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金山區(qū)電子產(chǎn)品廠家

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2020-03-06

    固有屬性則受產(chǎn)品的復(fù)雜程度、電路和元器件的選擇與使用、元器件的工作參數(shù)及可靠性及機(jī)械結(jié)構(gòu)和制造工藝等因素的影響??傮w而言,電路及結(jié)構(gòu)越復(fù)雜,所用的元器件越多,制造工序越多,則產(chǎn)品的固有可靠性越低。(2)使用可靠性使用可靠性是指使用和維護(hù)人員對(duì)產(chǎn)品可靠性的影響。它包括使用與維護(hù)的程序是否正確、設(shè)備選用是否合理、操作方法是否得當(dāng)及其他人為因素。使用可靠性在很大程度上取決于使用設(shè)備的人。熟練而正確的操作、及時(shí)的維護(hù)和保養(yǎng)都能明顯提高產(chǎn)品的使用可靠性。使用可靠性與人機(jī)工程的設(shè)計(jì)有直接關(guān)系。(3)環(huán)境適應(yīng)性環(huán)境適應(yīng)性是指產(chǎn)品所處的環(huán)境條件對(duì)可靠性的影響,包括自然環(huán)境、機(jī)械環(huán)境和電磁環(huán)境等,提高設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性,主要是對(duì)設(shè)備采取各種有效的防護(hù)措施。四、影響電子產(chǎn)品可靠性的主要因素一般來(lái)說,電子產(chǎn)品的可靠性與壽命有關(guān)。電子元器件的平均壽命越長(zhǎng),電子產(chǎn)品的可靠性往往越高。但可靠性與壽命又不是同一個(gè)概念,電子產(chǎn)品的可靠性高,不一定壽命就長(zhǎng),壽命長(zhǎng)其可靠性也不一定高,這都與使用要求有關(guān)。影響電子產(chǎn)品可靠性的要素主要包括以下幾個(gè):(1)自然環(huán)境電子元器件在工作中受環(huán)境因素影響較大。電子產(chǎn)品給生活帶來(lái)了很多的便利。金山區(qū)電子產(chǎn)品廠家

    則潮濕對(duì)產(chǎn)品的影響相當(dāng)于被人為屏蔽了,此時(shí)試驗(yàn)過程只能反映出產(chǎn)品受冷熱交替變化的影響,結(jié)果顯然是不一樣的。六、電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)介紹1.可靠性試驗(yàn)的目的據(jù)統(tǒng)計(jì),在電子產(chǎn)品中,元器件和零部件缺陷、工藝缺陷及設(shè)計(jì)缺陷各占1/3左右。糾正這些缺陷,使產(chǎn)品的可靠性逐漸提高,達(dá)到設(shè)計(jì)的要求,所花費(fèi)的時(shí)間是要求的MTBF的5~25倍。所以,一個(gè)產(chǎn)品從研制定型到批量生產(chǎn),始終都離不開可靠性試驗(yàn)。盡管可靠性試驗(yàn)往往成本很高,但有效的可靠性試驗(yàn)可以成倍地提高初始樣機(jī)的可靠度,從而取得更大的經(jīng)濟(jì)效益??煽啃栽囼?yàn)的目的就是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品全壽命周期中的可靠性問題,并加以分析、評(píng)估和處理。可靠性試驗(yàn)貫穿于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、使用、維護(hù)的各個(gè)階段。①在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況,保證出售產(chǎn)品的可靠性。②對(duì)新材料、新產(chǎn)品、新工藝和新設(shè)計(jì)進(jìn)行評(píng)價(jià),研究新的試驗(yàn)方法。③生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息,暴露使用過程中出現(xiàn)的不確定因素,研究預(yù)防故障發(fā)生的措施。④暴露和分析電子產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理。⑤對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收。***電子產(chǎn)品設(shè)備電子產(chǎn)品廠家哪里有?

