鎢探針：我們生產(chǎn)的純鎢探針、錸鎢探針、Paliney7合金探針，主要應(yīng)用于IC、LED、LCD等芯片檢測以及晶圓檢測等行業(yè)。適用于各類Pad表面。衡泌采用品質(zhì)穩(wěn)定的原材料，可按照不同客戶的多樣要求，提供國產(chǎn)或日本鎢材料，有純鎢（99.95-99.98%）、錸鎢等原料。通常情況下，測量儀器引進(jìn)一些噪聲或測量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件，其中之一可能是，它會受探針參數(shù)的影響，如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺的平整度。此外，探針尖磨損和污染也會對測試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。半導(dǎo)體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。徐州專業(yè)探針

探針臺是由針頭、內(nèi)管和彈簧三部分組成的。因為探針在應(yīng)用中十分注重它的導(dǎo)電性、持久性和硬度等特性的強(qiáng)弱，所以在安裝時也是有一定的講究的。在安裝前，要對這些部分做特殊的電鍍處理，這樣的探針才可以說是合乎規(guī)范可以應(yīng)用的探針。一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長。汽車線束測試測試探針專業(yè)用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等。電子探針可以對試樣中微小區(qū)域（微米級）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析。可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進(jìn)行批量（預(yù)置9999測試點(diǎn)）定量分析。比較少用。高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大的測試電流可達(dá)39amps。蘇州好的探針價格多少在電子測試中，探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類型。

鎢針可分為純鎢針、稀土鎢針、摻雜鎢針。鎢針主要用于制作強(qiáng)度高氣體放電燈電弧管用電極。由于鎢的特性，使得它比較適合用于tiG焊接以及其它類似這種工作的電極材料。在金屬鎢中添加稀土氧化物來刺激它的電子逸出功，使得鎢電極的焊接性能得以改善：電極的起弧性能更好，弧柱的穩(wěn)定性更高，電極燒損率更小。可根據(jù)要求定制尖部形狀，有鋒利極銳尖、平臺和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級到納米級，針尖曲率半徑Min可控為50納米，包裝前逐根檢測。

在電子測試中對探針的選擇有著較高的要求，重點(diǎn)會考慮到探針能承載多大的電流、可適應(yīng)的間距值、頭型與待測對象的適配度等等。在電子測試過程中若是探針使用不恰當(dāng)或者性能達(dá)不到測試的需求，就比較容易造成損壞，影響測試的穩(wěn)定性，因此探針的性能比較重要。在電子測試中，探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類型。這兩種探針都是用于手機(jī)電池、屏幕、攝像頭等連接器模組測試的。彈片微針模組是一體成型式的彈片結(jié)構(gòu)，體型輕薄，鍍金后經(jīng)過加硬處理，可承載的電流高能達(dá)到50A，電流傳輸時流通于同一材料體內(nèi)，具有更好地連接功能；在小pitch領(lǐng)域，彈片微針模組的適應(yīng)性高，可取值范圍小可達(dá)到0.15mm，性能比較穩(wěn)定。半導(dǎo)體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點(diǎn)。

鎢熔點(diǎn)高(3683℃±20℃)，電子發(fā)射能力強(qiáng)，彈性模量高，蒸氣壓低，故比較早就被用作熱電子發(fā)射材料。純金屬鎢極的發(fā)射效率比較低，且在高溫下再結(jié)晶形成等軸狀晶粒組織而使鎢絲下垂、斷裂。為克服上述缺點(diǎn)，適應(yīng)現(xiàn)代工業(yè)新技術(shù)、新工藝的發(fā)展，各國材料工作者正致力于研究和開發(fā)各種新型電極材料。以鎢為基摻雜一些電子逸出功低的稀土氧化物，既能提高再結(jié)晶溫度，又能啟動電子發(fā)射。稀土金屬氧化物具有優(yōu)良的熱電子發(fā)射能力，稀土鎢電極材料一直是替代傳統(tǒng)放射性釷鎢電極材料的開發(fā)方向。電子探針可以對試樣中微小區(qū)域（微米級）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析。江蘇高科技探針批量定制

探針具有的功能：用于測量半導(dǎo)體材料、功能材料。徐州專業(yè)探針

探針對測試結(jié)果的影響：通常，參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件（DUT），然后測量該器件對于此輸入信號的響應(yīng)。這些信號的路徑為：從測試儀通過電纜束至測試頭，再通過測試頭至探針卡，然后通過探針至芯片上的焊點(diǎn)，到達(dá)被測器件，并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意，問題可能是由測量儀器或軟件所致，也可能是其它原因造成。通常情況下，測量儀器引進(jìn)一些噪聲或測量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件，其中之一可能是，它會受探針參數(shù)的影響，如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺的平整度。此外，探針尖磨損和污染也會對測試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。徐州專業(yè)探針

江蘇秉聚金屬制品有限公司致力于電子元器件，以科技創(chuàng)新實現(xiàn)***管理的追求。公司自創(chuàng)立以來，投身于放電鎢針，微創(chuàng)鎢針，探針，是電子元器件的主力軍。秉聚金屬繼續(xù)堅定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。秉聚金屬始終關(guān)注電子元器件行業(yè)。滿足市場需求，提高產(chǎn)品價值，是我們前行的力量。