雙頻激光干涉儀：在氦氖激光器上，加上一個(gè)約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應(yīng)和頻率牽引效應(yīng), 激光器產(chǎn)生1和2兩個(gè)不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經(jīng)處理后分為兩路。一路經(jīng)偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。另一路經(jīng)偏振分光鏡后又分為兩路：一路成為*含有f1的光束,另一路成為*含有f2的光束。當(dāng)可動(dòng)反射鏡移動(dòng)時(shí),含有f2的光束經(jīng)可動(dòng)反射鏡反射后成為含有f2 ±Δf的光束，Δf是可動(dòng)反射鏡移動(dòng)時(shí)因多普勒效應(yīng)產(chǎn)生的附加頻率,正負(fù)號表示移動(dòng)方向。這路光束和由固定反射鏡反射回來*含有f1的光的光束經(jīng)偏振片2后會合成為f1-(f2±Δf）的測量光束。測量光束和上述參考光束經(jīng)一系列處理后輸出成為*含有±Δf的電脈沖信號。經(jīng)可逆計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)后，由電子計(jì)算機(jī)進(jìn)行當(dāng)量換算后即可得出可動(dòng)反射鏡的位移量。雙頻激光干涉儀是應(yīng)用頻率變化來測量位移的，這種位移信息載于f1和f2的頻差上，對由光強(qiáng)變化引起的直流電平變化不敏感，所以抗干擾能力強(qiáng)。它常用于檢定測長機(jī)、三坐標(biāo)測量機(jī)、光刻機(jī)和加工中心等的坐標(biāo)精度，也可用作測長機(jī)、高精度三坐標(biāo)測量機(jī)等的測量系統(tǒng)。利用相應(yīng)附件，還可進(jìn)行高精度直線度測量、平面度測量和小角度測量。新則興成立十五年來一直聚焦于材料分析的細(xì)分領(lǐng)域，匯聚行業(yè)精英，不斷拓寬，加深產(chǎn)品及服務(wù)；惠州穩(wěn)定無損檢測應(yīng)用范圍

超聲波掃描顯微鏡簡稱SAT，又稱為SAM (Scanning Acoustic

Microscope)。其特點(diǎn)在于能夠精確的反映出聲波和微小樣品的彈性介質(zhì)之間的相互作用，并對從樣品內(nèi)部反饋回來的信號進(jìn)行分析。例如在微電子器件的大規(guī)模生產(chǎn)制程中，發(fā)現(xiàn)IC的Die上下表面脫層，錫球/芯片裂縫、或填膠中的裂縫、封裝材料/塑封材料內(nèi)部的氣孔等缺陷，這些缺陷無法用常規(guī)的X-ray失效分析手段檢測到，因此超聲波掃描技術(shù)就被引入到芯片的后封裝測試領(lǐng)域中。先進(jìn)的聲學(xué)顯微成像的技術(shù)是諸多行業(yè)領(lǐng)域在各類樣品中檢查和尋找瑕疵的重要手段。在檢查材料又要保持完整的樣品時(shí)，這項(xiàng)非破壞性檢測技術(shù)的優(yōu)勢尤為突出。

  平面輪廓度和平面度是有質(zhì)的區(qū)別。如果是曲面就不會有求平面度，應(yīng)該是面輪廓度。就平面而言，面輪廓度和平面度也是有質(zhì)的區(qū)別：平面度不帶基準(zhǔn)，面輪廓度會會帶基準(zhǔn)，如果不帶基準(zhǔn)的面輪廓度，是表示自身變化在一個(gè)中心線的下負(fù)公差里偏移。平面度就是一個(gè)面上報(bào)有點(diǎn)在理論高度上的最大值和最小值點(diǎn)的總和。面輪廓度描述曲面尺寸準(zhǔn)確度的主要指標(biāo)為輪廓度誤差，它是指被測實(shí)際輪廓相對于理想輪廓的變動(dòng)情況。面輪廓度是限制實(shí)際曲面對理想曲面變動(dòng)量的一項(xiàng)指標(biāo)，它是對曲面的形狀精度要求。是實(shí)際被測要素（輪廓面線要素）對理想輪廓面的允許變動(dòng)。描述曲面尺寸準(zhǔn)確度的主要指標(biāo)為輪廓度誤差，它是指被測實(shí)際輪廓相對于理想輪廓的變動(dòng)情況。平面度是指基片具有的宏觀凹凸高度相對理想平面的偏差。

