熒光作用。X射線波長(zhǎng)很短不可見(jiàn),但它照射到某些化合物如磷、鉑**鋇、硫化鋅鎘、鎢酸鈣等時(shí),可使物質(zhì)發(fā)生熒光(可見(jiàn)光或紫外線),熒光的強(qiáng)弱與X射線量成正比。這種作用是X射線應(yīng)用于透示的基礎(chǔ),利用這種熒光作用可制成熒光屏,用作透示時(shí)觀察X射線通過(guò)人體組織的影像,也可制成增感屏,用作攝影時(shí)增強(qiáng)膠片的感光量;熱作用。物質(zhì)所吸收的X射線能大部分被轉(zhuǎn)變成熱能,使物體溫度升搞,干涉、衍射、反射、折射作用。這些作用在X射線顯微鏡、波長(zhǎng)測(cè)定和物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析中都得到應(yīng)用。
新則興代理國(guó)際有名品牌實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備;清遠(yuǎn)***無(wú)損檢測(cè)系列
無(wú)損檢測(cè)就是Non Destructive Testing,縮寫是NDT(或NDE,non-destructive examination),也叫無(wú)損探傷,是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下,采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測(cè)的技術(shù)。常見(jiàn)的如超聲波檢測(cè)焊縫中的裂紋。中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)是中國(guó)無(wú)損檢測(cè)學(xué)術(shù)組織,TC56是其標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)。
無(wú)損檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展必不可少的有效工具,在一定程度上反映了一個(gè)國(guó)家的工業(yè)發(fā)展水平,其重要性已得到公認(rèn)。中國(guó)在1978年11月成立了全國(guó)性的無(wú)損檢測(cè)學(xué)術(shù)組織--中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)無(wú)損檢測(cè)分會(huì)。此外,冶金、電力、石油化工、船舶、宇航、核能等行業(yè)還成立了各自的無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)或協(xié)會(huì);部分省、自治區(qū)、直轄市和地級(jí)市成立了省(市)級(jí)、地市級(jí)無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)或協(xié)會(huì);東北、華東、西南等區(qū)域還各自成立了區(qū)域性的無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)或協(xié)會(huì)。在無(wú)損檢測(cè)的基礎(chǔ)理論研究和儀器設(shè)備開(kāi)發(fā)方面,中國(guó)與世界先進(jìn)國(guó)家之間仍有較大的差距,特別是在紅外、聲發(fā)射等高新技術(shù)檢測(cè)設(shè)備方面更是如此。
廣東耐用無(wú)損檢測(cè)性能國(guó)際無(wú)損檢測(cè)界把工業(yè)CT稱為比較好的無(wú)損檢測(cè)手段。
CT是用X射線束對(duì)人體某部一定厚度的層面進(jìn)行掃描,由探測(cè)器接收透過(guò)該層面的X射線,轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢?jiàn)光后,由光電轉(zhuǎn)換變?yōu)殡娦盘?hào),再經(jīng)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(analog/digitalconverter)轉(zhuǎn)為數(shù)字,輸入計(jì)算機(jī)處理。圖像形成的處理有如對(duì)選定層面分成若干個(gè)體積相同的長(zhǎng)方體,稱之為體素(voxel)。掃描所得信息經(jīng)計(jì)算而獲得每個(gè)體素的X射線衰減系數(shù)或吸收系數(shù),再排列成矩陣,即數(shù)字矩陣(digitalmatrix),數(shù)字矩陣可存貯于磁盤或光盤中。經(jīng)數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(digital/analogconverter)把數(shù)字矩陣中的每個(gè)數(shù)字轉(zhuǎn)為由黑到白不等灰度的小方塊,即像素(pixel),并按矩陣排列,即構(gòu)成CT圖像。所以,CT圖像是重建圖像。每個(gè)體素的X射線吸收系數(shù)可以通過(guò)不同的數(shù)學(xué)方法算出。
