鎢針可分為純鎢針、稀土鎢針、摻雜鎢針。鎢針主要用于制作強(qiáng)度高氣體放電燈電弧管用電極。由于鎢的特性，使得它比較適合用于tiG焊接以及其它類(lèi)似這種工作的電極材料。在金屬鎢中添加稀土氧化物來(lái)刺激它的電子逸出功，使得鎢電極的焊接性能得以改善：電極的起弧性能更好，弧柱的穩(wěn)定性更高，電極燒損率更小?？筛鶕?jù)要求定制尖部形狀，有鋒利極銳尖、平臺(tái)和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級(jí)到納米級(jí)，針尖曲率半徑Min可控為50納米，包裝前逐根檢測(cè)。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點(diǎn)?；窗布庸ぬ结槹男?/p>

觸點(diǎn)壓力的定義為探針頂端（測(cè)量單位為密耳或微米）施加到接觸區(qū)域的壓力（測(cè)量單位為克）。觸點(diǎn)壓力過(guò)高會(huì)損傷焊點(diǎn)。觸點(diǎn)壓力過(guò)低可能無(wú)法通過(guò)氧化層，因此產(chǎn)生不可靠的測(cè)試結(jié)果。頂端壓力主要由探針臺(tái)的驅(qū)動(dòng)器件控制，額外的Z運(yùn)動(dòng)（垂直行程）會(huì)令其直線(xiàn)上升。此外，探針材質(zhì)、探針直徑、光束長(zhǎng)度、和尖錐長(zhǎng)度都在決定頂端壓力時(shí)起重要的作用。從本質(zhì)上來(lái)說(shuō)，隨著探針開(kāi)始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動(dòng)迅速開(kāi)始。隨著探針接觸到焊點(diǎn)金屬的亞表層，這些效應(yīng)將增加。盡管隨著探針壓力的增強(qiáng)，接觸電阻逐漸降低，終它會(huì)達(dá)到兩金屬的標(biāo)稱(chēng)接觸電阻值。蘇州微型探針什么價(jià)格在電子測(cè)試中，探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類(lèi)型。

接觸電阻即探針尖與焊點(diǎn)之間接觸時(shí)的層間電阻。通常不能給出具體的指標(biāo)，因?yàn)閷?shí)際的接觸電阻比較難測(cè)量。一般，信號(hào)路徑電阻被用來(lái)替代接觸電阻，而且它在眾多情況下更加相關(guān)。在檢測(cè)虛焊和斷路的時(shí)候，探針卡用戶(hù)經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個(gè)標(biāo)稱(chēng)值。信號(hào)路徑電阻是從焊點(diǎn)到測(cè)試儀的總電阻，即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是，接觸電阻是信號(hào)路徑電阻的重要組成部分。在實(shí)際使用中，探針的接觸電阻在比較大程度上取決于焊點(diǎn)的材料、清洗的次數(shù)、以及探針的狀況，而且它同標(biāo)稱(chēng)值相差較多。

探針對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響：通常，參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件（DUT），然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為：從測(cè)試儀通過(guò)電纜束至測(cè)試頭，再通過(guò)測(cè)試頭至探針卡，然后通過(guò)探針至芯片上的焊點(diǎn)，到達(dá)被測(cè)器件，并然后沿原路徑返回測(cè)試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意，問(wèn)題可能是由測(cè)量?jī)x器或軟件所致，也可能是其它原因造成。通常情況下，測(cè)量?jī)x器引進(jìn)一些噪聲或測(cè)量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件，其中之一可能是，它會(huì)受探針參數(shù)的影響，如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺(tái)的平整度。此外，探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。探針具有導(dǎo)電薄膜的電阻率、面電阻、型號(hào)及擊穿電壓等多種功能。

在電子測(cè)試中對(duì)探針的選擇有著較高的要求，重點(diǎn)會(huì)考慮到探針能承載多大的電流、可適應(yīng)的間距值、頭型與待測(cè)對(duì)象的適配度等等。在電子測(cè)試過(guò)程中若是探針使用不恰當(dāng)或者性能達(dá)不到測(cè)試的需求，就比較容易造成損壞，影響測(cè)試的穩(wěn)定性，因此探針的性能比較重要。在電子測(cè)試中，探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類(lèi)型。這兩種探針都是用于手機(jī)電池、屏幕、攝像頭等連接器模組測(cè)試的。彈片微針模組是一體成型式的彈片結(jié)構(gòu)，體型輕薄，鍍金后經(jīng)過(guò)加硬處理，可承載的電流高能達(dá)到50A，電流傳輸時(shí)流通于同一材料體內(nèi)，具有更好地連接功能；在小pitch領(lǐng)域，彈片微針模組的適應(yīng)性高，可取值范圍小可達(dá)到0.15mm，性能比較穩(wěn)定。半導(dǎo)體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。半導(dǎo)體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。南京正規(guī)探針批量定制

高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大的測(cè)試電流可達(dá)39amps?；窗布庸ぬ结槹男?/p>

通常，參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件（DUT），然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為：從測(cè)試儀通過(guò)電纜束至測(cè)試頭，再通過(guò)測(cè)試頭至探針卡，然后通過(guò)探針至芯片上的焊點(diǎn)，到達(dá)被測(cè)器件，并然后沿原路徑返回測(cè)試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意，問(wèn)題可能是由測(cè)量?jī)x器或軟件所致，也可能是其它原因造成。在檢測(cè)虛焊和斷路的時(shí)候，探針卡用戶(hù)經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個(gè)標(biāo)稱(chēng)值。信號(hào)路徑電阻是從焊點(diǎn)到測(cè)試儀的總電阻，即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是，接觸電阻是信號(hào)路徑電阻的重要組成部分?；窗布庸ぬ结槹男?/p>

江蘇秉聚金屬制品有限公司致力于電子元器件，以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)***管理的追求。公司自創(chuàng)立以來(lái)，投身于放電鎢針，微創(chuàng)鎢針，探針，是電子元器件的主力軍。秉聚金屬繼續(xù)堅(jiān)定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長(zhǎng)，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。秉聚金屬始終關(guān)注電子元器件行業(yè)。滿(mǎn)足市場(chǎng)需求，提高產(chǎn)品價(jià)值，是我們前行的力量。