    完成規(guī)定功能的概率,它是衡量可靠性水平高低的一個(gè)重要指標(biāo)??煽啃缘母拍畎韵氯龑雍x。(1)產(chǎn)品的可靠性以“規(guī)定的工作條件”為前提所謂“規(guī)定的工作條件”是指在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)產(chǎn)品使用時(shí)的應(yīng)力條件、環(huán)境條件和儲(chǔ)存條件等。規(guī)定的條件不同,產(chǎn)品的可靠性也不同。例如,一般半導(dǎo)體元器件使用時(shí)的輸出功率越小其可靠性越高。又如,同一臺(tái)電子設(shè)備在不同使用環(huán)境下,可靠性可能相差很大,環(huán)境條件越惡劣,設(shè)備的可靠性越低。(2)產(chǎn)品的可靠性與“規(guī)定的時(shí)間”密切相關(guān)一般說來(lái),產(chǎn)品經(jīng)過老化時(shí)間后,有一個(gè)較長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定使用期,以后,隨著時(shí)間的推移,穩(wěn)定性逐漸下降,可靠性降低。使用時(shí)間越長(zhǎng),可靠性越低。(3)產(chǎn)品的可靠性用完成“規(guī)定功能”來(lái)衡量這里的“功能”是指產(chǎn)品的全部功能,而不是其中一部分功能。產(chǎn)品只有完成全部規(guī)定功能,才被認(rèn)為是可靠的。2.可靠性的分類可靠性的形成和評(píng)估和多方面因素有關(guān),既取決于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)制造過程,又受環(huán)境及使用條件等影響??煽啃灾饕煞譃橐韵氯N:(1)固有可靠性固有可靠性是指產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、制造時(shí)內(nèi)在的可靠性。對(duì)于元器件產(chǎn)品來(lái)說,原料品質(zhì)、制造工藝、工作參數(shù)等均會(huì)影響其固有可靠性。而對(duì)電子產(chǎn)品來(lái)說。

    提高電子產(chǎn)品的防護(hù)能力,進(jìn)而提高電子產(chǎn)品的可靠性。結(jié)構(gòu)可靠性設(shè)計(jì)的作用及要求主要包括:①通過采用有效的散熱裝置控制元器件的溫升;②消減振動(dòng)、沖擊、碰撞等機(jī)械因素對(duì)產(chǎn)品造成的危害;③排除內(nèi)部與外部的噪聲干擾;④加強(qiáng)防腐、防潮、防霉的研究,延長(zhǎng)結(jié)構(gòu)材料使用壽命;⑤設(shè)計(jì)過程應(yīng)遵循標(biāo)準(zhǔn)化、系列化、通用化要求。2.可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證可靠性試驗(yàn)是研究失效及其影響結(jié)果,并為提高或評(píng)價(jià)試驗(yàn)對(duì)象的可靠性而進(jìn)行的各種試驗(yàn)的總稱。從廣義上說,凡是為了了解、評(píng)價(jià)、考核、分析和提高可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn),都可稱為可靠性試驗(yàn)??煽啃栽囼?yàn)技術(shù)是在20世紀(jì)50年代開始發(fā)展起來(lái)的,應(yīng)用于**產(chǎn)品,至今已在航空、航天、電子、自動(dòng)化、汽車和計(jì)算機(jī)等行業(yè)普遍應(yīng)用。可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行調(diào)研、分析和評(píng)估的一種重要手段,也是提高和保證產(chǎn)品可靠性的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。當(dāng)一個(gè)產(chǎn)品制造出來(lái)后,原則上,其性能指標(biāo)應(yīng)該可以達(dá)到原設(shè)計(jì)所規(guī)定的可靠性要求,但實(shí)際情況要復(fù)雜得多。事實(shí)上,設(shè)計(jì)過程很難將所有的可靠性問題考慮周全,不同的可靠性指標(biāo)間甚至存在矛盾或矛盾,只能采用折中設(shè)計(jì),對(duì)于復(fù)雜系統(tǒng),這種情況更為明顯。因此。電子產(chǎn)品的主要作用有哪些?