X射線能在無損檢驗(yàn)技術(shù)中得到廣泛應(yīng)用的主要原因是：它能穿透可見光不能穿透的物質(zhì)；它在物質(zhì)中具有衰減作用和衰減規(guī)律；它能對某些物質(zhì)發(fā)生光化學(xué)作用、電離作用和熒光現(xiàn)象。而且這些作用都將隨著X射線強(qiáng)度的增加而增加。X射線探傷是利用材料厚度不同對X射線吸收程度的差異，通過用X射線攝片法和工業(yè)電視實(shí)時(shí)成像，從軟片和成像上顯出材料、零部件及焊縫的內(nèi)部缺陷。如裂紋、縮孔、氣孔、夾渣、未溶合、未焊透等，確定位置和大小。根據(jù)觀察其缺陷的性質(zhì)、大小和部位來評定材料或制品的質(zhì)量，從而防止由于材料內(nèi)部缺陷、加工不良而引起的重大事故。

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無損檢測是指在不損害或不影響被檢測對象使用性能,不傷害被檢測對象內(nèi)部組織的前提下，利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異常或缺陷存在引起的熱、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化，以物理或化學(xué)方法為手段，借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材，對試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)及缺陷的類型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化進(jìn)行檢查和測試的方法 [1]  。無損檢測是工業(yè)發(fā)展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)國家的工業(yè)發(fā)展水平，無損檢測的重要性已得到公認(rèn)，主要有射線檢驗(yàn)（RT）、超聲檢測（UT）、磁粉檢測（MT）和液體滲透檢測（PT） 四種。其他無損檢測方法有渦流檢測（ECT）、聲發(fā)射檢測（AE）、熱像/紅外（TIR）、泄漏試驗(yàn)（LT）、交流場測量技術(shù)（ACFMT）、漏磁檢驗(yàn)（MFL）、遠(yuǎn)場測試檢測方法（RFT）、超聲波衍射時(shí)差法（TOFD）等。新則興公司成立十五年來一直聚焦于材料分析的細(xì)分領(lǐng)域，匯聚行業(yè)精英，不斷拓寬，加深產(chǎn)品及服務(wù)。清遠(yuǎn)專注無損檢測系列

新則興一直致力于成為客戶信賴的實(shí)驗(yàn)室整體解決方案提供商，代理國際有名品牌實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備?；葜莘€(wěn)定無損檢測應(yīng)用范圍

    CT是用X射線束對人體某部一定厚度的層面進(jìn)行掃描，由探測器接收透過該層面的X射線，轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姽夂?，由光電轉(zhuǎn)換變?yōu)殡娦盘?，再?jīng)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器（analog/digitalconverter）轉(zhuǎn)為數(shù)字，輸入計(jì)算機(jī)處理。圖像形成的處理有如對選定層面分成若干個(gè)體積相同的長方體，稱之為體素（voxel）。掃描所得信息經(jīng)計(jì)算而獲得每個(gè)體素的X射線衰減系數(shù)或吸收系數(shù)，再排列成矩陣，即數(shù)字矩陣（digitalmatrix），數(shù)字矩陣可存貯于磁盤或光盤中。經(jīng)數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器（digital/analogconverter）把數(shù)字矩陣中的每個(gè)數(shù)字轉(zhuǎn)為由黑到白不等灰度的小方塊，即像素（pixel），并按矩陣排列，即構(gòu)成CT圖像。所以，CT圖像是重建圖像。每個(gè)體素的X射線吸收系數(shù)可以通過不同的數(shù)學(xué)方法算出。 惠州穩(wěn)定無損檢測應(yīng)用范圍

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