檢測(cè)表面不連續(xù)性,如裂紋、氣孔及縫隙等。優(yōu)點(diǎn)對(duì)所有的材料都適用的。設(shè)備輕便,投資相對(duì)較少。探傷簡(jiǎn)便,結(jié)果易解釋。除光源需電源外,其它設(shè)備都不需電源,可直觀核對(duì)顯示。局限性由于涂料、污垢及涂覆金屬等表面層會(huì)掩蓋缺陷,孔隙表面的漏洞也能引起假顯示,探傷前后必須清潔工件。渦流檢測(cè)法(ET)渦流檢測(cè)是運(yùn)用電磁感應(yīng)原理，將載有正弦波電流的激勵(lì)線圈，接近金屬表面，線圈周?chē)慕蛔兇艌?chǎng)在金屬表面感應(yīng)出電流（渦流）。渦流又產(chǎn)生一個(gè)與原磁場(chǎng)方向相反，頻率相同的磁場(chǎng)，使得激勵(lì)線圈中的原磁場(chǎng)有部分的減小，從而引起線圈阻抗的變化。設(shè)備渦流探傷儀和標(biāo)準(zhǔn)試塊。用途檢測(cè)表面的不連續(xù)性(如裂紋、氣孔、未熔合等)和某些亞表面夾渣。優(yōu)點(diǎn)較經(jīng)濟(jì)、簡(jiǎn)便,可自動(dòng)探傷對(duì)準(zhǔn)工件,不需藕合,探頭不必接觸試件。 新則興科技為您提供無(wú)損檢測(cè)服務(wù)及設(shè)備咨詢。東莞質(zhì)量無(wú)損檢測(cè)性能

X射線物理特性：穿透作用。X射線因其波長(zhǎng)短，能量大，照在物質(zhì)上時(shí)，*一部分被物質(zhì)所吸收，大部分經(jīng)由原子間隙而透過(guò)，表現(xiàn)出很強(qiáng)的穿透能力。X射線穿透物質(zhì)的能力與X射線光子的能量有關(guān)，X射線的波長(zhǎng)越短，光子的能量越大，穿透力越強(qiáng)。X射線的穿透力也與物質(zhì)密度有關(guān)，利用差別吸收這種性質(zhì)可以把密度不同的物質(zhì)區(qū)分開(kāi)來(lái)；電離作用。物質(zhì)受X射線照射時(shí)，可使核外電子脫離原子軌道產(chǎn)生電離。利用電離電荷的多少可測(cè)定X射線的照射量，根據(jù)這個(gè)原理制成了X射線測(cè)量?jī)x器。在電離作用下，氣體能夠?qū)щ?；某些物質(zhì)可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng)；在有機(jī)體內(nèi)可以誘發(fā)各種生物效應(yīng)。汕頭優(yōu)zhi無(wú)損檢測(cè)系列射線檢測(cè)——傳統(tǒng)技術(shù)是：膠片射線照相（X 射線和伽馬射線）。

2020年5月16日，深圳市檢測(cè)設(shè)備專委會(huì)籌備會(huì)議在建恒控股汪董事長(zhǎng)的別墅成功召開(kāi)。此次會(huì)議就成立專委會(huì)與行業(yè)戴表性企業(yè)達(dá)成初步合作意向，并探討了專委會(huì)成立的相關(guān)規(guī)程，為專委會(huì)的正式成立奠定了良好的基礎(chǔ)。作為發(fā)起人之一，新則興公司總經(jīng)理劉紅祥為推動(dòng)會(huì)議成功召開(kāi)做了大量的前期準(zhǔn)備工作，新則興科技有限公司做為深圳市質(zhì)量檢驗(yàn)協(xié)會(huì)第七屆理事單位將繼續(xù)為檢測(cè)設(shè)備專委會(huì)的成立貢獻(xiàn)力量。

