現(xiàn)有的探針頭,通常采用條狀彈簧片來提供恒定壓力和在金屬探針頭上焊接上一根導(dǎo)電線,在結(jié)構(gòu)上,每根條狀彈簧片是單獨(dú)壓在對應(yīng)的探針上,每根條狀彈簧片需單獨(dú)定位,安裝困難,由于條狀彈簧片是用彈簧金屬片單獨(dú)切割而成,因而比較難保證每根條狀彈簧片都具有相同的彈力,采用條狀彈簧片因長度長而令探針頭的體積增大,探針頭的異形外殼加工困難。采用耙形彈簧片作為探針恒壓彈性元件,耙形彈簧片用定位環(huán)定位安裝,并選用多種形狀及不同材料探針的探針頭,從而克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺點(diǎn)。探針尖磨損和污染也會對測試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。徐州新能源探針廠家供應(yīng)
觸點(diǎn)壓力的定義為探針頂端(測量單位為密耳或微米)施加到接觸區(qū)域的壓力(測量單位為克)。觸點(diǎn)壓力過高會損傷焊點(diǎn)。觸點(diǎn)壓力過低可能無法通過氧化層,因此產(chǎn)生不可靠的測試結(jié)果。頂端壓力主要由探針臺的驅(qū)動器件控制,額外的Z運(yùn)動(垂直行程)會令其直線上升。此外,探針材質(zhì)、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。從本質(zhì)上來說,隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層,接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著探針接觸到焊點(diǎn)金屬的亞表層,這些效應(yīng)將增加。盡管隨著探針壓力的增強(qiáng),接觸電阻逐漸降低,終它會達(dá)到兩金屬的標(biāo)稱接觸電阻值。常州現(xiàn)代化探針供應(yīng)商家電子探針可以對試樣中微小區(qū)域(微米級)的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析。
鎢錸探針:我們生產(chǎn)的錸鎢探針、鎢探針和Paliney7合金探針,主要應(yīng)用于IC、LED、LCD等芯片檢測以及晶圓檢測等行業(yè)。適用于各類Pad表面。衡泌采用品質(zhì)穩(wěn)定的原材料,可按照不同客戶的多樣要求,提供國產(chǎn)或日本鎢材料,有純鎢(99.95-99.98%)、錸鎢等原料。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點(diǎn)。合金探針檢測時無傷原器件,已批量應(yīng)用于LED芯片檢測領(lǐng)域。我們的探針在導(dǎo)電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機(jī)械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求。
鎢熔點(diǎn)高(3683℃±20℃),電子發(fā)射能力強(qiáng),彈性模量高,蒸氣壓低,故比較早就被用作熱電子發(fā)射材料。純金屬鎢極的發(fā)射效率比較低,且在高溫下再結(jié)晶形成等軸狀晶粒組織而使鎢絲下垂、斷裂。為克服上述缺點(diǎn),適應(yīng)現(xiàn)代工業(yè)新技術(shù)、新工藝的發(fā)展,各國材料工作者正致力于研究和開發(fā)各種新型電極材料。以鎢為基摻雜一些電子逸出功低的稀土氧化物,既能提高再結(jié)晶溫度,又能啟動電子發(fā)射。稀土金屬氧化物具有優(yōu)良的熱電子發(fā)射能力,稀土鎢電極材料一直是替代傳統(tǒng)放射性釷鎢電極材料的開發(fā)方向。隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層,接觸電阻減小而電流流動迅速開始。
通常,參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應(yīng)。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點(diǎn),到達(dá)被測器件,并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意,問題可能是由測量儀器或軟件所致,也可能是其它原因造成。在檢測虛焊和斷路的時候,探針卡用戶經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個標(biāo)稱值。信號路徑電阻是從焊點(diǎn)到測試儀的總電阻,即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是,接觸電阻是信號路徑電阻的重要組成部分。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點(diǎn)。揚(yáng)州好的探針批量定制
半導(dǎo)體探針:直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。徐州新能源探針廠家供應(yīng)
探針對測試結(jié)果的影響:通常,參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應(yīng)。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點(diǎn),到達(dá)被測器件,并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意,問題可能是由測量儀器或軟件所致,也可能是其它原因造成。通常情況下,測量儀器引進(jìn)一些噪聲或測量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件,其中之一可能是,它會受探針參數(shù)的影響,如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺的平整度。此外,探針尖磨損和污染也會對測試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。徐州新能源探針廠家供應(yīng)
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