    研究電子產(chǎn)品的失效分布規(guī)律。⑥為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性,制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案,為用戶選用電子產(chǎn)品提供依據(jù),為進(jìn)行有效的可靠性管理提供依據(jù)。2.可靠性試驗(yàn)的分類根據(jù)試驗(yàn)的環(huán)境條件、試驗(yàn)的目的、產(chǎn)品的工作階段、施加的應(yīng)力強(qiáng)度、對(duì)可靠性的影響、試驗(yàn)產(chǎn)品的破壞程度、試驗(yàn)規(guī)模及抽樣方案的類型等,可將可靠性試驗(yàn)分成很多種類。一)按環(huán)境條件分類按環(huán)境條件分類,可靠性試驗(yàn)包括:(1)穩(wěn)定性試驗(yàn)將產(chǎn)品置于人工模擬的工作環(huán)境之中,按照技術(shù)指標(biāo)的要求,考核產(chǎn)品抵抗每種環(huán)境影響因素的能力。如耐溫、耐濕和耐壓的穩(wěn)定性,不滲水性,以及耐振動(dòng)、沖擊、加速度等各種穩(wěn)定性項(xiàng)目的試驗(yàn)。(2)綜合性試驗(yàn)考驗(yàn)產(chǎn)品在綜合因素的作用下所能達(dá)到的性能指標(biāo)。這種試驗(yàn)比較接近實(shí)際使用情況,所以在環(huán)境試驗(yàn)中占有重要地位。二)按試驗(yàn)項(xiàng)目分類按試驗(yàn)項(xiàng)目分類,可靠性試驗(yàn)包括:(1)可靠性壽命試驗(yàn)通常采用的是破壞性壽命試驗(yàn),其任務(wù)是在規(guī)定的條件下,抽取一定數(shù)量的樣品做壽命試驗(yàn),記錄每個(gè)元器件失效時(shí)間,進(jìn)行全部數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析,求出元器件的可靠性指標(biāo),用以評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性水平,并進(jìn)一步分析產(chǎn)品失效的原因,提出提高可靠性的措施。電子產(chǎn)品主要包括哪些?普陀區(qū)日常電子產(chǎn)品供貨商

電子產(chǎn)品越來(lái)越普遍,但是是否真的好用呢?金山區(qū)電子產(chǎn)品廠家

    有必要通過一系列可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證可靠性指標(biāo)的實(shí)現(xiàn)程度,或發(fā)現(xiàn)并判明各種故障和缺陷??煽啃栽囼?yàn)的原理是:模擬現(xiàn)場(chǎng)工作條件及壽命周期中的其他環(huán)境條件,將各種工作模式和各種應(yīng)力條件按照一定的時(shí)間比例、一定的循環(huán)次序反復(fù)施加到受試產(chǎn)品上。經(jīng)過對(duì)受試產(chǎn)品的失效進(jìn)行分析和處理,將得到的信息反饋到設(shè)計(jì)、制造、材料和管理等部門進(jìn)行改進(jìn),以提高產(chǎn)品的固有可靠性,同時(shí)依據(jù)試驗(yàn)的結(jié)果對(duì)電子產(chǎn)品的可靠性做出評(píng)定。可靠性試驗(yàn)要達(dá)到預(yù)期的效果,必須特別重視試驗(yàn)條件的選擇、試驗(yàn)周期的設(shè)計(jì)和失效判據(jù)的確定。值得注意的是,對(duì)于各種電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)條件的擬定,必須根據(jù)具體的使用情況來(lái)考慮。例如,電子產(chǎn)品的循環(huán)試驗(yàn),采用不同的試驗(yàn)順序,所產(chǎn)生的試驗(yàn)結(jié)果就不一樣。以氣候因素的循環(huán)試驗(yàn)為例,當(dāng)采用高溫→潮濕→低溫的試驗(yàn)順序時(shí)(即電子產(chǎn)品先在烘箱中進(jìn)行加溫,使元器件受熱干燥。然后,將其放進(jìn)潮濕箱,在毛細(xì)力作用下,使元器件吸潮。,將元器件置于冷凍箱中冷卻),若產(chǎn)品質(zhì)量不過關(guān),則在熱脹冷縮的作用下,極易引起破裂。而如果按潮濕→高溫→低溫的順序進(jìn)行,由于高溫烘烤首先對(duì)元器件進(jìn)行了去潮處理。金山區(qū)電子產(chǎn)品廠家

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