電子顯微鏡，簡稱電鏡，英文名Electron Microscope（簡稱EM），由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。鏡筒主要有電子源、電子透鏡、樣品架、熒光屏和探測器等部件，這些部件通常是自上而下地裝配成一個柱體。電子透鏡用來聚焦電子，是電子顯微鏡鏡筒中*重要的部件。一般使用的是磁透鏡，有時也有使用靜電透鏡的。它用一個對稱于鏡筒軸線的空間電場或磁場使電子軌跡向軸線彎曲形成聚焦，其作用與光學(xué)顯微鏡中的光學(xué)透鏡（凸透鏡）使光束聚焦的作用是一樣的，所以稱為電子透鏡。光學(xué)透鏡的焦點是固定的，而電子透鏡的焦點可以被調(diào)節(jié)，因此電子顯微鏡不像光學(xué)顯微鏡那樣有可以移動的透鏡系統(tǒng)?，F(xiàn)代電子顯微鏡大多采用電磁透鏡，由很穩(wěn)定的直流勵磁電流通過帶極靴的線圈產(chǎn)生的強磁場使電子聚焦。電子源是一個釋放自由電子的陰極，柵極，一個環(huán)狀加速電子的陽極構(gòu)成的。陰極和陽極之間的電壓差必須非常高，一般在數(shù)千伏到3百萬伏特之間。它能發(fā)射并形成速度均勻的電子束，所以加速電壓的穩(wěn)定度要求不低于萬分之一。 TESCAN在設(shè)計、研發(fā)和制造掃描電子顯微鏡及掃描電子顯微鏡在不同領(lǐng)域的應(yīng)用方面樹立良好的聲譽和品牌。成都掃描電鏡代理

Leica EM TXP 精研一體機帶有一體化體視鏡，用于較精確定位及對較細微難以觀察的目標(biāo)位置進行樣品處理時觀察；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄，可以改變樣品觀察角度，0°一60°可調(diào)，或者垂直于樣品前表面90°觀察，可利用目鏡刻度標(biāo)尺測量距離。一體化自動程序控制，包括自動左右制動機制，前進反饋力控制，倒計數(shù)功能等，為使用者節(jié)約大量時間。表面處理與目標(biāo)檢測，都通過一體化體視鏡來完成，用戶不需要專程將樣品拿出來再進行表面觀察檢測，這可提高使用者的工作效率?？蛇m配多種多樣工具，從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進行磨削、切割、鉆孔、研磨及拋光。并且整個處理過程都可通過體視鏡進行觀察監(jiān)控，節(jié)省時間和費用。

成都TESCAN電鏡代理電子顯微鏡是以電子束為照明源,通過電子流對樣品的透射及電磁透鏡的放大后在熒光屏上成像的大型儀器。

TESCAN MAIA3 LM超分辨場發(fā)射掃描電鏡是一款具有超高表面靈敏度的分辨掃描電子顯微鏡，在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。MAIA3

model 2016在低電壓下也有極好的性能，尤其對電子束敏感的半導(dǎo)體器件樣品以及納米材料等，都具有優(yōu)異的表面靈敏度及高空間分辨率。全新的MAIA3也非常適合研究不導(dǎo)電試樣如原始狀態(tài)的生物樣品。新開發(fā)的超分辨電子光學(xué)鏡簡并配備TriLensTM物鏡，及先進的探測系統(tǒng)超**辨率物鏡(60度浸沒式物鏡)，全新的用于辨率分析工作的無漏磁分析物鏡，重新設(shè)計用于超大視場觀察的中間鏡。

Leica EM RES102多功能離子減薄儀主要技術(shù)參數(shù)：

>具有2把離子* ，離子束能量為0.8keV-10keV，相對位置，可分別±45°傾斜，樣品臺傾斜角度-120°至210°，離子束加工角度0°至90°，樣品平面擺角度<360°，垂直擺動距離±5mm。實際操作參數(shù)根據(jù)具體應(yīng)用需要選擇（系統(tǒng)備有參考參數(shù)，也可自行設(shè)置參數(shù)并存儲）；>可選配樣品臺：TEM樣品臺（?3.0mm或?2.3mm），F(xiàn)IB樣品清洗臺，SEM樣品臺，斜坡切割樣品臺（對樣品35°或90°斜坡切割）等；>SEM樣品臺可容納比較大樣品尺寸：直徑25mm，高度12mm；>全無油真空系統(tǒng)，樣品室?guī)в蓄A(yù)抽室，保證樣品交換時間<1分鐘；>全電腦控制，觸摸屏操作界面，內(nèi)置視頻觀察系統(tǒng)，可實時觀察樣品處理過程。 突破視覺限制，新則興電鏡帶您探索無限可能。

  透射電子顯微鏡（Transmission electronmicroscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來。由于電子的德布羅意波長非常短，透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍。因此，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細結(jié)構(gòu)，甚至可以用于觀察**一列原子的結(jié)構(gòu)，比光學(xué)顯微鏡所能夠觀察到的很小的結(jié)構(gòu)小數(shù)萬倍。TEM在中和物理學(xué)和生物學(xué)相關(guān)的許多科學(xué)領(lǐng)域都是重要的分析方法，如*.癥研究、病毒學(xué)、材料科學(xué)、以及納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等等。 電鏡主要靠電子束光源，組成包括鏡筒，真空室和光源。茂名透射電鏡型號

顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進入原子時代的標(biāo)志。成都掃描電鏡代理

泰思肯MIRA3 高粉辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡： 新一代的TESCAN MIRA場發(fā)射描電鏡給用戶帶來了 新的技術(shù)優(yōu)點（如改進的高性能電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償,有內(nèi)置的編程軟件等），同時保持著比較高的性價比。MIRA3的設(shè)計適用于各種各樣的SEM應(yīng)用及當(dāng)今研究和產(chǎn)業(yè)的需求。大電子束流下的高粉辨率有利于分析應(yīng)用，例如: EBSD、WDX等分析。MIRA3場發(fā)射掃描電鏡可配置LM、XM或GM三種樣品室。所有的MIRA樣品室(LM、XM或GM)提供優(yōu)良的5軸馬達驅(qū)動全計算機化優(yōu)中心樣品**善的幾何設(shè)計更適合安裝能譜儀(EDS)，波譜儀(WDX)，電子背散射衍射(EBSD)。XM和GM樣品室適用于大樣品的分析。

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