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通用組合水平式檢測(cè)干涉儀可用于計(jì)量檢測(cè)，光學(xué)鏡片檢測(cè)、光學(xué)組件檢測(cè)，手機(jī)背板和相機(jī)鏡頭檢測(cè)，半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)，LED襯底藍(lán)寶石檢測(cè)，安防鏡頭和車(chē)載鏡頭檢測(cè)，航空航天成像系統(tǒng)檢測(cè)，超精密機(jī)械件檢測(cè)，光學(xué)成像系統(tǒng)和衍射元件檢測(cè)，納米器件和MEMS檢測(cè)，科研和高等教學(xué)儀器等眾多領(lǐng)域。平面類（平面平晶、窗口玻璃、光學(xué)平面玻璃、金屬平面、陶瓷平面等）光滑表面面形測(cè)量、一次測(cè)量后可同時(shí)顯示多區(qū)域測(cè)量結(jié)果、光學(xué)平行度和材料均勻性的測(cè)量， 90°直角棱鏡和角錐測(cè)量；球面類（凸面、凹面、不同F(xiàn)數(shù)）光滑表面面形測(cè)量；柱面類（凸面、凹面、不同F(xiàn)數(shù)）光滑表面面形測(cè)量；非球面類（凸面、凹面）光滑表面面形測(cè)量； 光學(xué)組件和系統(tǒng)透射波前精度測(cè)量、光學(xué)系統(tǒng)的裝調(diào)和校準(zhǔn)等。

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現(xiàn)場(chǎng)高效球面檢測(cè)干涉儀（數(shù)字化相移分析系列）是一種高性能模塊化組合檢測(cè)干涉儀。它采用國(guó)內(nèi)外**的組合式激光干涉模塊作為重要部件，主要用于檢測(cè)高精度快速球面和曲率半徑球面面形。通過(guò)模塊化的設(shè)計(jì)理念，針對(duì)不同的光源、鏡頭口徑、成像方式，不僅在測(cè)量過(guò)程中拆卸方便，也可適用于多種被測(cè)面的測(cè)量，降低檢測(cè)成本。通過(guò)慧利儀器**軟件，可對(duì)被測(cè)對(duì)象實(shí)時(shí)采樣和分析，并形成2D和3D圖形。可用于光學(xué)鏡片檢測(cè)、光學(xué)組件檢測(cè)，相機(jī)鏡頭檢測(cè)，安防鏡頭和車(chē)載鏡頭檢測(cè)，航空航天成像系統(tǒng)檢測(cè)，超精密機(jī)械件檢測(cè)，科研和高等教學(xué)儀器等眾多領(lǐng)域。對(duì)人員的級(jí)別劃分上，全部都是分為1、2、3三個(gè)等級(jí)。攀枝花高性能無(wú)損檢測(cè)結(jié)構(gòu)

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  平面輪廓度和平面度是有質(zhì)的區(qū)別。如果是曲面就不會(huì)有求平面度，應(yīng)該是面輪廓度。就平面而言，面輪廓度和平面度也是有質(zhì)的區(qū)別：平面度不帶基準(zhǔn)，面輪廓度會(huì)會(huì)帶基準(zhǔn)，如果不帶基準(zhǔn)的面輪廓度，是表示自身變化在一個(gè)中心線的下負(fù)公差里偏移。平面度就是一個(gè)面上報(bào)有點(diǎn)在理論高度上的最大值和最小值點(diǎn)的總和。面輪廓度描述曲面尺寸準(zhǔn)確度的主要指標(biāo)為輪廓度誤差，它是指被測(cè)實(shí)際輪廓相對(duì)于理想輪廓的變動(dòng)情況。面輪廓度是限制實(shí)際曲面對(duì)理想曲面變動(dòng)量的一項(xiàng)指標(biāo)，它是對(duì)曲面的形狀精度要求。是實(shí)際被測(cè)要素（輪廓面線要素）對(duì)理想輪廓面的允許變動(dòng)。描述曲面尺寸準(zhǔn)確度的主要指標(biāo)為輪廓度誤差，它是指被測(cè)實(shí)際輪廓相對(duì)于理想輪廓的變動(dòng)情況。平面度是指基片具有的宏觀凹凸高度相對(duì)理想平面的偏差。東莞質(zhì)量無(wú)損檢測(cè)性能