、薄膜厚度、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù)。D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,可通過使用的是標(biāo)準(zhǔn)D8測角儀還是ATLAS測角儀進(jìn)行區(qū)分。

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介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu),具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容,而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,有利于它在溫度較高、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,因此在催化、分離、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián),而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞較大,其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號。目前,隨著衍射儀的發(fā)展,動態(tài)光路對的設(shè)計很好的解決了這類問題。實(shí)例SBA-15小角度XRD圖譜,五個衍射峰分別對應(yīng)(100)、(110)、(200)、(300)、(220)。根據(jù)圖2示意圖,計算得到平均孔距無論面對何種應(yīng)用,DIFFRAC.DAVINCI都會指引用戶選擇較好的儀器配置。杭州搖擺曲線檢測分析

支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,包括高性能X射線源、定制版光學(xué)器件、定制版樣品臺和多模式探測器。杭州搖擺曲線檢測分析

D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,是重要的材料研究工具之一。D8DISCOVER就是布魯克推出的、用于材料研究的旗艦款XRD儀器。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過的組件,可為您帶來較好的性能和充分的靈活性,同時讓研究人員對材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征:定性相分析和結(jié)構(gòu)測定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描杭州搖擺曲線檢測分析

標(biāo)簽: XRD衍射儀 顯微CT