CT是用X射線束對(duì)人體某部一定厚度的層面進(jìn)行掃描,由探測(cè)器接收透過(guò)該層面的X射線,轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢?jiàn)光后,由光電轉(zhuǎn)換變?yōu)殡娦盘?hào),再經(jīng)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(analog/digital converter)轉(zhuǎn)為數(shù)字,輸入計(jì)算機(jī)處理。圖像形成的處理有如對(duì)選定層面分成若干個(gè)體積相同的長(zhǎng)方體,稱之為體素(voxel)。 掃描所得信息經(jīng)計(jì)算而獲得每個(gè)體素的X射線衰減系數(shù)或吸收系數(shù),再排列成矩陣,即數(shù)字矩陣(digital matrix),數(shù)字矩陣可存貯于磁盤或光盤中。經(jīng)數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(digital/analog converter)把數(shù)字矩陣中的每個(gè)數(shù)字轉(zhuǎn)為由黑到白不等灰度的小方塊,即像素(pixel),并按矩陣排列,即構(gòu)成CT圖像。所以,CT圖像是重建圖像。每個(gè)體素的X射線吸收系數(shù)可以通過(guò)不同的數(shù)學(xué)方法算出?!罢\(chéng)則信,信則興”的企業(yè)理念,以誠(chéng)信為本,以客戶為尊,以產(chǎn)品及服務(wù)為橋,建立共贏的合作關(guān)系;
X射線探傷是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性,發(fā)現(xiàn)缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。X射線的波長(zhǎng)很短一般為0.001~0.1nm。X射線以光速直線傳播,不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響,可穿透物質(zhì),在穿透過(guò)程中有衰減,能使膠片感光。
當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時(shí),由于射線與物質(zhì)的相互作用,將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過(guò)程,其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量,強(qiáng)度相應(yīng)減弱,這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢驗(yàn)工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同,而引起射線透過(guò)工件后強(qiáng)度差異,使感光材料(膠片)上獲得缺陷投影所產(chǎn)生的潛影,經(jīng)過(guò)暗室處理后獲得缺陷影像,再對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定工件內(nèi)部缺陷的性質(zhì)和底片級(jí)別 對(duì)人員的級(jí)別劃分上,全部都是分為1、2、3三個(gè)等級(jí)。陜西優(yōu)zhi無(wú)損檢測(cè)服務(wù)至上
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無(wú)損檢測(cè)一般有三種簡(jiǎn)稱,即NDT,NDI和NDE。它們分別是無(wú)損檢測(cè)(NondestruetiveTest-ing)、無(wú)損檢查(NondestruetiveInspection)及無(wú)損評(píng)價(jià)(NondestructiveE、aluation)的英文縮寫。目前大都稱無(wú)損檢測(cè)為NDT,實(shí)際上,近年已逐步從NDT和NDI過(guò)渡到NDE,也即用無(wú)損評(píng)價(jià)來(lái)代替無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損檢查。一方面是NDE包含廠NDI和NDT;另一方面NDE還具有更較廣的內(nèi)容,因而要求無(wú)損檢測(cè)工作者有更廣的知識(shí)面、更扎實(shí)的基礎(chǔ)和更強(qiáng)的綜合分析能力。一般說(shuō)NDT是檢測(cè)出缺陷,而NDI則以NDT檢測(cè)結(jié)果為判定基礎(chǔ),對(duì)檢測(cè)對(duì)象的使用可能性進(jìn)行判定,含有檢查的意味。而NDE則是指掌握使用材料的負(fù)載條件、環(huán)境條件(如斷裂力學(xué)中預(yù)測(cè)材料的安全性及壽命等)綜合評(píng)價(jià)材料完整性、判斷材料及構(gòu)件的性能和可靠性的方法。就此而言,NDE可說(shuō)是材料評(píng)價(jià)的同義語(yǔ)。一般地說(shuō),無(wú)損檢測(cè)應(yīng)包括缺陷檢測(cè)(探傷)和材料其它性能檢測(cè)(如力學(xué)性能、顯微組織和應(yīng)力等)兩大方面。本文只介紹缺陷檢測(cè),即探傷方法的種類和特點(diǎn)。 清遠(yuǎn)***無(wú)損檢測(cè)系列
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