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珠海布魯克XRD衍射儀售價

來源: 發(fā)布時間:2022-09-26

所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應用場合,它都是您的可選的探測器:高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內(nèi)的準直保證,面向未來的多用途采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計,布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預,是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。在DIFFRAC.EVA中,對塑料薄膜進行WAXS測量分析。然后塑料纖維的擇優(yōu)取向便顯而易見了。珠海布魯克XRD衍射儀售價

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淀粉結晶度測定引言淀粉結晶度是表征淀粉顆粒結晶性質(zhì)的一個重要參數(shù),也是表征淀粉材料類產(chǎn)品性質(zhì)的重要參數(shù),其大小直接影響著淀粉產(chǎn)品的應用性能、淀粉材料的物理和機械性能。X射線衍射法(XRD)加全譜擬合法測定淀粉顆粒結晶度常用的方法之一。結晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,其散射信號來源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值。采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計廣東上海XRD衍射儀技術指導無論面對何種應用,DIFFRAC.DAVINCI都會指引用戶選擇較好的儀器配置。

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基于的D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知。緊湊輕便的外形和易于使用的設計,十分便于移動,您無需準備復雜的基礎框架、大而笨重的工作臺,也無需供應商前來安裝和調(diào)整,只需準備標準的電源插座,然后花費幾分鐘的時間,即可完成從拆包到獲得分析結果的過程。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器,已然成為同類更好的選擇!小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,可有效去除——不必要的輻射,如樣品熒光,Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,而不會明顯降低檢測速度。在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr輻射進行測量,對鋼構件的殘余應力進行分析。

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API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質(zhì)量控制技術和方法指導原則”:指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時,應使用“優(yōu)勢藥物晶型物質(zhì)狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,以保證藥品臨床有效性、安全性與質(zhì)量可控性。說明目前藥物行業(yè)對晶型的重視。晶型,特別是API晶型對藥物的功能有直接關心,同一API的不同晶型在溶解度、熔點、溶出度、生物有效性等方便可能會有不同。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD。從過程開發(fā)到質(zhì)量控制,D8 DISCOVER可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征。廣州上海XRD衍射儀調(diào)整

憑借RapidRSM技術,能在 短的時間內(nèi),測量大面積倒易空間。在DIFFRAC.LEPTOS中,進行倒易點陣轉(zhuǎn)換和分析。珠海布魯克XRD衍射儀售價

XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關,而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:hkl晶面的bragg角度λ:入射X光的波長,一般Cu靶為1.54埃K:常數(shù)(晶粒近似為球形,K=0.89;其他K=1)ADVANCE采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計珠海布魯克XRD衍射儀售價

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